Вышедшие номера
Влияние одноосного сжатия при 80 K на радиационное дефектообразование в кристаллах KC l, KBr и KI
Бекешев А.З.1, Васильченко Е.А.2, Сармуханов Е.Т.1, Сагимбаева Ш.Ж.1, Тулепбергенов С.К.1, Шункеев К.Ш.1, Эланго А.А.2
1Актюбинский государственный университет, Актюбинск, Казахстан
2Институт физики Эстонии, ЕЕ Тарту, Эстония
Поступила в редакцию: 27 июня 1997 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 1997 г.

Методом абсорбционной спектроскопии исследовано влияние одноосного сжатия при 80 K на эффективность создания устойчивых радиационных дефектов в кристаллах KCl, KBr и KI. Обнаружено, что приложение сжатия по <100> направлениям не изменяет эффективности радиационного дефектообразования в кристаллах KCl и KBr, тогда как в KI эта величина уменьшается более чем на порядок. На базе проведенного полуколичественного анализа сделан вывод, что причиной наблюдаемого различия является то, что в KI малейшее сжатие междоузельных пустот делает невозможным размещение H-центров в них, а в KCl и KBr для достижения аналогичного эффекта необходимо сжатие в несколько десятков процентов.
  1. А.Т. Акилбеков, Е.А. Васильченко, Е.Т. Сармуханов, К.Ш. Шункеев, А.А. Эланго. ФТТ 33, 3, 868 (1991).
  2. A. Lushchik, Ch. Lushchik, N. Lushchik, A. Frorip, O. Nikiforova. Phys. Stat. Sol. (b) 168, 1, 413 (1991)
  3. E. Vasilchenko, E. Sarmukhanov, K. Shunkeev, A. Elango. Phys. Stat. Sol. (b) 174, 1, 155 (1992).
  4. А.З. Бекешев, Е.А. Васильченко, Е.Т. Сармуханов, К.Ш. Шункеев, А.А. Эланго. ФТТ 36, 2, 330 (1994)
  5. К.Ш. Шункеев, Е.А. Васильченко, А.А. Эланго. ЖПС 62, 3, 156 (1995)
  6. А.З. Бекешев, Е.А. Васильченко, К.Ш. Шункеев, А.А. Эланго. ФТТ 39, 1, 87 (1997)
  7. Р.И. Гиндина, А.А. Маароос, Л.А. Плоом, Н.А. Яансон. Тр. ИФ АН ЭССР 49, 45 (1979)
  8. О.В. Клявин, С.Г. Симашко, В.Д. Ярошевич. ФТТ 13, 12, 3508 (1971)
  9. T. Susuki, H. Koizumi. Phys. Chem. Sol. Int. Symposium on Lat. Def. Related Properties of Diel. Mater. (1985). P. 117
  10. А.А. Каплянский. Опт. и спектр. 16, 602 (1964)
  11. А. Бекешев, Е. Васильченко, К. Шункеев, А. Эланго. ФТТ 38, 8, 2394 (1996)
  12. С.М. Рябых, Л.Т. Бугаенко. Изв. АН Латв. ССР. Сер. физ. и техн. наук 2, 77 (1990)
  13. Б.К. Вайнштейн, В.М. Фридкин, В.Л. Инденбом. Современная кристаллография. Наука, М. (1979). Т. 2. 359 с
  14. J.D. Konitzer, H.N. Hersh. J. Phys. Chem. Sol. 27, 771 (1966)
  15. M. Ikezawa, K. Shirahata, T. Kojima. The Science Reports of the Tohoku Univer. 1, L11, 45 (1969)
  16. R.T. Williams. Semicond. Insulat. 3, 251 (1978)
  17. Ч.Б. Лущик, А.Ч. Лущик. Распад электронных возбуждений с образованием дефектов в твердых телах. Наука, М. (1989). 263 с

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.