Издателям
Вышедшие номера
Прохождение электронов низких энергий через ультратонкие слои оксида фталоцианина олова
Комолов А.С.1, Лазнева Э.Ф.1, Герасимова Н.Б.1, Панина Ю.А.1, Барамыгин А.В.1, Ахремчик Я.В.1, Поволоцкий А.В.1
1Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия
Email: a.komolov@spbu.ru
Поступила в редакцию: 4 июня 2014 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2014 г.

Приведены результаты исследования прохождения электронов низких энергий через пленки оксида фталоцианина олова (IV) (SnOPc) толщиной до 8 nm на поверхности подложки окисленного кремния. Использована методика регистрации отражения от поверхности тестирующего пучка медленных электронов, реализованная в режиме спектроскопии полного тока (СПТ) при изменении энергии падающего пучка электронов от 0 до 25 eV. Установлена структура максимумов в спектрах полного тока пленок SnOPc, проведен анализ изменения интенсивностей максимумов спектров полного тока, исходящих от осаждаемой пленки SnOPc и от подложки (SiO2)n-Si в процессе увеличения толщины органического покрытия до 8 nm. При таком увеличении толщины органического покрытия происходит увеличение работы выхода поверхности на 0.7 eV, что соответствует переносу электронной плотности от подложки (SiO2)n-Si к пленке SnOPc. Измерены спектры оптического поглощения пленок SnOPc. Проведено сравнение спектров поглощения и спектров, измеренных методом СПТ, для пленок SnOPc и пленок молекул бескислородного металлофталоцианина. Работа выполнена при поддержке грантов СПбГУ 11.38.219.2014 и РФФИ (N 14-03-00087а); использовано оборудование ресурсного центра СПбГУ "Оптические и лазерные методы исследования вещества".
  • L. Grzadziel, M. Krzywiecki, H. Peisert, T. Chasse, J. Szuber. Org. Electron. 13, 10, 1873 (2012)
  • J. Ren, Sh. Meng, Y.-L. Wang, X.-C. Ma, Q.-K. Xue, E. Kaxiras. J. Chem. Phys. 134, 194 706 (2011)
  • M. Marks, S. Sachs, C.H. Schwalb, A. Scholl, U. Hofer. J. Chem. Phys. 139, 12, 124 701 (2013)
  • J.L. Bredas, A.J. Heeger. Chem. Phys. Lett. 217, 507 (1994)
  • S. Godlewski, M. Szymonski. Int. J. Molec. Sci. 14, 2, 2946 (2013)
  • А.С. Комолов, Э.Ф. Лазнева, C.А. Пшеничнюк, А.А. Гавриков, Н.С. Чепилко, А.А. Томилов, Н.Б. Герасимова, А.А. Лезов, П.С. Репин. ФТП 47, 7, 948 (2013)
  • D. Song, F. Zhu, B.Yu, L. Huang, Y. Geng, D. Yan. Appl. Phys. Lett. 92, 143 303 (2008)
  • F. Babudri, G.M. Farinola, F. Naso, R. Ragni. Chem. Commun. 10, 1003 (2007)
  • S. Bubel, A. Ringk, P. Strohriegl, R. Schmechel. Physica E 44 10, 2124 (2012)
  • С.С. Карпова, В.А. Мошников, А.И. Максимов, С.В. Мякин, Н.Е. Казанцева. ФТП 47, 8, 1022 (2013)
  • A.N. Aleshin, I.P. Shcherbakov, V.N. Petrov, A.N. Titkov. Org. Electron. 12, 8, 1285 (2011)
  • F. Meng, X. Yan, Y. Zhu, P. Si. Nanoscale Res. Lett. 8, 179 (2013)
  • A. Modelli, D. Jones, S.A. Pshenichnyuk. J. Phys. Chem. C 114, 1725 (2010)
  • A.S. Komolov, E.F. Lazneva, S.N. Akhremtchik, N.S. Chepilko, A.A. Gavrikov. J. Phys. Chem. C 117, 24, 12 633 (2013)
  • S. Qu, Y. Gao, C. Zhao. Chem. Phys. Lett. 367, 767 (2003)
  • A.S. Komolov, P.J. Moeller. Appl. Surf. Sci. 212-213, 497 (2003)
  • A.S. Komolov, P.J. Moeller. Coll. Surf. A 239, 49 (2004)
  • I. Bartos. Progr. Surf. Sci. 59, 197 (1998)
  • С.А. Пшеничнюк, А.В. Кухто, И.Н. Кухто, А.С. Комолов. ЖТФ 81, 6, 8 (2011)
  • S.A. Pshenichnyuk, A.S. Komolov. J. Phys. Chem. A 116, 1, 761 (2012)
  • С.А. Комолов, Э.Ф. Лазнева, А.С. Комолов. Письма в ЖТФ 29, 23, 13 (2003)
  • T. Graber, F. Forster, A. Schoell, F. Reinert. Surf. Sci. 605, 878 (2011)
  • L. Yan, Y. Gao. Thin Solid Films 417, 101 (2002)
  • I. Hill, D. Milliron, J. Schwartz, A. Kahn. Appl. Surf. Sci. 166, 354 (2000)
  • A.S. Komolov, S.N. Akhremtchik, E.F. Lazneva. Spectrochim. Acta A 798, 708 (2011)
  • Y. Stohr. NEXAFS spectroscopy. Springer, Berlin (2003)
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.