Издателям
Вышедшие номера
Кристаллографические характеристики и фазовые переходы кристалла [(C2H5)4N]2CdBr4 в области низких температур
Шелег А.У.1, Зуб Е.М.1, Ячковский А.Я.1
1Объединенный институт физики твердого тела и полупроводников Национальной академии наук Белоруссии, Минск, Белоруссия
Email: sheleg@ifttp.bas-net.by
Поступила в редакцию: 19 февраля 2007 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2007 г.

Приводятся результаты рентгенографических исследований кристалла [N(C2H5)4]2CdBr4 при низких температурах. Проведены измерения параметров элементарной ячейки и определены коэффициенты теплового расширения вдоль основных кристаллографических направлений в области температур 90-320 K. Исследовано поведение интегральных интенсивностей дифракционных рефлексов в зависимости от температуры. Показано, что на кривых a=f(T), c=f(T), I500=f(T) и I006=f(T) при T1~ 174 K и T2~ 226 K наблюдаются аномалии в виде резких изменений параметров элементарной ячейки и интенсивностей дифракционных рефлексов, что свидетельствует о наличии в кристалле [N(C2H5)4]2CdBr4 при этих температурах фазовых переходов. Обнаружена также аномалия в виде небольшого максимума при T3=293 K. PACS: 64.70.Kb, 61.50.Ks
  1. A.I. Wolthnis, W.I. Huiskamp, L.I. Delongh. Physica B 142, R 301 (1986)
  2. О.Г. Влох, И.И. Половинко, В.М. Мокрый, С.А. Свелеба. Кристаллография 36, 227 (1991)
  3. О.Г. Влох, В.М. Мокрый, И.И. Половинко, С.А. Свелеба. Опт. и спектр. 69, 1189 (1990)
  4. А.У. Шелег, А.М. Наумовец, Т.И. Декола, Н.П. Теханович. ФТТ 48, 334 (2006)
  5. А.У. Шелег, Е.М. Зуб, А.Я. Ячковский, Л.Ф. Кирпичникова. Кристаллография 47, 634 (2002)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.