Издателям
Вышедшие номера
Фотоэмиссионная электронная микроскопия массивов субмикронных столбиков никеля в матрице диоксида кремния
Турищев С.Ю.1, Паринова Е.В.1, Кронаст Ф.2, Овсянников Р.2, Малащенок Н.В.3, Стрельцов Е.А.3, Иванов Д.К.3, Федотов А.К.3
1Воронежский государственный университет, Воронеж, Россия
2Гельмгольц-центр Берлин, Берлин, Германия
3Белорусский государственный университет, Минск, Белоруссия
Email: tsu@phys.vsu.ru
Поступила в редакцию: 14 марта 2014 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2014 г.

Методом фотоэмиссионной электронной микроскопии с использованием высокоинтенсивного синхротронного (ондуляторного) излучения исследовались массивы столбиков Ni диаметром ~500 nm, сформированные при сочетании ионно-трековой технологии и электрохимического осаждения в матрицу SiO2 на поверхности пластин монокристаллического кремния. Анализ Ni L2,3-спектров ближней тонкой структуры края рентгеновского поглощения показывает, что столбики в порах, а также соединительные перегородки между ними образованы фазой металлического никеля, который устойчив к процессам окисления атмосферным кислородом воздуха. На гетерогранице Ni/SiO2 не происходит образования фаз промежуточных соединений (силицидов и оксидов никеля), в то время как на поверхности SiO2-матрицы регистрируются окисленные формы Ni(II), которые предположительно можно связать с его силикатными и гидроксидными соединениями, образующимися в результате процессов хемосорбции Ni(II) в электролитах электрохимического осаждения. Работа выполнена при поддержке РФФИ (грант N 12-02-31702).
  • Y. Imry. In: Nanostructures and mesoscopic systems/ Eds W.P. Kirk, M.A. Reed. Academic, NY (1992). P. 11
  • H. Shang, G. Cao. In: Springer handbook of nanotechnology / Ed. B. Brushan. Springer, Berlin (2007). P. 161
  • D. Fink, D. Sinha, J. Opitz-Coutureau, A.V. Petrov, S.E. Demyanov, W.R. Fahrner, K. Hoppe, A.K. Fedotov, L.T. Chadderton, A.S. Berdinsky. In: Physics, chemistry and application of nanostructures (Reviews and short notes to nanomeeting-2005)/ Eds V.E. Borisenko, S.V. Gaponenko, V.S. Gurin. World Scientific, Singapore (2005). P. 474
  • J. Fedotova, D. Ivanou, Y. Ivanova, A. Fedotov, A. Mazanik, I. Svito, E. Streltsov, A. Saad, S. Tyutyunnikov, T.N. Koltunowicz, S. Demyanov, V. Fedotova. Acta Phys. Pol. A 120, 133 (2011)
  • Yu.A. Ivanova, D.K. Ivanou, A.K. Fedotov, E.A. Streltsov, S.E. Demyanov, A.V. Petrov, E.Yu. Kaniukov, D. Fink. J. Mater. Sci. 42, 9163 (2007)
  • O. Seifarth, R. Krenek, I. Tokarev, Y. Burkov, A. Sidorenko, S. Minko, M. Stamm, D. Schmeiser. Thin Solid Films 515, 16, 6552 (2007)
  • J. Stohr. NEXAFS spectroscopy. Springer, Berlin (1996). 403 p
  • S. Hufner. Very high resolution photoelectron spectroscopy. Springer, Berlin (2007). 409 p
  • E.P. Domashevskaya, Yu.A. Yurakov, S.V. Ryabtsev, O.A. Chuvenkova, V.M. Kashkarov, S.Yu. Turishchev. J. Electron Spectroscopy Related Phenom. 156-158, 340 (2007)
  • V.A. Terekhov, S.Yu. Turishchev, K.N. Pankov, I.E. Zanin, E.P. Domashevskaya, D.I. Tetelbaum, A.N. Mikhailov, A.I. Belov, D.E. Nikolichev, S.Yu. Zubkov. Surf. Interface Analys. 42, 891 (2010)
  • Э.П. Домашевская, В.А. Терехов, С.Ю. Турищев, Д.А. Коюда, Н.А. Румянцева, Ю.П. Першин, В.В. Кондратенко, N. Appathurai. ФТТ 55, 3, 577 (2013)
  • Э.П. Домашевская, С.А. Сторожилов, С.Ю. Турищев, В.М. Кашкаров, В.А. Терехов, О.В. Стогней, Ю.Е. Калинин, А.В. Ситников, С.Л. Молодцов. ФТТ 50, 1, 135 (2008)
  • Э.П. Домашевская, А.В. Чернышев, С.Ю. Турищев, Ю.Е. Калинин, А.В. Ситников, Д.Е. Марченко. ФТТ 55, 6, 1202 (2013)
  • D.K. Ivanou, Е.A. Streltsov, A.K. Fedotov, A.V. Mazanik, D. Fink, A. Petrov. Thin Solid Films 490, 2, 154 (2005)
  • Yu.A. Ivanova, D.K. Ivanou, E.A. Streltsov, A.K. Fedotov. Mater. Sci. Eng. B 147, 2-3, 271 (2008)
  • С.Ю. Турищев, Е.В. Паринова, Ю.А. Федотова, А.В. Мазаник, А.К. Федотов, П.Ю. Апель. Конденсированные среды и межфазные границы 15, 1, 54 (2013)
  • Рентгеновская оптика и микроскопия/ Под ред. Г. Шмаля, Д. Рудольфа. Пер. с англ. Мир, М. (1987). 464 с
  • Т.М. Зимкина, В.А. Фомичев. Ультрамягкая рентгеновская спектроскопия. Изд-во ЛГУ, Л. (1971). 132 c
  • http://www.alfa.com
  • www.chempur.de
  • T.J. Regan, H. Ohldag, C. Stamm, F. Nolting, J. Luning, J. Stohr, R.L. White. Phys. Rev. B 64, 214 422 (2001)
  • L.A. Montoro, M. Abbate, E.C. Almeida, J.M. Rosolen. Chem. Phys. Lett. 309, 14 (1999)
  • S.J. Naftel, I. Coulthard, T.K. Sham, D.-X. Xu, L. Erickson, S.R. Das. Appl. Phys. Lett. 74, 19, 2893 (1999)
  • K. Amemiya, E. Sakai, D. Matsumura, H. Abe, T. Ohta. Phys. Rev. B 72, 201 404 (R) (2005)
  • P. Burattin, M. Che, C. Louis. J. Phys. Chem. B 103, 6171 (1999).
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.