Издателям
Вышедшие номера
Дефекты и отслаивание аморфных нанопленок от кристаллических подложек
Бобылев С.В.1, Овидько И.А.1,2, Романов А.Е.3, Шейнерман А.Г.1
1Институт проблем машиноведения РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия
3Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: ovidko@def.ipme.ru
Поступила в редакцию: 8 апреля 2005 г.
Выставление онлайн: 20 января 2006 г.

Теоретически исследованы условия отслаивания аморфной нанопленки от кристаллической подложки. Теоретический анализ проведен с помощью представлений дисклинационно-дислокационной модели межфазной границы "кристалл--стекло", в рамках которой такая межфазная граница характеризуется высокой плотностью дисклинаций и дислокаций. Получен критерий отслаивания аморфной нанопленки от кристаллической подложки. Рассчитана зависимость критической толщины нанопленки (при превышении которой начинается ее отслаивание) от характеристик дисклинационно-дислокационной системы и дилатационного несоответствия. Работа выполнена при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант N 04-01-00211), ИНТАС (грант N 03-51-3779), программы РАН "Структурная механика материалов и элементов конструкций", программ развития потенциала высшей школы и физики твердотельных наноструктур Министерства образования и науки РФ, Санкт-Петербургского научного центра РАН, Офиса морских исследований США (Office of US Naval Research, грант N 00014-05-1-0217) и Фонда содействия отечественной науке. PACS: 62.20.Mk, 62.25.+g
  • В.Е. Пуха, В.В. Варганов, И.Ф. Михайлов, А.Н. Дроздов. ФТТ 46, 8, 1526 (2004)
  • Ю.Е. Калинин, А.Н. Ремизов, А.В. Ситников. ФТТ 46, 11, 2076 (2004)
  • I.A. Ovid'ko. J. Phys. D 27, 5, 999 (1994)
  • M.Yu. Gutkin, I.A. Ovidk'ko. Phys. Rev. B 61, 6, 064 515 (2001)
  • R.J. Herbert, J.H. Perepezko. Nanomaterials for structural applications. MRS Symp. Proc. Vol. 740 / Eds C.C. Berndt, T. Fischer, I.A. Ovid'ko, T. Tsakalakos, G. Skandan. MRS, Pittsburg (2003). P. 267
  • H. Zeng, J. Qui, X. Jiang, C. Zhu, F. Gan. J. Phys.: Condens. Matter 16, 16, 2901 (2004)
  • М.С. Бреслер, О.Ю. Гусев, Е.И. Теруков, A. Froitzheim, W. Fuhs. ФТТ 46, 1, 18 (2004)
  • С.В. Гайслер, О.И. Семенова, Р.Г. Шарафутдинов, Б.А. Колесов. ФТТ 46, 8, 1484 (2004)
  • S. Veprek. Rev. Adv. Mater. Sci. 5, 1, 6 (2003)
  • I.A. Ovid'ko. Phil. Mag. Lett. 79, 9, 709 (1999)
  • И.А. Овидько. ФТТ 41, 9, 1637 (1999)
  • S.V. Bobylev, I.A. Ovid'ko, A.E. Romanov, A.G. Sheinerman. J. Phys.: Condens. Matter 17, 4, 619 (2005)
  • D.R. Nelson. Phys. Rev. B 28, 10, 5515 (1983)
  • N. Rivier. Adv. Phys. 36, 95 (1987)
  • В.И. Владимиров, А.Е. Романов. Дисклинации в кристаллах. Наука, Л. (1986). 224 с
  • E. Nold, S. Steeb, P. Lamparter. Zeit. Naturforsch. A 35, 610 (1980)
  • M.Yu. Gutkin, I.A. Ovid'ko, A.E. Romanov. Rad. Eff. Def. Solids 129, 3--4, 239 (1994)
  • L.B. Freund, S. Suresh. Thin film materials: Stress, defect formation and surface evolution. Cambrigde University Press (2004). 768 p
  • А.Л. Колесникова, А.Е. Романов. ФТТ 45, 9, 1626 (2003)
  • А.Е. Романов. Поверхность 12, 121 (1982)
  • J. Dundurs, N.J. Salamon. Phys. Stat. Sol. (b) 50, 1, 125 (1972)
  • G. Eason, B. Noble, I.N. Sneddon. Phil. Trans. Roy. Soc. London 247, 935, 529 (1955)
  • В.А. Диткин, А.П. Прудников. Интегральные преобразования и операционное исчисление. Наука, М. (1974). 544 с
  • T. Mura. Micromechanics of Defects in Solids. Martinus Nijhoff, Dordrecht (1987). 587 p
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.