Вышедшие номера
Спектроскопия потерь энергии отраженных электронов γ-Fe2O3
Паршин А.С.1, Михлин Ю.Л.2, Александрова Г.А.1
1Сибирский государственный университет науки и технологий им. М.Ф. Решетнева, Красноярск, Россия
2Институт химии и химической технологии СО РАН, ФИЦ КНЦ СО РАН, Красноярск, Россия
Email: aparshin@mail.ru, yumikh@icct.ru, agaltx-2002@yandex.ru
Поступила в редакцию: 23 марта 2021 г.
В окончательной редакции: 11 апреля 2021 г.
Принята к печати: 13 апреля 2021 г.
Выставление онлайн: 13 мая 2021 г.

Исследованы спектры потерь энергии отраженных электронов, полученные при энергии первичных электронов в диапазоне 200-3000 eV. Из этих экспериментальных спектров для каждой энергии первичных электронов вычислены спектры сечения неупругого рассеяния электронов как зависимости произведения средней длины неупругого пробега и дифференциального сечения неупругого рассеяния электронов от потерь энергии электронов. Анализ тонкой структуры потерь энергии отраженных электронов проведен разложением спектров сечения неупругого рассеяния электронов в области потерь энергии валентных электронов на элементарные пики. Установлена связь каждого из элементарных пиков с однократными и многократными потерями энергии на возбуждение объемных и поверхностных плазмонов и межзонных переходов электронов из валентной зоны в свободные состояния выше уровня Ферми. Анализ полученных результатов проведен на основе экспериментальных и теоретических литературных данных о зонной структуре γ-Fe2O3. Ключевые слова: электронная спектроскопия, сечение неупругого рассеяния, плазмон.
  1. R. Dronskowski. Adv. Func. Mater. 11, 1, 27 (2001)
  2. Q.A. Pankhurst, J. Connolly, S.K. Jones, J. Dobson. J. Phys. D 36, 13, R167 (2003)
  3. А.С. Паршин, Н.С. Чистяков. Изв. АН СССР. Неорган. материалы. 17, 2, 346 (1981)
  4. A.S. Parshin, B.E. Blekher, K.P. Polyakova. Int. J. Mod. Phys. B 7, 550 (1993)
  5. H. Raether. Excitation of Plasmons and Interband Transitions by Electrons, Springer (1980). 195 p
  6. R.F. Egerton. Electron Energy Loss Spectroscopy in the Electron Microscopy, 3nd ed. Springer (2011). 491 p
  7. C.R. Brundle, C.A. Evans, S. Wilson. Enciclopedia of Materials Characterization: Surfaces, Interfaces, Thin Films. Buttrworth-Heinemann (1992). P. 326
  8. А.С. Паршин, А.Ю. Игуменов, Ю.Л. Михлин, О.П. Пчеляков, В.С. Жигалов. ФТТ 58, 5, 881 (2016)
  9. А.С. Паршин, А.Ю Игуменов, Ю.Л. Михлин, О.П. Пчеляков, А.И. Никифоров, В.А. Тимофеев. ФТП 49, 4, 435 (2015)
  10. A.S. Parshin, A.Yu. Igumenov, Tu.L. Mikhlin, O.P. Pchelyakov, V.S. Zhigalov. IOP Conf. Ser.: Mater. Sci. Eng. 122, 1, 012025(7) (2016)
  11. H. Jin, S.K. Oh, H.J. Kang, S.W. LeeY, S. Lee, M.-H. Cho. Appl. Phys. Lett. 87, 21, 212902 (2005)
  12. M.L. Huang, Y.C. Chang, Y.H. Chang, T.D. Lin, J. Kwo, M. Hong. Appl. Phys. Lett., 94, 5, 052106 (2009)
  13. D. Tahir, E.K. Lee, S.K. Oh, T.T. Tham, H.J. Kang, H. Jin, S. Heo, J.C. Park, J.G. Chung, J.C. Lee. Appl. Phys. Lett. 94, 21, 212902 (2009)
  14. M.I. Litter, M.A. Blesa. J. Chem. 70, 9, 2502 (1992)
  15. R. Grau-Crespo, A.Y. Al-Baitai, I. Saadoune, N.H. De Leeuw. J. Phys.: Condens. Matter 22, 25, 255401 (2010)
  16. S. Tougaard, I. Chorkendorff. Phys. Rev. B, 35, 13, 6570 (1987)
  17. S. Tougaard. http:// www.quases.com
  18. Practical Surface Analysis: By Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy / Eds. D. Briggs, M.P. Seah. Wiley, Chichester (1983). 533 p
  19. S. Tougaard, J. Kraaer. Phys. Rev. B 43, 2, 1651 (1991)
  20. S. Tougaard. Surf. Interf Anal. 25, 3, 137 (1997)
  21. L.C. Feldman, J.W. Mayer. Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis, Elsevier Science, N.Y. (1986). 352 p.
  22. S. Tougaard, P. Sigmund. Phys. Rev. B 25, 7, 4452 (1992)
  23. S. Tanuma, C.J. Powell, D.R. Penn. Surf. Interf. Anal. 17, 13, 911 (1991)
  24. N.S. McIntyre, D.G. Zetaruk. Anal. Chem., 49, 11 (1977)
  25. T. Fujii, F.M.F. de Groot, G.A. Sawatzky, F.C. Voogt, T. Hibma, K. Okada. Phys. Rev. B 59, 4, 3195 (1999)
  26. L. Minati, V. Micheli, B. Rossi, C. Migliaresi, L. Dalbosco, G. Bao, S. Hou, G. Speranza. Appl. Surf. Sci. 257, 24, 10863 (2011)
  27. D. Flak, A. Braun, B.S. Mun M. Dobeli T. Graule, M. Rekas. Proc. Eng. 47, 257 (2012)
  28. T. Radu, C. Iacovita, D. Benea, R. Turcu. Appl. Surf. Sci. 405, 337 (2017)
  29. D.N.G. Krishna, C. Anushree, R.P. George. John Philip. Appl. Surf. Sci. 462, 932 (2018)
  30. Y.L. Bentarcurt M. Calatayud, J. Klapp, F. Ruette. Surf. Sci. 677, 239 (2018).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.