Издателям
Вышедшие номера
Влияние импульсного ионного облучения на электронную структуру многостенных углеродных нанотрубок
Болотов В.В.1, Корусенко П.М.1, Несов С.Н.1, Поворознюк С.Н.1
1Омский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук, Омск, Россия
Email: korusenko@obisp.oscsbras.ru
Поступила в редакцию: 22 июля 2013 г.
Выставление онлайн: 20 марта 2014 г.

На основании рассмотрения спектров фотоэмиссии остовного C1s-уровня и валентной зоны углерода, полученных с использованием оборудования российско-германского канала синхротронного излучения BESSY II, а также аналитического комплекса фирмы "Riber", исследовано влияние имульсного ионного облучения и вакуумного отжига на соотношение s-0.8ptp2- и s-0.8ptp3-гибридизированных орбиталей атомов углерода в слоях ориентированных многостенных углеродных нанотрубок. Показано, что в результате ионного воздействия происходит существенное увеличение доли атомов с s-0.8ptp3-гибридизацией электронов. Следствием отжига, напротив, является снижение доли s-0.8ptp3-составляющей в спектрах углерода. Установлены характерные особенности валентной зоны многостенных углеродных нанотрубок в отожженном и облученном состоянии. Работа выполнена в рамках двусторонней программы "Российско-Германская лаборатория BESSY" при частичной поддержке гранта РФФИ N 12-08-00533-а.
  1. W.S. Lim, Y.Y. Kim, H. Kim, S. Jang, N. Kwon, B.J. Park, J.-H. Ahn, J. Chung, B.H. Hong, G.Y. Yeom. Carbon 50, 429 (2012)
  2. F.C. Tai1, S.C. Lee1, C.H. Wei, S.L. Tyan. Mater. Trans. 47, 7, 1847 (2006)
  3. S. Turgeon, R.W. Paynter. Thin Solid Films 394, 44 (2001)
  4. А.Г. Кудашов, А.Г. Куреня, А.В. Окотруб, А.В. Гусельников, В.С. Данилович, Л.Г. Булушева. ЖТФ 77, 12, 96 (2007)
  5. В.В. Болотов, П.М. Корусенко, С.Н. Несов, С.Н. Поворознюк, Р.В. Шелягин. ФТТ 55, 1197 (2013)
  6. В.В. Болотов, В.Е. Кан, П.М. Корусенко, С.Н. Несов, С.Н. Поворознюк, И.В. Пономарева, В.Е. Росликов, Ю.А. Стенькин, Р.В. Шелягин, Е.В. Князев. ФТТ 54, 154 (2012)
  7. C. Pirlot, I. Willems, A. Fonseca, J.B. Nagy, J. Delhalle. Adv. Eng. Mater. 4, 3, 109 (2002)
  8. M.-H. Tsai, H.-M. Lin, W.-L. Tsai, Y. Hwu. Rev. Adv. Mater. Sci. 5, 302 (2003)
  9. М.П. Сих, Д. Бриггс. Анализ поверхности методами Оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Мир, М. (1987). С. 533--557
  10. Y. Fan, A.G. Fitzgerald, P. John, C.E. Troupe, J.I.B. Wilson. Surf. Interface Anal. 34, 703 (2002)
  11. S.H. Lim, H.I. Elim, X.Y. Gao, A.T.S. Wee, W. Ji, J.Y. Lee, J. Lin. Phys. Rev. B. 73, 045 402 (2006)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.