Издателям
Вышедшие номера
Атомно-силовая микроскопия поляризационных доменов в сегнетоэлектрических пленках
Анкудинов А.В.1, Титков А.Н.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: Alexander.Ankudinov@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 14 июля 2004 г.
Выставление онлайн: 21 мая 2005 г.

Методом контактной электростатической силовой микроскопии исследованы тонкие монокристаллические PbZr0.47Ti0.53O3 (001) и поликристаллические PbZr0.47Ti0.53O3 (111) сегнетоэлектрические пленки. Проведены измерения величины локального электромеханического отклика, которые позволили изучить распределение вектора поляризации в естественных, а также в направленно-созданных поляризационных нанодоменах в пленках. Выделены и проанализированы основные компоненты сигнала электромеханического отклика, возникающие при исследовании сегнетоэлектрических пленок: пьезоотклик и дополнительный емкостный вклад. На модельном и экспериментальном уровне продемонстрировано влияние жескости контакта зонд--поверхность на емкостный вклад в сигнал электромеханического отклика. Показано, что для получения бoлее точной информации о распределении вектора поляризации в сегнетоэлектрических пленках необходимо контролировать локальные изменения жесткости контакта зонд--поверхность. Работа поддержана Министерством образования и науки в рамках контракта "Диагностические методы и оборудование для метрологии, анализа компонентов и микроструктур технологии микро- и наноэлектроники", а также Российским фондом фундаментальных исследований (грант N 03-02-17635).
  • O. Kolosov, A. Gruverman, J. Hatano, K. Takahashi, H. Tokumoto. Phys. Rev. Lett. 74, 4309 (1995)
  • D. Damjanovic. Rep. Prog. Phys. 61, 1267 (1998)
  • А.С. Сигов. Сорос. образоват. журн. 10, 83 (1996)
  • Yasuo Cho, Kenjiro Fujimoto, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Wagatsuma, Atsushi Onoe, Kazuya Terabe, Kenji Kitamura. Appl. Phys. Lett. 81, 23, 4401 (2002)
  • K. Franke, H. Huelz, M. Weihnacht. Surf. Sci. 415, 178 (1998)
  • J.W. Hong, K.H. Noh, Sang-iL Park, S.I. Kwun, Z.G. Khim. Phys. Rev. B 58, 5078 (1998)
  • Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Theory, Techniques and Applications / Ed. D.A. Bonnell. Willey-VCH, N. Y. (2001). Ch. 7
  • A. Gruverman, B.J. Rodriquez, R.J. Nemanich, A.I. Kingon. J. Appl. Phys. 92, 2734 (2002)
  • M. Alexe, C. Harnagea, D. Hesse, U. Gosele. Appl. Phys. Lett. 79, 242 (2001)
  • S.V. Kalinin, D.A. Bonnell. Phys. Rev. B 65, 125 408 (2002)
  • S. Honga, J. Woo, H. Shin, J.U. Jeon, Y. Eugene Pak, E.L. Colla, N. Setter, E. Kim, K. No. J. Appl. Phys. 89, 1377 (2001)
  • М. Лайнс, А. Гласс. Сегнетоэлектрики и родственные им материалы. Мир, М. (1981). 736 с
  • S. Sridhar, A.E. Giannakopoulos, S. Suresh, U. Ramamurty. J. Appl. Phys. 85, 380 (1999)
  • A.E. Giannakopoulos, S. Suresh. Acta Mater. 47, 2153 (1999)
  • S.V. Kalinin. Ph. D. Thesis. http://sergei2.kalininweb.com (2002)
  • P. Maivald, H.J. Butt, S.A.C. Gould, C.B. Prater, B. Drake, J.A. Gurley, V.B. Elings, P.K. Hansma. Nanotechnology 2, 103 (1991)
  • J. Rodriguez Contreras, J. Schubert, U. Poppe, O. Trithaveesak, K. Szot, Ch. Buchal, H. Kohlstedt, R. Waser. Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 688, C8.10 (2002)
  • N.A. Pertsev, J. Rodriguez Contreras, V.G. Kurhar, B. Hermanns, H. Kohlstedt, R. Waser. Appl. Phys. Lett. 83, 16, 3356 (2003)
  • http://www.ntmdt.ru
  • A. Gruverman, A. Kholkin, A. Kingon, H. Tokumoto. Appl. Phys. Lett. 78, 2751 (2001)
  • A.V. Ankudinov, A.N. Titkov. Proc. Int. Workshop SPM-2004. Nizhny Novgorod (2004). P. 60
  • Л.Д. Ландау, Е.М. Лифшиц. Теория упругости. Физматлит, М. (2001)
  • U. Rabe, J. Janser, W. Arnold. Rev. Sci. Instr. 67, 9, 3281 (1996)
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.