Издателям
Вышедшие номера
Зависимость критического радиуса частичных дислокационных петель от энергии дефекта упаковки в полупроводниках
Логинов Ю.Ю.1, Мозжерин А.В.2, Брильков А.В.2
1Сибирский государственный аэрокосмический университет им. акад. М.Ф. Решетнева, Красноярск, Россия
2Сибирский федеральный университет, Красноярск, Россия
Email: loginov@sibsau.ru
Поступила в редакцию: 15 июля 2013 г.
Выставление онлайн: 20 марта 2014 г.

Методом просвечивающей электронной микроскопии исследовано распределение дислокационных петель по размерам в полупроводниках CdTe, ZnTe, ZnSe, ZnS, CdS, GaAs, Si и Ge. Экспериментальные результаты сравниваются с теоретическими расчетами критических радиусов перехода частичных дислокационных петель в полные с учетом энергии образования дислокационных петель и энергии дефекта упаковки материалов. Показано, что критический радиус зависит от энергии дефекта упаковки и является важной характеристикой при анализе процессов дефектообразования в полупроводниках.
  • M. Herrera, D. Gonzalez, J.G. Lozano, R. Garcia, M. Hopkinson, H.Y. Liu, M. Gutierrez, P. Navaretti. J. Appl. Phys. 98, 023 521 (2005)
  • С.Н. Вотинов, О.П. Максимкин. Вопр. атомной науки и техники. Сер. Физика радиационных повреждений и радиационное материаловедение 3(81), 23 (2002)
  • F. Ebrahimi, Z. Ahmed, H. Li. Appl. Phys. Lett. 85, 3749 (2004)
  • Y. Ohno, T. Taishi, Y. Tokumoto, I. Yonenaga. J. Appl. Phys. 108, 073 514 (2010)
  • Ю.Ю. Логинов, П. Браун, К. Дьюроуз. Закономерности образования структурных дефектов в полупроводниках A-=SUB=-2-=/SUB=-B-=SUB=-6-=/SUB=-. Логос, М. (2003). 304 с
  • С. Амелинкс. Методы прямого наблюдения дислокаций. Мир, М. (1968). 440 с
  • http://www.ioffe.ru/SVA/NSM/Semicond/
  • И.В. Горичок. ФТТ 54, 1373 (2012)
  • http://www.elektrosteklo.ru/Crystals.htm
  • S. Takeuchi, K. Suzuki, K. Maeda, H. Iwanaga. Phil. Mag. A 50, 171 (1984)
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.