Представлены результаты ЭПР-исследований лeгированных Cr и Ca пленок SrTiO₃ толщиной 1700 и 350 nm до и после облучения ультрафиолетовым (UV) светом (lambda=365 nm). Анализ спектров показал, что на толстой пленке (1700 nm) наблюдаются две линии ЭПР с g-факторами 1.977 и 1.974, принадлежащие центрам Cr³⁺. На тонкой пленке (350 nm) наблюдается только одна линия, принадлежащая центру хрома с g-фактором 1.974. Расчеты показали, что линия с меньшим g-фактором принадлежит центру Cr³⁺, расположенному вблизи поверхности пленки. Малоинтенсивная линия, наблюдаемая в спектре под воздействием ультрафиолетового света (g-фактор 2.012), наиболее вероятно принадлежит центру O^-. Исследованы области температурной стабильности наблюдаемых центров. Проведен сравнительный анализ характеристик примесей в объемных образцах и пленках.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.