Вышедшие номера
Фототропный центр и распределение примеси хрома в кристаллах редкоземельного граната
Колесников С.С.1, Щепина Л.И.1
1Научно-исследовательский институт прикладной физики Иркутского государственного университета, Иркутск, Россия
Email: schepina@ari.isu.ru
Выставление онлайн: 20 августа 2008 г.

Методом рентгеноструктурного анализа выполнены исследования двух типов кристаллов Gd3Sc2Al3O12, активированного ионами Ca2+ и Cr3+, и Gd3Sc2Ga3O12, активированного ионами Nd3+ и Cr3+. Для того чтобы определить, как встраивается примесь в решетку, изучалось ее влияние на распределение электронной плотности и на микронапряжения кристаллической решетки. Показано, что ионы хрома могут занимать узлы в решетке, находящиеся преимущественно в октаэдрическом окружении лигандов кислорода. PACS: 61.72.Dd, 61.72.Ff
  1. Wang Su-Mei, Feng Bao-Hua, Zhang Qiu-Lin, Zhang Dong-Xiang, Zhang Shi-Wen. Chin. Phys. Lett. 22, 877 (2005)
  2. V.B. Tsvetkov, G.A. Bufetova, D.A. Nikolaev, V.F. Seregin, I.A. Shcherbakov, M.Yu. Gusev, I.A. Ivanov. Laser Phys. 15, 579 (2005)
  3. Л.И. Крутова, Н.А. Кулагин, В.А. Сандуленко. ФТТ 31, 170 (1989)
  4. В.И. Гармаш, В.А. Житнюк, А.Г. Охримчук. Изв. АН СССР. Неорган. материалы 26, 1700 (1990)
  5. Л.Г. Попов. Автореф. канд. дис. ИГУ, Иркутск (1994). 20 с
  6. J.A. Caird, E.F. Krupke, M.D. Shinn. In: Technical digest of conference on lasers and electro-optics. Optical Soc. of America. Baltimore, Maryland, USA (1985). P. 232
  7. Н.Н. Ильичев, А.В. Кирьянов, П.П. Пашинин, С.Х. Шпуга. ЖЭТФ 105, 1426 (1994)
  8. Л.И. Щепина, О.В. Бородина, Л.И. Ружников. Письма в ЖТФ 31, 6, 23 (2005)
  9. C.A. Geiger, T. Armbruster. Am. Mineral. 82, 740 (1997)
  10. Я.С. Уманский. Рентгенография металлов и полупроводников. Металлургия, М. (1969). 496 с

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.