Вышедшие номера
О возможности изготовления мостиков YBCO с совершенной поверхностью, критической температурой более 88 K и плотностью критического тока до 5·106 A/cm2
Переводная версия: 10.1134/S106378342009019X
РФФИ, 20-08-01006
Мастеров Д.В. 1, Павлов С.А.1, Парафин А.Е.1, Скороходов Е.В.1
1Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
Email: masterov@ipmras.ru, parafin@ipmras.ru
Поступила в редакцию: 26 марта 2020 г.
В окончательной редакции: 26 марта 2020 г.
Принята к печати: 2 апреля 2020 г.
Выставление онлайн: 3 июня 2020 г.

При изготовлении структур YBCO традиционными методами, как правило, достигается некоторый компромисс, а именно, используются пленки с приемлемой морфологией, но с пониженными электрофизическими параметрами. В настоящей работе показано, что методом задающей маски могут быть получены мостики YBCO шириной до 4 μm с совершенной морфологией поверхности, т. е. свободные от дефектов, с плотностью критического тока Jc≥ 3·106 A/cm2 при температуре 77 K и критической температурой Tc≥ 88 K. Причем совершенная морфология поверхности мостиков, значения плотности критического тока и критической температуры сохраняются и после повторного (дополнительного) осаждения слоя YBCO на структуру с задающей маской. На основе результатов, полученных в серии из пятнадцати образцов, сделан вывод о том, что в отличие от электрофизических характеристик, для устойчивой реализации совершенной морфологии поверхности пленок YBCO недостаточно фиксации стандартных (основных) параметров ростового процесса. Ключевые слова: нано- и микроструктуры, дефекты, рост в локальных областях, YBCO.
  1. http://www.ceraco.de/hts-films
  2. R.I. Chakalova, T.J. Jackson, G. Passerieux, I.P. Jones, P. Mikheenko, C.M. Muirhead, C.N.W. Darlington. Phys. Rev. B 70, 214504 (2004)
  3. J.-C. Nie, M. Koyanagi, A. Shoji. Appl. Surf. Sci. 172, 207 (2001)
  4. A. Tsukamoto, E. Tsurukiri, Y. Soutome, K. Saitoh, I. Kurosawa, K. Takagi. Physica C 392, 1245 (2003)
  5. A.K. Jha, K. Matsumoto, T. Horide, S. Saini, P. Mele, A. Ichinose, Y. Yoshida, S. Awaji. J. Appl. Phys. 122, 093905 (2017)
  6. A. Xu, J. Jaroszynski, F. Kametani, D. Larbalestier. Appl. Phys. Lett. 106, 052603 (2015)
  7. L.S. Revin, A.L. Pankratov, D.V. Masterov, A.E. Parafin, S.A. Pavlov, A.V. Chiginev, E.V. Skorokhodov. IEEE Trans. Appl. Supercond. 28, 1100505 (2018)
  8. Д.В. Мастеров, С.А. Павлов, А.Е. Парафин, П.А. Юнин. Письма в ЖТФ 42, 82 (2016)
  9. Д.В. Мастеров, С.А. Павлов, А.Е. Парафин, Л.С. Ревин, А.Л. Панкратов. Патент РФ на полезную модель N 188983
  10. Д.В. Мастеров, С.А. Павлов, А.Е. Парафин, П.А. Юнин. Возможности метода задающей маски для исследования характеристик планарных ВТСП-структур в зависимости от толщины сверхпроводящей пленки. ЖТФ. В печати

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.