Издателям
Вышедшие номера
Моделирование атомной и электронной структуры вакансий и поливакансий кислорода в ZrO2
Переводная версия: 10.1134/S106378341803023X
Перевалов T.B.1,2
1Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
2Новосибирский государственный университет, Новосибирск, Россия
Email: timson@isp.nsc.ru
Выставление онлайн: 17 февраля 2018 г.

С использованием квантово-химического моделирования атомной и электронной структуры исследуется оксид циркония в кубической, тетрагональной и моноклинной фазах с вакансиями и поливакансиями кислорода. Показано, что вакансия кислорода в ZrO2 может выступать в качестве и электронной, и дырочной ловушки. Электрон, добавленный в структуру ZrO2 с вакансией кислорода, распределяется между двумя ближайшими друг к другу атомами Zr и имеет характер связующей орбитали. Для каждой последующей вакансии O выгодно формирование вблизи уже существующих, причeм с одним атомом Zr связанo не более двух атомов O, подвергающихся удалению. Уровни дефектов от поливакансий кислорода распределяются в запрещенной зоне с преимущественной локализацией вблизи уровня моновакансии кислорода. Работа выполнена при поддержке РФФИ, грант N 16-32-00119 мол_а. Моделирование осуществлялось на вычислительном кластере Института физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН. DOI: 10.21883/FTT.2018.03.45537.03D
  • X.D. Huang, R.P. Shi, P.T. Lai. Appl. Phys. Lett. 104, 162905 (2014)
  • C.H. Lai, H.W. Chen, C.Y. Liu. Materials 9, 551 (2016)
  • I. Karkkanen, A. Shkabko, M. Heikkila, J. Niinisto, M. Ritala, M. Leskela, S. Hoffmann-Eifert, R. Waser. Phys. Status Solidi A 211, 301 (2014)
  • A.S. Foster, V.B. Sulimov, F.L. Gejo, A.L. Shluger, R.M. Nieminen. Phys. Rev. B 64, 224108 (2001)
  • J.X. Zheng, G. Ceder, T. Maxisch, W.K. Chim, W.K. Choi. Phys. Rev. B 75, 104112 (2007)
  • C. Arhammar, C.M. Araujo, R. Ahuja. Phys. Rev. B, 80 115208 (2009)
  • P.J. Shen, S.P. Jiang, K.P. Ong, W.Z. Ding, P.L. Mao, X.G. Lu, C.H. Li, P. Wu. J. Alloys Compd. 506, 898 (2010)
  • J.L. Lyons, A. Janotti, C.G. Van de Walle. Microelectron. Eng. 88, 1452 (2011)
  • C. Gionco, M.C. Paganini, E. Giamello, R. Burgess, C. Di Valentin, G. Pacchioni. Chem Mater. 25, 2243 (2013)
  • J.P. Holgado, J.P. Espinos, F. Yubero, A. Justo, M. Ocana, J. Benitez, A.R. Gonzalez-Elipe. Thin Solid Films 389, 34 (2001)
  • D. Munoz Ramo, J.L. Gavartin, A.L. Shluger, G. Bersuker. Rev. B 75, 205336 (2007)
  • R.H. French, S.J. Glass, F.S. Ohuchi, Y.N. Xu, W.Y. Ching. Phys. Rev. B 49, 5133 (1994)
  • G. Jegert, A. Kersch, W. Weinreich, U. Schroder, P. Lugli. Appl. Phys. Lett. 96, 062113 (2010)
  • V.A. Gritsenko, T.V. Perevalov, D.R. Islamov. Phys. Rep. 613, 1 (2016)
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.