Вышедшие номера
Возможности характеризации кристаллических параметров структур CdxHg1-xTe на подложке из GaAs методом генерации на отражение второй гармоники зондирующего излучения
Переводная версия: 10.1134/S1063783420020201
the Russian Fund for Fundamental Research, 18-29-20053
the Russian Ministry of Science , AAAA-A17-117121270018-3
Ступак М.Ф.1,2, Михайлов Н.Н.2,3, Дворецкий С.А.3,4, Якушев М.В.3, Икусов Д.Г.3, Макаров С.Н.1, Елесин А.Г.1, Верхогляд А.Г.1
1Конструкторско-технологический институт научного приборостроения СО РАН, Новосибирск, Россия
2Новосибирский государственный университет, Новосибирск, Россия
3Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
4Национальный исследовательский Томский государственный университет, Томск, Россия
Email: stupak@tdisie.nsc.ru
Поступила в редакцию: 25 сентября 2019 г.
Выставление онлайн: 20 января 2020 г.

Представлены сравнительные результаты численного моделирования и эксперимента при регистрации азимутальных угловых зависимостей сигнала второй гармоники, отраженной от структур CdxHg1-xTe и подложек GaAs, при нормальном падении на образец зондирующего лазерного излучения и азимутальном вращении плоскости его поляризации. По результатам исследования подложек (013) GaAs и буферных слоев CdTe|ZnTe|GaAs выявлено, что отклонения от ориентации поверхности (013) по кристаллофизическим углам Theta и φ составили 1-3o у подложек GaAs и до 8o у буферных слоев CdTe|ZnTe|GaAs, причем величину сигнала второй гармоники от буферных слоев можно считать обратно пропорциональной ширине рентгеновских кривых качания на половине максимума. На основе экспериментальных данных показано, что компоненты тензора нелинейной восприимчивости chixyz(omega) кристаллической структуры CdxHg1-xTe существенно превосходят по величине аналогичные компоненты тензора в CdTe и GaAs. Ключевые слова: нецентросимметричные кристаллы класса сфалерита, вторая гармоника, азимутальные угловые зависимости, подложки GaAs, структуры CdxHg1-xTe.