Вышедшие номера
Рентгенодифракционные исследования кремния, имплантированного ионами эрбия с высокими энергиями
Кютт Р.Н.1, Соболев Н.А.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 10 декабря 1996 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 1997 г.

Кристаллы кремния после имплантации ионов эрбия с энергиями 0.8-2.0 MeV и дозами 1· 1012-1· 1014 cm-2 исследовались методами двух- и трехкристальной дифракции рентгеновских лучей. Наблюдалось образование трех типов двухкристальных кривых отражения. Они соответствуют различным структурным состояниям имплантированных слоев. При умеренных дозах (1· 1012-1· 1013 cm-2) наблюдается возникновение положительной деформации, обусловленной формированием вторичных радиационных дефектов межузельного типа. Увеличение дозы имплантации сопровождается формированием аморфного слоя, разделяющего объемный и тонкий приповерхностный монокристаллический слои. При дозе имплантации 1· 1014 cm-2 приповерхностный монокристаллический слой полностью аморфизируется. Определены параметры имплантировнных слоев. Обсуждается модель трансформации структурных нарушений.