Издателям
Вышедшие номера
Электронная структура зоны проводимости пограничной области сверхтонких пленок замещенных перилен-дикарбоксимидов и поверхности оксида германия
СПбГУ, 11.38.219.2014
Российский фонд фундаментальных исследований (РФФИ), 14-03-00087
Российский фонд фундаментальных исследований (РФФИ), 15-29-05786
Комолов А.С. 1, Лазнева Э.Ф. 1, Герасимова Н.Б. 1, Панина Ю.А. 1, Барамыгин А.В. 1, Пшеничнюк С.А. 2,1
1Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия
2Институт физики молекул и кристаллов Уфимского научного центра РАН, Уфа, Россия
Email: a.komolov@spbu.ru
Поступила в редакцию: 3 марта 2016 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2016 г.

Приведены результаты исследования электронной структуры зоны проводимости и пограничного потенциального барьера в процессе формирования интерфейсов сверхтонких пленок диоктил-замещенного перилен-дикарбоксимида (PTCDI-С8) и дифенил-замещенного перилен-дикарбоксимида (PTCDI-Ph) с поверхностью окисленного германия. Экспериментальные результаты получены методом регистрации отражения от поверхности тестирующего пучка низкоэнергетических электронов (very low energy electron diffraction, VLEED) в режиме спектроскопии полного тока (СПТ) в энергетическом диапазоне от 5 до 20 eV выше EF. Расположение максимумов тонкой структуры спектров полного тока (ТССПТ) пленок PTCDI-С8 и PTCDI-Ph существенно различается в энергетическом диапазоне от 9 до 20 eV выше EF, что следует связывать с различием заместителей в выбранных молекулах, диоктил- и дифенил- соответственно. Вместе с этим расположение низкоэнергетических максимумов ТССПТ при энергии 6-7 eV выше EF для случаев пленок PTCDI-С8 и PTCDI-Ph практически совпадает. Сделано предположение, что эти максимумы обусловлены электронными состояниями периленового остова исследованных молекул. Проведен анализ процесса формирования пограничных потенциальных барьеров пленок PTCDI-С8 и PTCDI-Ph с поверхностью окисленного германия, и обнаружено, что значения работы выхода поверхности, Evac-EF, мало отличаются от 4.6±0.1 eV во всем диапазоне толщин органических покрытий от 0 до 6 nm. Работа выполнена при поддержке научного гранта СПбГУ 11.38.219.2014, РФФИ (14-03-00087 и 15-29-05786). В работе использовали оборудование научного парка СПбГУ "Физические методы исследования поверхности".
  • M. Gruenewald, L.K. Schirra, P. Winget, M. Kozlik, P.F. Ndione, A.K. Sigdel, J.J. Berry, R. Forker, J.-L. Bredas, T. Fritz, O.L.A. Monti. J. Phys. Chem. C 119, 4865 (2015)
  • A.V. Mumyatov, L.I. Leshanskaya, D.V. Anokhin, N.N. Dremova, P.A. Troshin. Mendeleev Commun. 24, 306 (2014)
  • L.-N. Nguyen, S.K. Pradhan, C.-N. Yen, M.-C. Lin, C.-H. Chen, C.S. Wu, K.-S. Chang-Liao, M.-T. Lin, C.-D. Chen. Appl. Phys. Lett. 103, 183 301 (2013)
  • И.А. Аверин, А.А. Карманов, В.А. Мошников, И.А. Пронин, С.Е. Игошина, А.П. Сигаев, Е.И. Теруков. ФТТ 12, 2304 (2015)
  • A.A. Ahmad Zebari, M. Kolmer, J.S. Prauzner-Bechcicki. Appl. Surf. Sci. 332, 403 (2015)
  • А.С. Комолов. ЖТФ 74/5, 113 (2004)
  • P.A. Troshin, D.K. Susarova, E.A. Khakina, A.A. Goryachev, O.V. Borshchev, S.A. Ponomarenko, V.F. Razumov, N. Serdar Sariciftci. J. Mater. Chem. 22, 18 433 (2012)
  • J.-L. Bredas, A.J. Heeger. Chem. Phys. Lett. 217, 507 (1994)
  • N. Hiroshiba, R. Hayakawa, T. Chikyow. Phys. Chem. Chem. Phys. 13, 6280 (2011)
  • F. Wurthner, C. Thalacker, S. Diele, C. Thalacker. Chem. Eur. J. 7, 10, 2245 (2001)
  • J. Taborski, P. Vaterlein, U. Zimmermann, E. Umbach. J. Electr. Spec. Rel. Phen. 75, 129 (1995)
  • A.S. Komolov, P.J. M ller, J. Mortensen, S.A. Komolov, E.F. Lazneva. Appl. Surf. Sci. 253, 7376 (2007)
  • А.С. Комолов, Э.Ф. Лазнева, Н.Б. Герасимова, Ю.А. Панина, А.В. Барамыгин, А.Д. Овсянников. ФТТ 57, 1445 (2015)
  • А.С. Комолов, Э.Ф. Лазнева, Н.Б. Герасимова, Ю.А. Панина, А.В. Барамыгин, Г.Д. Зашихин, С.А. Пшеничнюк. ФТТ 58, 367 (2016)
  • A.S. Komolov, E.F. Lazneva, S.N. Akhremtchik, N.S. Chepilko, A.A. Gavrikov. J. Phys. Chem. C 117, 24, 12 633 (2013)
  • D. Bodlaki, H. Yamamoto, D.H. Waldeck, E. Borguet. Surf. Sci. 543, 63 (2003)
  • J.F. Moulder, W.F. Stickle, P.E. Sobol, K. Bomben. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscope. 2nd ed. / Ed. J. Chastain. Eden Prairie: Perkin-Elmer Corporation (Physical Electronics) (1992)
  • S. Heutz, A.J. Ferguson, G. Rumbles, T.S. Jones. Organic Electr. 3, 119 (2002)
  • A.S. Komolov, E.F. Lazneva, S.N. Akhremtchik. App. Surf. Sci. 256, 2419 (2010)
  • С.А. Пшеничнюк, А.В. Кухто, И.Н. Кухто, А.С. Комолов. ЖТФ 81, 6, 8 (2011)
  • I. Bartos. Progr. Surf. Sci. 59, 197 (1998)
  • S.A. Pshenichnyuk, A.S. Komolov. J. Phys. Chem. A 116, 1, 761 (2012)
  • I.G. Hill, J. Schwartz, A. Kahn. Organic Electr. 1, 5 (2000)
  • A.S. Komolov, P.J. M ller, Y.G. Aliaev, S.N. Akhremtchik, K. Schaumburg. J. Mol. Struct. 744- 747, 145 (2005)
  • L. Grzadziel, M. Krzywiecki, H. Peisert, T. Chasse, J. Szuber. Organic Electron. 13, 10, 1873 (2012)
  • S. Braun, W. Salaneck, M. Fahlman. Adv. Mater. 21, 1450 (2009).
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.