Вышедшие номера
Фотопроводимость структур Si / Ge / SiOx и Si / Ge / Si с квантовыми точками германия
Шегай О.А.1, Березовский А.Ю.1, Никифоров А.И.1, Ульянов В.В.1
1Объединенный институт физики полупроводников Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
Email: shegai@thermo.isp.nsc.ru
Выставление онлайн: 20 декабря 2004 г.

Обнаружено немонотонное поведение латеральной фотопроводимости (ФП) при изменении интенсивности межзонного света в структурах Si / Ge / Si и Si / Ge / SiOx с самоорганизующимися квантовыми точками (КТ) германия, когда наряду со ступенчатым ростом ФП наблюдается и ступенчатое уменьшение ФП. Изучено влияние температуры измерений и тянущего поля на данные особенности ФП для структур обоих типов с наибольшей номинальной толщиной слоя Ge (NGe). Полученные результаты обсуждаются в рамках теории протекания неравновесных носителей заряда, локализованных в различных областях структуры: электронов в матрице кремния и дырок в КТ. Работа выполнена при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (гранты N 03-02-16466, 03-02-16468).