Вышедшие номера
Применение метода внутреннего трения для исследования дефектов в легированных Cr и Al монокристаллах Bi12SiO20
Волнянский М.Д., Кудзин А.Ю., Чертков И.Л.
Выставление онлайн: 20 декабря 1991 г.

Исследованы температурные зависимости внутреннего трения и диэлектрических свойств чистых и легированных Cr и Al, а также отожженных в вакууме монокристаллов Bi12SiO20. Обнаружен ряд аномалий акустических потерь и соответствующих им особенностей в диэлектрических характеристиках. Полученные результаты обсуждаются в рамках теории Хатсона-Уайта и теории релаксации дефектов в поле упругих напряжений. Предлагаются модели дефектных центров, ответственных за наблюдаемые и ранее известные аномалии затухания звука в кристаллах Bi12SiO20.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.