Издателям
Вышедшие номера
Электронно-микроскопическое исследование поверхностного слоя сплава алюминий-кремний после лазерного легирования карбидом вольфрама
Сорокин Л.М.1, Ефименко Л.П.2, Калмыков А.Е.1, Смолин Ю.И.2
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Институт химии силикатов им. И.В. Гребенщикова Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 13 октября 2003 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 2004 г.

Методом просвечивающей электронной микроскопии исследована структура поверхностного слоя сплава состава Al --- mass.7% Si подвергнутого лазерному легированию. Обнаружено, что основной объем исследуемого слоя составляет алюминиевая матрица, имеющая жгутоподобную структуру. Зафиксировано появление новых фаз, выяснен их состав, форма и пространственное расположение. Работа выполнена при частичной поддержке Научной программы Санкт-Петербургского научного центра РАН-2003 и Российского фонда фундаментальных исследований (грант N 03-07-90108).
  • А.Г. Григорьянц, А.Н. Сафонов. Методы поверхностной лазерной обработки. Высшая шк., М. (1987)
  • N.B. Dahotre, M.H. McCay, T.D. McCay, M.M. Kim. J. Mater. Sci. 27, 6426 (1992).
  • S. Nayak, Laura Riester, Harry M. Meyer III, Narendra B. Dahotre. J. Mater. Res. 18, 4, 833 (2003)
  • N.B. Dahotre, T.D. McCay, M.H. McCay. J. Appl. Phys. 65, 12, 5072 (1989)
  • N.B. Dahotre, M.H. McCay, T.D. McCay. J. Mater. Res. 6, 3, 514 (1991)
  • A. Baidullaeva, E.F. Venger, A.I. Vlasenko, A.V. Lomovtsev, P.E. Mozol'. Semiconductors 36, 7, 747 (2002)
  • V.Yu. Fominski, R.I. Romanov, I. Smurov, A.L. Smirnov. J. Appl. Phys. 93, 5989 (2003)
  • D.E. Person, S. Jacobson, S. Hogmark. J. Laser Appl. 15, 115 (2003)
  • Прямые методы исследования дефектов в кристаллах / Пер. с англ. под ред. А.М. Елистратова. Мир, М. (1965). 351 с
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.