Физика твердого тела

Авторам

Правила оформления публикаций

Вышедшие номера

2024
- 1 2 3
2023
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2022
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2021
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2020
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2019
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2018
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2017
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2016
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2015
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2014
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2013
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2012
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2011
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2010
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2009
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2008
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2007
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2006
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2005
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2004
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2003
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2002
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2001
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2000
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1999
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1998
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1997
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1996
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1995
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1994
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1993
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1992
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1991
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1990
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1989
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1988
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Сравнительный анализ дифракции Брэгга и Лауэ от сверхрешеток CdF₂--CaF₂ на Si (111)

Кютт Р.Н.¹, Хилько А.Ю.¹, Соколов Н.С.¹

¹Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия Ioffe Institute, St. Petersburg, Russia

Поступила в редакцию: 18 ноября 1997 г.

Выставление онлайн: 20 июля 1998 г.

PDF версия

Абстракт
Литература
Статистика просмотров

Короткопериодные сверхрешетки (СР) с периодом от 7 до 22 nm выращены методом молекулярно-лучевой эпитаксии в системе CdF₂-CaF₂ на Si(111). Произведены рентгенодифракционные измерения полученных структур в различных геометриях отражения и прохождения, продемонстрировавшие возможность создания таких объектов с высоким кристаллическим совершенством. Рассмотрены особенности дифракции от СР со слоями, обладающими существенно различными дифрагирующими способностями и деформацией разного знака по отношению к подложке. Моделированием в полукинематическом приближении получены основные параметры выращенных СР. Показана применимость модели идеальной СР к объектам, имеющим структурные дефекты.

V.S. Speriosu, T. Vreeland. J. Appl. Phys. 56, 1591 (1984)
J. Kervarez, M. Baudet, J. Gaulet, P. Auvrey. J. Appl. Cryst. 17, 196 (1984)
A.T. Macrander, G.P. Schwartz, G.J. Gualtieri. J. Appl. Phys. 64, 6733 (1988)
T. Baumbach, H.-G. Bruhl, U. Pitsch, H. Terauchi. Phys. Stat. Sol. (a), 105, 197 (1988)
H. Terauchi, S. Sekimoto, K. Kamigaki, H. Sakashita, N. Sano, H. Kato, M. Nakayama. J. Phys. Soc. Jap. 54, 4776 (1983)
U. Pietch, H. Metzger, S. Rugel, B. Jenichen, J.K. Robinson. J. Appl. Phys. 74, 2381 (1993)
K. Nakashima. J. Appl. Phys. 71, 1189 (1992)
R.N. Kyutt, A.Yu. Khilko, N.S. Sokolov. Appl. Phys. Lett. 76, 1563 (1997)
S.V. Novikov, N.N. Faleev, A. Izumi, A.Yu. Khilko, N.S. Sokolov, S.A. Solov'ev, K. Tsutsui. Abstracts of Int. Symp. Nanostructures: Physics and Technology, St.Petersburg, Russia (1995). P. 387--390
R.N. Kyutt, P.V. Petrashen, L.M. Sorokin. Phys. Stat. Sol. (a) 60, 381 (1980)
N.S. Sokolov, J.C. Alvarez, Yu.V. Shusterman, N.L. Yakovlev, R.M. Overney, Y. Itoh, I. Takahashi, J. Harada. Appl. Surf. Sci. 104/105, 402 (1995)
A.Yu. Khilko, R.N. Kyutt, N.S. Sokolov, M.V. Zamoryanskaya, L.J. Schowalter, Yu.V. Shusterman. Inst. Phys. Conf. Ser., 155. Ch. 12, 1021 (1997); Paper presented at 23rd Int. Symp. Compound Semiconductors. St.Petersburg, Russia (Sept. 1996)
P.F. Fewster. Semicond. Sci. Technol. 8, 1915 (1993)
V.M. Kaganer, R. Koehler, M. Schmidt, R. Opitz, B. Jenihen. Phys. Rev. B55, 1793 (1997)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель