Издателям
Вышедшие номера
О природе прямого изображения дефектов в дифракционных методах рентгеновской топографии
Суворов Э.В.1, Смирнова И.А.1
1Институт физики твердого тела Российской академии наук, Черноголовка, Московская обл., Россия
Email: suvorov@issp.ac.ru
Поступила в редакцию: 11 мая 2010 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2010 г.

Проанализированы закономерности рассеяния рентгеновского излучения в наиболее искаженной области кристалла, где локальные разориентации решетки, связанные с деформационным полем дефекта, максимальны. Высказано предположение о том, что одним из возможных механизмов образования прямого изображения является рассеяние волнового поля на псевдогранице в области локальных разориентаций, где кристалл выходит из отражающего положения вблизи оси дефекта, например ядра дислокации. На примерах численного моделирования секционных топограмм модельных дефектов продемонстрировано образование прямого изображения. В качестве модельного образца использовался совершенный монокристалл, внутри которого в определенном кристаллографическом направлении располагается тонкая трубка, заполненная тем же монокристаллическим материалом с ориентацией, отличной от основного кристалла. Следовательно, если модельный кристалл установлен в отражающее положение, то для области внутри трубки условия Брэгга не выполняются. Численные топограммы показывают, что прямое изображение образуется на границе трубки модельного кристалла. Работа выполнена при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (проект N 09-02-00731-а).
  • A. Authier. Dynamical theory of X-ray diffraction. Science Publications, Oxford (2001). 734 p
  • D.K. Bowen, B.K. Tanner. High resolution X-ray diffractometry and topography. Taylor \& Francis Group, London (1998). 237 p
  • L.V. Azaroff. X-rays diffraction. McGraw-Hill Book Company, N.Y. (1974). 617 p
  • П. Хирш, А. Хови, Р. Николсон, Д. Пэшли, М. Уэлан. Электронная микроскопия тонких кристаллов. Мир, М. (1968). 574 с
  • Э.В. Суворов, И.Л. Шульпина. Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтр. исслед. 7, 3 (2001)
  • S. Takagi. J. Phys. Soc. Jpn. 26, 1239 (1969)
  • D. Toupin. Acta Cryst. 23, 25 (1967)
  • E.V. Suvorov, V.I. Polovinkina, V.I. Nikitenko, V.L. Indenbom. Phys. Status Solidi A 26, 385 (1974)
  • Э.В. Суворов, И.А. Смирнова, Е.В. Шулаков. Поверхность. Рентген., синхротр. нейтр. исслед. 9, 1 (2007)
  • Э.В. Суворов, И.А. Смирнова. ФТТ 52, 241 (2010)
  • G. Borrmann, K. Lehmann. Z. Crystallogr. 125, 234 (1967)
  • Е.В. Шулаков, И.А. Смирнова, Э.В. Суворов. Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтр. исслед. 7, 32 (1996)
  • Э.В. Суворов, И.А. Смирнова, Е.В. Шулаков. Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтр. исслед. 8, 67 (2005)
  • В.Л. Инденбом, И.Ш. Слободецкий, К.Г. Труни. ЖЭТФ 66, 1110 (1974)
  • В.Л. Инденбом, Э.В. Суворов, И.Ш. Слободецкий. ЖЭТФ 71, 359 (1976)
  • K. Kohra. J. Phys. Soc. Jpn. 17, 589 (1962)
  • S. Kikuta, K. Kohra. J. Phys. Soc. Jpn. 29, 1322 (1970)
  • S. Kikuta. J. Phys. Soc. Jpn. 30, 222 (1971)
  • Э.В. Суворов, И.А. Смирнова. Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтр. исслед. 10, 7 (2008)
  • И.А. Смирнова, Э.В. Суворов, Е.В. Шулаков. ФТТ 49, 1050 (2007)
  • Э.В. Суворов, И.А. Смирнова, Е.В. Шулаков. Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтр. исслед. 12, 12 (2005)
  • М.Г. Мильвидский, Ю.А. Осипьян, И.А. Смирнова, Э.В. Суворов, Е.В. Шулаков. Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтр. исслед. 6, 5 (2001)
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.