Вышедшие номера
Home » Физика твердого тела » Год 1999, выпуск 11 » Статья стр. 2088
<<<>>>
Структура пленок аморфного гидрированного углерода, легированного медью
Василевская Т.Н.1, Ястребов С.Г.2, Андреев Н.С.1, Дроздова И.А.1, Звонарева Т.К.2, Филипович В.Н.1
1Институт химии силикатов им. И.В. Гребенщикова Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 18 ноября 1998 г.
Выставление онлайн: 20 октября 1999 г.
PDF версия
Представлены результаты исследования наноструктуры пленок a = C : H : Cu методами рентгеновского малоуглового рассеяния, рентгенофазового анализа, просвечивающей электронной микроскопии и спектроскопии в видимой и ультрафиолетовой областях. Установлено, что введение 9-16 at.% Cu не только декорирует исходные углеродные фрагменты пленок, но и формирует достаточно протяженные (до 4 mum) образования из вытянутых в линию эллипсов, декорированных медью. При концентрациях меди 14-16 at.% Cu эти линейные кластеры представляют собой медные нанотрубки, сердцевина которых состоит из исходных вытянутых в линию эллипсов. Именно эти проводящие медные образования являются основной причиной резкого увеличения проводимости при содержании 12-16 at.% Cu в пленках a-C : H.
  1. J.C. Angus, C.C. Hayman. Science 241, 8, 913 (1988)
  2. C. Laurent, E. Kay. J. Appl. Phys. 65, 4, 1717 (1989)
  3. N.E. Bazieva, S.G. Yastrebov, V.F. Masterov, A.V. Prichodko. Mol. Mat. 4, 143 (1994)
  4. V.I. Ivanov-Omskii, A.V. Tolmatchev, S.G. Yastrebov. Phil. Mag. B73, 4, 715 (1996)
  5. Е.С. Солдатов, В.В. Ханин, А.С. Трифонов. УФН 168, 2, 217 (1998)
  6. В.И. Иванов-Омский, В.И. Сиклицкий, С.Я. Ястребов. ФТТ 40, 3, 185 (1998)
  7. M.V. Baidakova, V.I. Ivanov-Omskii, A.A. Suvorova, A.A. Sitnikova, V.I. Siklitsky, A.V. Tolmatchev, S.G. Yastrebov. In: Proc. of the Inter. Symposium "Nanostructures: Physics and Technology: 97". St. Petersburg (1997). P. 383
  8. Д.И. Свергун, Л.Ф. Фейгин. Рентгеновское и нейтронное малоугловое рассеяние. Наука, М. (1986). 280 с
  9. Т.Н. Василевская, Р.И. Захарченя. Неорган. материалы 31, 4, 754 (1995)
  10. Т.Н. Василевская, Р.И. Захарченя. ФТТ 38, 10, 3129 (1996)
  11. В.И. Иванов-Омский, А.Б. Лодыгин, С.Г. Ястребов. ФТТ 37, 6, 1693 (1995)
  12. V.I. Ivanov-Omskii, V.I. Siklitsky, A.A. Sitnikova, A.A. Suvorova, A.V. Tolmatchev, T.K. Zvonariova, S.G. Yastrebov. Phil. Mag. B76, 6, 973 (1997)
  13. К. Борен, Д. Хафмен. Поглощение и рассеяние света малыми частицами. Мир, М. (1986). 660 с
  14. P.B. Johnson, R.W. Christy. Phys. Rev. B6, 12, 4370 (1972)
  15. Р. Хейденрайх. Основы просвечивающей электронной микроскопии. Мир, М. (1966). 466 с
  16. Г.М. Плавник. Кристаллография 24, 737 (1979)
  17. Г.М. Плавник. Кристаллография 29, 210 (1984)
  18. Р. Жюльен. УФН 157, 2, 339 (1989)
  19. A. Guinier. Small-angle scattering of X-rays. J. Wiley, N.Y. (1955). 268 p
  20. O. Glatter. J. Appl. Cryst. 12, 166 (1979)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme