Вышедшие номера
Структурные и термоэлектрические свойства оптически прозрачных тонких пленок на основе одностенных углеродных нанотрубок
Переводная версия: 10.1134/S1063783418120296
Российский научный фонд, «Проведение инициативных исследований молодыми учеными» Президентская программа исследовательских проектов, реализуемых ведущими учеными, в том числе молодыми учеными, № 17-72-10079
Тамбасов И.А.1, Воронин А.С.2, Евсевская Н.П.3, Волочаев М.Н.1,4, Фадеев Ю.В.2, Крылов А.С.1, Александровский А.С.1,5, Лукьяненко А.В.1,5, Абелян С.Р.1, Тамбасова Е.В.4
1Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия
2Красноярский научный центр, ФИЦ КНЦ СО РАН, Красноярск, Россия
3Институт химии и химической технологии СО РАН, ФИЦ КНЦ СО РАН, Красноярск, Россия
4Сибирский государственный университет науки и технологий им. М.Ф. Решетнева, Красноярск, Россия
5Сибирский федеральный университет, Красноярск, Россия
Email: tambasov_igor@mail.ru
Поступила в редакцию: 2 апреля 2018 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2018 г.

Тонкие пленки различной толщины из коммерчески доступных одностенных углеродных нанотрубок (ОУНТ) были изготовлены с помощью спрей-метода. Толщина ОУНТ-пленок была от ~10 до ~ 80 nm. Диаметр ОУНТ был в диапазоне значений 1.6-1.8 nm. Было установлено, что существуют ОУНТ с длиной более 10 mum. Оптимальная толщина тонкой ОУНТ-пленки была ~ 15 nm при которой пропускание было более 85%. Удельное сопротивление тонких ОУНТ-пленок было от ~1.5·10-3 до ~ 3·10-3 Ohm · cm при комнатной температуре. Впервые были исследованы температурные зависимости коэффициента Зеебека и поверхностного сопротивления для данного типа ОУНТ. Было обнаружено, что поверхностное сопротивление возрастает при увеличении температуры. Исследования показали, что тонкие ОУНТ-пленки имели слабую зависимость коэффициента Зеебека от температуры. Все образцы имели значение коэффициента Зеебека ~ 40 muV/K. Тонкие пленки показывали дырочный тип проводимости согласно знаку коэффициента Зеебека. Обнаружено, что фактор мощности 15 nm тонкой ОУНТ-пленки снижается при повышении температуры примерно до 140oC с ~ 120 до ~ 60 muW · m-1·K-2. При дальнейшем увеличении температуры фактор мощности начинал увеличиваться. Исследование выполнено за счет гранта Российского научного фонда (проект N 17-72-10079).
  1. N. Toshima. Synthetic Met. 225, 3 (2017)
  2. G.J. Snyder, E.S. Toberer. Nature Mater. 7, 105 (2008)
  3. X. Mu, H.Y. Zhou, D.Q. He, W.Y. Zhao, P. Wei, W.T. Zhu, X.L. Nie, H.J. Liu, Q.J. Zhang. Nano Energy 33, 55 (2017)
  4. D. Madan, Z.Q. Wang, P.K. Wright, J.W. Evans. Appl Energ. 156, 587 (2015)
  5. Y.N. Chen, Y. Zhao, Z.Q. Liang. Energ Environ Sci. 8, 401 (2015)
  6. J.F. Li, W.S. Liu, L.D. Zhao, M. Zhou. Npg Asia Mater. 2, 152 (2010)
  7. J. He, T.M. Tritt. Science 357, 1369 (2017)
  8. X.L. Su, P. Wei, H. Li, W. Liu, Y.G. Yan, P. Li, C.Q. Su, C.J. Xie, W.Y. Zhao, P.C. Zhai, Q.J. Zhang, X.F. Tang, C. Uher. Adv. Mater. 29, 1602013 (2017)
  9. S. Ortega, M. Ibanez, Y. Liu, Y. Zhang, M.V. Kovalenko, D. Cadavid, A. Cabot. Chem. Soc. Rev. 46, 3510 (2017)
  10. L.D. Hicks, M.S. Dresselhaus. Phys. Rev. B 47, 12727 (1993)
  11. K. Yanagi, S. Kanda, Y. Oshima, Y. Kitamura, H. Kawai, T. Yamamoto, T. Takenobu, Y. Nakai, Y. Maniwa. Nano Lett. 14, 6437 (2014)
  12. Y. Nakai, K. Honda, K. Yanagi, H. Kataura, T. Kato, T. Yamamoto, Y. Maniwa. Appl. Phys. Exp. 7, 025103 (2014)
  13. A.P. Tsapenko, A.E. Goldt, E. Shulga, Z.I. Popov, K.I. Maslakov, A.S. Anisimov, P.B. Sorokin, A.G. Nasibulin. Carbon 130, 448 (2018)
  14. C. Yang, D. Souchay, M. Kneiss, M. Bogner, M. Wei, M. Lorenz, O. Oeckler, G. Benstetter, Y.Q. Fu, M. Grundmann. Nature Commun. 8, 16076 (2017)
  15. I.A. Tambasov, A.S. Tarasov, M.N. Volochaev, M.V. Rautskii, V.G. Myagkov, L.E. Bykova, V.S. Zhigalov, A.A. Matsynin, E.V. Tambasova. Physica E 84, 162 (2016)
  16. V.G. Myagkov, L.E. Bykova, A.A. Matsynin, M.N. Volochaev, V.S. Zhigalov, I.A. Tambasov, Y.L. Mikhlin, D.A. Velikanov, G.N. Bondarenko. J. Solid State Chem. 246, 379 (2017)
  17. M.S. Dresselhaus, G. Dresselhaus, A. Jorio, A.G. Souza, R. Saito. Carbon 40, 2043 (2002)
  18. T. Belin, F. Epron. Mater. Sci. Eng. B 119, 105 (2005)
  19. M.S. Dresselhaus, A. Jorio, M. Hofmann, G. Dresselhaus, R. Saito. Nano Lett. 10, 751 (2010)
  20. M.S. Dresselhaus, P.C. Eklund. Adv. Phys. 49, 705 (2000)
  21. L. Henrard, V.N. Popov, A. Rubio. Phys. Rev. B 64, 205403 (2001)
  22. J. Maultzsch, H. Telg, S. Reich, C. Thomsen. Phys. Rev. B 72, 205438 (2005)
  23. A. Chortos, I. Pochorovski, P. Lin, G. Pitner, X.Z. Yan, T.Z. Gao, J.W.F. To, T. Lei, J.W. Will, H.S.P. Wong, Z.N. Bao. Acs Nano 11, 5660 (2017)
  24. V.M. Irurzun, M.P. Ruiz, D.E. Resasco. Carbon 48, 2873 (2010)
  25. A.A. Ivanenko, I.A. Tambasov, A.A. Pshenichnaia, N.P. Shestakov. Opt. Mater. 73, 388 (2017)
  26. B.B. Parekh, G. Fanchini, G. Eda, M. Chhowalla. Appl. Phys. Lett. 90, 121913 (2007)
  27. D. Kim, H.C. Lee, J.Y. Woo, C.S. Han. J. Phys. Chem. C 114, 5817 (2010)
  28. P.S. Na, H.J. Kim, H.M. So, K.J. Kong, H.J. Chang, B.H. Ryu, Y.M. Choi, J.O. Lee, B.K. Kim, J.J. Kim, J.H. Kim. Appl. Phys. Lett. 87, 093101 (2005)
  29. P.G. Collins, K. Bradley, M. Ishigami, A. Zettl. Science 287, 1801 (2000)
  30. A. Zahab, L. Spina, P. Poncharal, C. Marliere. Phys. Rev. B 62, 10000 (2000)
  31. J.L. Blackburn, A.J. Ferguson, C. Cho, J.C. Grunlan. Adv. Mater. 30, 1704386 (2018)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.