Вышедшие номера
Комплексное исследование процессов объемного экранирования в монокристаллах семейства ниобата лития и танталата лития
Шур В.Я.1, Ахматханов А.Р.1, Батурин И.С.1, Небогатиков М.С.1, Долбилов М.А.1
1Уральский государственный университет им. А.М. Горького, Екатеринбург, Россия
Email: vladimir.shur@usu.ru
Поступила в редакцию: 11 февраля 2010 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2010 г.

Проведено комплексное исследование кинетики объемного экранирования деполяризующего поля в монокристаллах ниобата лития и танталата лития с различной степенью отклонения от стехиометрического состава. Использованы три взаимодополняющих экспериментальных метода, основанных на измерении: 1) зависимости коэрцитивного поля от времени задержки; 2) уменьшения контраста следа доменной стенки; 3) релаксации сигнала дифракции света на доменных стенках. Получены значения следующих параметров объемного экранирования: характерного времени релаксации, типа релаксационной зависимости, максимального значения поля смещения и "истинного" значения коэрцитивного поля. Проанализированы достоинства и недостатки использованных экспериментальных методов. Работа выполнена при поддержке РФФИ (гранты N 08-02-12173, 08-02-99082-р-офи, 10-02-96042-р_урал_а, 10-02-00627-а), РФФИ-НЦНИ (грант N 05-02-19648), CRDR BRHE и ФАО (2.2.2.3.10015/Y4-P-05-03), ФАО (грант РНП, госконтракты П870 и П2127); ФАНИ (госконтракты N 02.74011.0171 и 02.552.11.7069).
  1. E. Soergel. Appl. Phys. B 81, 729 (2005)
  2. W.P. Risk, T.R. Gosnell, A.V. Nurmikko. Compact blue and green laser. Cambridge Univ. Press, Cambridge (2003). 552 p
  3. В.Г. Дмитриев, Л.В. Тарасов. Прикладная нелинейная оптика. Физматлит, М. (2004). 512 с
  4. K. Mizuuchi, A. Morikawa, T. Sugita, K. Yamamoto. Jpn. J. Appl. Phys. 42, L 90 (2003)
  5. R.L. Byer, J. Nonlin. Opt. Phys. Mater. 6, 549 (1997)
  6. R.G. Batchko, V.Y. Shur, M.M. Fejer, R.L. Byer. Appl. Phys. Lett. 75, 1673 (1999)
  7. В.Я. Шур, Е.Л. Румянцев, Р.Г. Бачко, Г.Д. Миллер, М.М. Фейер, Р.Л. Байер. ФТТ 41, 1831 (1999)
  8. V. Shur. J. Mater. Sci. 41, 199 (2006)
  9. V.Ya. Shur. In: Nucleation theory and applications / Ed. J.W.P. Schmelzer. Wiley--VCH, Weinheim (2005). 178 p
  10. A.I. Lobov, V.Ya. Shur, D.K. Kuznetsov, S.A. Negashev, D.V. Pelegov, E.I. Shishkin, P.S. Zelenovskiy. Ferroelectrics 373, 99 (2008)
  11. В.М. Фридкин. Сегнетоэлектрики-полупроводники. Наука, М. (1976). 408 с
  12. P.V. Lambeck, G.H. Jonker. Ferroelectrics 22, 729 (1978)
  13. A.K. Tagantsev, I. Stolichnov, E.L. Colla, N. Setter. J. Appl. Phys. 90, 1387 (2001)
  14. R. Lohkamper, H. Neumann, G. Arlt. J. Appl. Phys. 68, 4220 (1990)
  15. M. Grossmann, O. Lohse, D. Bolten, U. Boettger, R. Waser. J. Appl. Phys. 92, 2688 (2002)
  16. V. Gopalan, M.C. Gupta. Appl. Phys. Lett. 68, 888 (1996)
  17. В.Я. Шур, В.В. Летучев, И.Н. Попов. ФТТ 24, 3444 (1982)
  18. В.Я. Шур, В.В. Летучев, И.Н. Попов. ФТТ 24, 2854 (1982)
  19. В.Я. Шур, И.Н. Попов, Н.В. Коровина. ФТТ 26, 781 (1984)
  20. В.Я. Шур, А.Л. Груверман, Н.В. Коровина, М.З. Орлова, Л.В. Шерстобитова. ФТТ 30, 299 (1988)
  21. V.Y. Shur. Phase Trans. 65, 49 (1998)
  22. V.Y. Shur, E.V. Nikolaeva, E.I. Shishkin, I.S. Baturin, A.G. Shur, T. Utschig, T. Schlegel, D.C. Lupascu. J. Appl. Phys. 98, 074 106 (2005)
  23. J.H. Ro, M. Cha. Appl. Phys. Lett. 77, 2391 (2000)
  24. M. Paturzo, P. Ferraro, S. Crilli, D. Alfieri, P. De Natale, M. de Angelis, A. Finizio, S. De Nicola, G. Pierattini, F. Caccavale, D. Callejo, A. Morbiato. Opt. Express 13, 5416 (2005)
  25. F. Caccavale, D. Callejo, C. Dragoni, A. Morbiato, M. Musolino, M. Properzi. Proc. SPIE 5621, 77 (2004)
  26. P.F. Bordui, R.G. Norwood, D.H. Jundt, M.M. Fejer. J. Appl. Phys. 71, 875 (1992)
  27. K. Kitamura, Y. Furukawa, K. Niwa, V. Gopalan, T.E. Mitchell. Appl. Phys. Lett. 73, 3073 (1998)
  28. I.S. Baturin, A.R. Akhmatkhanov, V.Ya. Shur, M.S. Nebogatikov, M.A. Dolbilov, E.A. Rodina. Ferroelectrics 374, 1 (2008)
  29. V.Ya. Shur, I.S. Baturin, M.S. Nebogatikov, S.A. Negashev, A.I. Lobov, E.A. Rodina. Ferroelectrics 374, 78 (2008)
  30. А.Ю. Кудзин, Т.В. Панченко, С.П. Юдин. ФТТ 16, 2437 (1974)
  31. V.Y. Shur, E.L. Rumyantsev, E.V. Nikolaeva, E.I. Shishkin. Appl. Phys. Lett. 77, 3636 (2000)
  32. X.J. Lou. J. Appl. Phys. 105, 024 101 (2009)
  33. V. Gopalan, T.E. Mitchell. J. Appl. Phys. 85, 2304 (1999)
  34. V. Gopalan, Q.X. Jia, T.E. Mitchell. Appl. Phys. Lett. 75, 2482 (1999)
  35. I.S. Baturin, M. Konev, A.R. Akhmatkhanov, A.I. Lobov, V.Ya. Shur. Ferroelectrics 374, 136 (2008)
  36. V.Y. Shur, E.V. Nikolaeva, E.I. Shishkin, V.L. Kozhevnikov, A.P. Chernykh, K. Terabe, K. Kitamura. Appl. Phys. Lett. 79, 3146 (2001)
  37. M.L. Muller, E. Soergel, K. Buse. Opt. Lett. 28, 2515 (2003).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.