Вышедшие номера
Сравнительный анализ спектров характеристических потерь энергии электронов и спектров сечения неупругого рассеяния в Fe
Паршин А.С.1, Игуменов А.Ю.1, Михлин Ю.Л.2, Пчеляков О.П.1,3, Жигалов В.С.4,1
1Сибирский государственный аэрокосмический университет им. академика М.Ф. Решетнева, Красноярск, Россия
2Институт химии и химической технологии СО РАН, Красноярск, Россия
3Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
4Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия
Email: aparshin2010@mail.ru
Поступила в редакцию: 15 июля 2015 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 2016 г.

Спектры сечения неупругого рассеяния электронов Fe рассчитаны на основе экспериментальных спектров характеристических потерь энергии отраженных электронов как зависимости произведения средней длины неупругого пробега и дифференциального сечения неупругого рассеяния электронов от потерь энергии электронов. Показано, что спектры сечения неупругого рассеяния электронов имеют определенные преимущества в исследовании процессов взаимодействия электронов с веществом по сравнению со спектрами потерь энергии электронов. Энергии пиков потерь в спектрах характеристических потерь энергии электронов и спектрах сечения неупругого рассеяния электронов определены по интегральным и дифференциальным спектрам. Показано, что энергия объемного плазмона практически не зависит от энергии первичных электронов в спектрах характеристических потерь энергии электронов и монотонно возрастает при увеличении энергии первичных электронов в спектрах сечения неупругого рассеяния электронов. Изменение энергии максимума спектров сечения неупругого рассеяния электронов вызвано перераспределением интенсивностей между пиками потерь на возбуждения разной природы. Для анализа спектров сечения неупругого рассеяния электронов применен метод разложения спектров на пики потерь. Этот метод использован для количественной оценки вкладов различных процессов потерь в спектры сечения неупругого рассеяния электронов Fe и определения природы пиков потерь.
  1. N.G. Galkin, D.L. Goroshko, E.A. Chusovitin, K.N. Galkin, S.A. Dotsenko. Phys. Status Solidi C 10, 12, 1670 (2013)
  2. Y. Maeda, Y. Terai. Int. Meeting for Future of Electron Devices, Kansai (IMFEDK-2004). IEEE (2004). P. 67
  3. H. Tokushige, T. Endo, K. Hiidome, K. Saiki, S. Kitamura, T. Katsuyama, N. Ikeda, Y. Sugimoto, Y. Maeda. Jpn. J. Appl. Phys. 54, 07JB03 (2015)
  4. H. Jin, H. Yoshikawa, H. Iwai, S. Tanuma, S. Tougaard. J. Surf. Analys. 15, 3, 321 (2009)
  5. H. Jin, H. Shinotsuka, H. Yoshikawa, H. Iwai, S. Tanuma, S. Tougaard. J. Appl. Phys. 107, 083 709 (2010)
  6. H. Jin, H. Shinotsuka, H. Yoshikawa, H. Iwai, M. Arai, S. Tanuma, S. Tougaard. Surf. Interface Analys. 45, 6, 985 (2013)
  7. А.С. Паршин, О.П. Пчеляков, А.Е. Долбак, Б.З. Ольшанецкий. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования 6, 5 (2013)
  8. А.С. Паршин, Г.А. Александрова, А.Е. Долбак, О.П. Пчеляков, Б.З. Ольшанецкий, С.Г. Овчинников, С.А. Кущенков. Письма в ЖТФ 34, 9, 41 (2008)
  9. А.С. Паршин, С.А. Кущенков, Г.А. Александрова, С.Г. Овчинников. ЖТФ 81, 5, 69 (2011)
  10. A.C. Паршин, Е.П. Пьяновская, О.П. Пчеляков, Ю.Л. Михлин, А.И. Никифоров, B.A. Тимофеев, М.Ю. Есин. ФТП 48, 2, 237 (2014)
  11. А.С. Паршин, С.А. Кущенков, О.П. Пчеляков, Ю.Л. Михлин, Т. Хасанов. Автометрия 48, 4, 88 (2012)
  12. А.С. Паршин, А.Ю. Игуменов, Ю.Л. Михлин, О.П. Пчеляков, А.И. Никифоров, В.А. Тимофеев. ФТП 49, 4, 435 (2015)
  13. А.Ю. Игуменов, А.С. Паршин, Ю.Л. Михлин, О.П. Пчеляков, А.И. Никифоров, В.А. Тимофеев. Вестн. СибГАУ 56, 4, 230 (2014)
  14. B. Egert, G. Panzner. Phys. Rev. B 29, 4, 2091 (1984)
  15. Y. Sakisaka, T. Myano, M. Onchi. Phys. Rev. B 30, 12, 6849 (1984)
  16. E. Colavita, M. de Crescenzi, L. Papagno, R. Scarmozzino, L.S. Caputi, R. Rosei, E. Tosatti. Phys. Rev. B 25, 4, 2490 (1982)
  17. B. Egert, G. Panzner. J. Phys. F 11, L233 (1981)
  18. В.Г. Лифшиц, Ю.В. Луняков. Спектры ХПЭЭ поверхностных фаз на кремнии. Дальнаука, Владивосток (2004). С. 142
  19. C. Colliex, T. Manoubi, C. Ortis. Phys. Rev. B 44, 20, 11 402 (1991)
  20. L.C. Feldman, J.W. Mayer. Fundamentals of Surface and thin film analysis. Elsevier Science, N.Y. (1986). 352 p
  21. S. Tougaard. http:// www.quases.com
  22. S. Tougaard, I. Chorkendorff. Phys. Rev. B 35, 13, 6570 (1987)
  23. S. Tougaard. Surf. Interface Analys. 25, 3, 137 (1997)
  24. S. Tougaard, J. Kraaer. Phys. Rev. B 43, 2, 1651 (1991)
  25. G. Gergely, M. Menyhard, S. Gurban, A. Sulyok, J. Toth, D. Varga, S. Tougaard. Solid State Ion. 141-- 142, 47 (2001)
  26. G. Gergely. Prog. Surf. Sci. 71, 31, 1 (2002)
  27. G.T. Orosz, G. Gergely, S. Gurban, M. Menyhard, J. Toth, D. Varga, S. Tougaard. Vacuum 71, 147 (2003)
  28. S. Tougaard. Surf. Interface Analys. 11, 9, 453 (1988)
  29. H. Raether. Surface plasmons on smooth and rough surfaces and on gratings. Springer (1988). 196 p

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.