Вышедшие номера
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия нанопленок иттербия с адсорбированным на их поверхности кислородом
Кузьмин М.В.1, Митцев М.А.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: m.kuzmin@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 10 марта 2022 г.
В окончательной редакции: 10 марта 2022 г.
Принята к печати: 12 марта 2022 г.
Выставление онлайн: 29 апреля 2022 г.

Впервые исследованы рентгеновские фотоэлектронные спектры пленок иттербия нанометровой толщины вместе с нанесенными на их поверхность слоями адсорбированных молекул кислорода. Обнаружено, что спектры содержат пики двух- и трехвалентного иттербия. Величина отношения интенсивности этих пиков возрастает при увеличении толщины пленок (размерный эффект). Показано, что указанные особенности фотоэлектронных спектров являются результатом формирования при ионизации 4f-уровня атомов Yb фотонами с энергией 1253.6 eV двух конечных состояний, соответствующих двух- и трехвалентному иттербию, тогда как при использовании фотонов с энергией 142 eV реализуется только одно из них - трехвалентное. Ключевые слова: иттербий, нанопленки, адсорбированные молекулы, электронное состояние, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.
  1. B. Yang, X. Lin, H.-J. Gao, N. Nilius, H.-J. Freund. J. Phys. Chem. C 114, 19, 8997 (2010)
  2. L. Zhu, L. Zhang, A.V. Virkar. J. Electrochem. Soc. 165, 3, F232 (2018)
  3. Z.-H. Qin, M. Lewandowski, Y.-N. Sun, S. Shaikhutdinov, H.-J. Freund. J. Phys.: Condens. Matter 21, 13, 134019 (2009)
  4. E.L. Wilson, Q. Chen, W.A. Brown, G. Thornton. J. Phys. Chem. C 111, 38, 14215 (2007)
  5. P. Jakob, A. Schlapka. Surf. Sci. 601, 17, 3556 (2007)
  6. F. Voigts, F. Bebensee, S. Dahle, K. Volgmann, W. Maus-Friedrichs. Surf. Sci. 603, 1, 40 (2009).
  7. Д.В. Бутурович, М.В. Кузьмин, М.В. Логинов, М.А. Митцев. ФТТ 57, 9, 1822 (2015)
  8. М.В. Кузьмин, М.А. Митцев. ЖТФ 89, 7, 1086 (2019)
  9. Л. Фелдман, Д. Майер. Основы анализа поверхности и тонких пленок. Пер с англ. Мир, М. (1989). 342 с
  10. М.В. Кузьмин, М.А. Митцев. ЖТФ 91, 7, 1189 (2021)
  11. М.В. Кузьмин, М.А. Митцев. ФТТ 53, 6, 1224 (2011)
  12. L.I. Johansson, J.W. Allen, I. Lindau, M.H. Hecht, S.B.M. Hagstrom. Phys. Rev. B 21, 4, 1408 (1980)
  13. Д.В. Бутурович, М.В. Кузьмин, М.А. Митцев. Письма в ЖТФ 38, 21, 22 (2012)
  14. D.A. Shirley. Phys. Rev. B 5, 12, 4709 (1972)
  15. Д. Бриггс, Дж.К. Ривьер. В сб.: Анализ поверхности методами Оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / Под ред. Д. Бриггса и М.П. Сиха. Мир, М. (1987). 600 с
  16. B. Johansson. Phys. Rev. B 19, 12, 6615 (1979).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.