Вышедшие номера
Дефекты и отслаивание аморфных нанопленок от кристаллических подложек
Бобылев С.В.1, Овидько И.А.1,2, Романов А.Е.3, Шейнерман А.Г.1
1Институт проблем машиноведения РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия
3Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: ovidko@def.ipme.ru
Поступила в редакцию: 8 апреля 2005 г.
Выставление онлайн: 20 января 2006 г.

Теоретически исследованы условия отслаивания аморфной нанопленки от кристаллической подложки. Теоретический анализ проведен с помощью представлений дисклинационно-дислокационной модели межфазной границы "кристалл-стекло", в рамках которой такая межфазная граница характеризуется высокой плотностью дисклинаций и дислокаций. Получен критерий отслаивания аморфной нанопленки от кристаллической подложки. Рассчитана зависимость критической толщины нанопленки (при превышении которой начинается ее отслаивание) от характеристик дисклинационно-дислокационной системы и дилатационного несоответствия. Работа выполнена при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант N 04-01-00211), ИНТАС (грант N 03-51-3779), программы РАН "Структурная механика материалов и элементов конструкций", программ развития потенциала высшей школы и физики твердотельных наноструктур Министерства образования и науки РФ, Санкт-Петербургского научного центра РАН, Офиса морских исследований США (Office of US Naval Research, грант N 00014-05-1-0217) и Фонда содействия отечественной науке. PACS: 62.20.Mk, 62.25.+g
  1. В.Е. Пуха, В.В. Варганов, И.Ф. Михайлов, А.Н. Дроздов. ФТТ 46, 8, 1526 (2004)
  2. Ю.Е. Калинин, А.Н. Ремизов, А.В. Ситников. ФТТ 46, 11, 2076 (2004)
  3. I.A. Ovid'ko. J. Phys. D 27, 5, 999 (1994)
  4. M.Yu. Gutkin, I.A. Ovidk'ko. Phys. Rev. B 61, 6, 064 515 (2001)
  5. R.J. Herbert, J.H. Perepezko. Nanomaterials for structural applications. MRS Symp. Proc. Vol. 740 / Eds C.C. Berndt, T. Fischer, I.A. Ovid'ko, T. Tsakalakos, G. Skandan. MRS, Pittsburg (2003). P. 267
  6. H. Zeng, J. Qui, X. Jiang, C. Zhu, F. Gan. J. Phys.: Condens. Matter 16, 16, 2901 (2004)
  7. М.С. Бреслер, О.Ю. Гусев, Е.И. Теруков, A. Froitzheim, W. Fuhs. ФТТ 46, 1, 18 (2004)
  8. С.В. Гайслер, О.И. Семенова, Р.Г. Шарафутдинов, Б.А. Колесов. ФТТ 46, 8, 1484 (2004)
  9. S. Veprek. Rev. Adv. Mater. Sci. 5, 1, 6 (2003)
  10. I.A. Ovid'ko. Phil. Mag. Lett. 79, 9, 709 (1999)
  11. И.А. Овидько. ФТТ 41, 9, 1637 (1999)
  12. S.V. Bobylev, I.A. Ovid'ko, A.E. Romanov, A.G. Sheinerman. J. Phys.: Condens. Matter 17, 4, 619 (2005)
  13. D.R. Nelson. Phys. Rev. B 28, 10, 5515 (1983)
  14. N. Rivier. Adv. Phys. 36, 95 (1987)
  15. В.И. Владимиров, А.Е. Романов. Дисклинации в кристаллах. Наука, Л. (1986). 224 с
  16. E. Nold, S. Steeb, P. Lamparter. Zeit. Naturforsch. A 35, 610 (1980)
  17. M.Yu. Gutkin, I.A. Ovid'ko, A.E. Romanov. Rad. Eff. Def. Solids 129, 3--4, 239 (1994)
  18. L.B. Freund, S. Suresh. Thin film materials: Stress, defect formation and surface evolution. Cambrigde University Press (2004). 768 p
  19. А.Л. Колесникова, А.Е. Романов. ФТТ 45, 9, 1626 (2003)
  20. А.Е. Романов. Поверхность 12, 121 (1982)
  21. J. Dundurs, N.J. Salamon. Phys. Stat. Sol. (b) 50, 1, 125 (1972)
  22. G. Eason, B. Noble, I.N. Sneddon. Phil. Trans. Roy. Soc. London 247, 935, 529 (1955)
  23. В.А. Диткин, А.П. Прудников. Интегральные преобразования и операционное исчисление. Наука, М. (1974). 544 с
  24. T. Mura. Micromechanics of Defects in Solids. Martinus Nijhoff, Dordrecht (1987). 587 p

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.