Вышедшие номера
Влияние сильного статического электрического поля и нагрева на характеристики высокочастотного импеданса структур металл--сегнетоэлектрик--полупроводник
Russian Foundation for Basic Research, mk, 19-29-03042
Минобрнауки России, государственное задание, АААА-А19-119032890027-0
Белорусов Д.А. 1, Гольдман Е.И. 1, Чучева Г.В. 1
1Фрязинский филиал Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН, Фрязино, Россия
Email: gvc@ms.ire.rssi.ru
Поступила в редакцию: 31 января 2022 г.
В окончательной редакции: 1 февраля 2022 г.
Принята к печати: 2 февраля 2022 г.
Выставление онлайн: 21 февраля 2022 г.

Проведены исследования влияния нагрева и сильных полевых, но допробойных, воздействий на высокочастотные характеристики импеданса гетероэпитаксиальных структур Ni-Ba0.8Sr0.2TiO_3-pSi с толщиной сегнетоэлектрика 50 nm. Показано, что независимо от полярности полевого стресса, характеристики сдвигались в сторону положительного смещения, и ширина петель гистерезиса уменьшалась; уровни плато практически оставались неизменными. Нагрев до 121oC приводил к изменению уровней верхнего плато характеристик: для емкости он снижался, а для проводимости - поднимался; ветви на петле не просто сужались и сдвигались, а менялись местами по сравнению с исходной зависимостью (реверс петли). Данные результаты могут быть объяснены: при полевом воздействии - генерацией дополнительных электронных состояний, локализованных в буферном слое на границе раздела кремний - Ba1-xSrxTiO3, а при нагреве - возникновением эффектов запаздывания вследствие развития флуктуационных процессов, лежащих в основе размытия фазового перехода из сегнетоэлектрического в параэлектрическое состояние. Ключевые слова: высокочастотные полевые характеристики импеданса, полевой стресс, петли гистерезиса, генерация дополнительных локализованных электронных состояний, эффекты запаздывания, флуктуационные процессы, размытый фазовый переход.
  1. V.R. Mudinepalli, L. Feng, W.-C. Lin., B.S. Murty. J. Adv. Ceram. 4, 46 (2015)
  2. К.А. Воротилов, В.М. Мухортов, А.С. Сигов. Интегрированные сегнетоэлектрические устройств. / Под ред. А.С. Сигова. Энергоатомиздат, М. (2011). 175 с
  3. М.С. Иванов, М.С. Афанасьев. ФТТ 51, 7, 1259 (2009)
  4. Д.А. Киселев, М.С. Афанасьев, С.А. Левашов, Г.В. Чучева. ФТТ 57, 6, 1134 (2015)
  5. Е.И. Гольдман, А.Г. Ждан, Г.В. Чучева. ПТЭ 6, 110 (1997)
  6. J. Nissan-Cohen. Appl. Surf. Sci. 39, 1--4, 511 (1989)
  7. T.R. Oldham, F.B. McLean, H.E. Boesch, J.M. McCarrity. Semicond. Sci. Technol. 4, 12, 986 (1989)
  8. M.L. Reed. Semicond. Sci. Technol. 4, 12, 980 (1989)
  9. В.А. Гриценко. УФН 52, 9, 869 (2009)
  10. E.I. Goldman, G.V. Chucheva, D.A. Belorusov. Ceram. Int. 47, 15, 21248 (2021)
  11. Д.А. Белорусов, Е.И. Гольдман, Г.В. Чучева. ФТТ 63, 11, 1887 (2021)
  12. А.П. Леванюк, В.В. Осипов, А.С. Сигов, А.А. Собинин. ЖЭТФ, 76, 1, 345 (1979)
  13. А.П. Леванюк, Б.В. Мощинский, А.С. Сигов. ФТТ 23, 7, 2037 (1981)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.