Издателям
Вышедшие номера
Влияние размера частиц и удельной поверхности на определение плотности нанокристаллических порошков сульфида серебра Ag2S
Переводная версия: 10.1134/S106378341805027X
Российский научный фонд (РНФ), 14-23-00025
Садовников С.И.1, Гусев А.И.1
1Институт химии твердого тела Уральского oтделения Российской академии наук, Екатеринбург, Россия
Email: sadovnikov@ihim.uran.ru, gusev@ihim.uran.ru
Поступила в редакцию: 7 ноября 2017 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 2018 г.

Изучено влияние размера частиц и удельной поверхности порошков сульфида серебра на их плотность, измеренную методом гелиевой пикнометрии. Порошки с разным средним размером частиц получены методом гидрохимического осаждения. Размер частиц в порошках сульфида серебра оценен методом Брунауэра- Эммета-Теллера по изотермам адсорбции молекулярного азота, а для тонкодисперсных порошков также методом рентгеновской дифракции по уширению дифракционных отражений. Показано, что плотность тонкодисперсных порошков, измеренная методом гелиевой пикнометрии, занижена по сравнению с истинной плотностью вследствие адсорбции гелия высокоразвитой поверхностью таких порошков.
  • S.I. Sadovnikov, A.A. Rempel, A.I. Gusev. Nanostructured Lead, Cadmium and Silver Sulfides: Structure, Nonstoichiometry and Properties. Springer Intern. Publ. AG, Cham-Heidelberg, 2018. 317 p
  • A. Tang, Yu. Wang, H. Ye, C. Zhou, C. Yang, X. Li, H. Peng, F. Zhang, Y. Hou, F. Teng. Nanotechnology 24, 35, 355602 (2013)
  • C. Cui, X. Li, J. Liu., Y. Hou, Y. Zhao, G. Zhong. Nanoscale Res. Lett. 10, 431 (2015)
  • W.L. Ong, G.W. Ho. Pros. Eng. 141, 7 (2016)
  • X. Ning Li, X.C. Yang, S.S. Han, W. Lu, J. Wei, H.Y. Liu. Chin. Sci. Bull. 56, 17, 1828-1831 (2011)
  • W.L. Ong, Y.-F. Lim, J.L.T. Ong, G.W. Ho. J. Mater. Chem A 3, 14, 6509 (2015)
  • T.D. Shen, J.-Z. Zhang, Y. Zhao. Acta Mater. 56, 14, 3663 (2008)
  • S.I. Sadovnikov, A.I. Gusev, A.A. Rempel. Phys. Chem. Chem. Phys. 17, 19, 12466 (2015)
  • X'Pert Plus Version 1.0. Program for Crystallography and Rietveld analysis Philips Analytical B. V. Koninklijke Philips Electronics N. V
  • A.I. Gusev, A.A. Rempel. Nanocrystalline Materials. Cambridge Intern. Science Publ. Cambridge (2004). 351 p
  • Diffraction Analysis of the Microstructure of Materials / Eds E.J. Mittemeijer, P. Scardi. Springer, Berlin (2004). 553 p
  • S.I. Sadovnikov, A.I. Gusev. J. Mater. Chem. A 5, 38, 20289 (2017)
  • А.С. Курлов, А.И. Гусев. ФТТ 58, 8, 1629 (2016)
  • А.П. Карнаухов. Адсорбция. Текстура дисперсных и пористых материалов. Новосибирск: Наука, 1999. 470 с
  • C.-H. Choi, U. Ulmanella, J. Kim, C.M. Ho, C.-J. Kim. Phys. Fluids 18, 8, 087105 (2006)
  • A.M.J. Davis, E. Lauga. J Fluid Mech. 661, 402 (2010)
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.