Вышедшие номера
Электростатическая модель изменения энергетической щели и формы линии фотолюминесценции 2D слоя GaAs/AlGaAs при высоком уровне возбуждения
Поклонский Н.А.1, Сягло А.И.1
1Белорусский государственный университет, Минск, Республика Беларусь
Email: Poklonski@phys.bsu.unibel.by
Поступила в редакцию: 28 февраля 2000 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2000 г.

Развита электростатическая модель расчета сужения запрещенной зоны (щели) полупроводникового 2D слоя (квантовой ямы), вызванного кулоновским взаимодействием неравновесных носителей заряда. Рассматриваются только первые энергетические уровни размерного квантования для электронов и тяжелых дырок. Впервые при расчете обменной и корреляционной энергий учтены флуктуации потенциальной энергии носителей заряда вдоль 2D слоя, создаваемые самими электронами и дырками. Получено выражение для экранированного кулоновского потенциала вдоль 2D слоя, которое в приближении предельно узкой квантовой ямы переходит в известное. Дан расчет сужения энергетической щели и формы линии фотолюминесценции 2D слоя GaAs в матрице AlxGa1-xAs в зависимости от концентрации неравновесных электронов и дырок. Рассчитанные значения сужения запрещенной зоны согласуются с известными экспериментальными данными при высоком уровне фотовозбуждения квантовой ямы, когда электроны и дырки образуют 2D плазму. Работа частично поддержана грантом БРФФИ N Ф97-246.