Вышедшие номера
Исследование методом импедансной спектроскопии допированных ионным сурфактантом жидких кристаллов
Беляев Б.А.1,2,3, Дрокин Н.А.1, Масленников А.Н.1
1Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия
2Сибирский федеральный университет, Красноярск, Россия
3Сибирский государственный аэрокосмический университет им. академика М.Ф. Решетнева, Красноярск, Россия
Email: belyaev@iph.krasn.ru
Поступила в редакцию: 16 января 2014 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2014 г.

Методом импедансной спектроскопии исследовано влияние постоянного электрического поля на электрофизические характеристики нематических жидких кристаллов из серии алкилцианобифенилов nСВ (n=6-8) и многокомпонентной жидкокристаллической смеси МВ-1, допированных ионным сурфактантом. Установлено, что импедансные спектры существенно зависят от величины подаваемого на образец постоянного напряжения смещения. Проведена аппроксимация измеренных спектров с использованием разработанных эквивалентных схем ячейки с образцом, позволившая определить емкость двойного электрического слоя, удельную проводимость образцов, а также подвижность, концентрацию и коэффициент диффузии ионов. Показано, что в диапазоне частот f<100 Hz вблизи электродов измерительной ячейки с жидкокристаллическим образцом возникает область пространственного заряда, приводящая к увеличению активной (резистивной) и реактивной (емкостной) компонент импеданса. Работа выполнена при поддержке интеграционного проекта N 109 СО РАН.