Вышедшие номера
Определение структурных параметров градиентного эпитаксиального слоя методами высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии. II. Решение обратной задачи в рамках кинематической и статистической динамической теории дифракции
Пунегов В.И.1, Павлов К.М.1, Подоров С.Г.1, Фалеев Н.Н.1
1Сыктывкарский государственный университет им. Питирима Сорокина, Сыктывкар, Россия
Поступила в редакцию: 28 марта 1995 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 1995 г.

Экспериментальные результаты высокоразрешающей двух- и трехкристальной дифрактометрии использованы для решения обратной задачи рентгеновской дифракции на градиентной гетероэпитаксиальной системе AlGaAs/(001)GaAs. Два метода, разработанные в рамках кинематического приближения (итерационный расчет) и статистической динамической теории дифракции (методом прямого поиска), лежат в основе решения данной проблемы. В процессе вычислений структурных характеристик неоднородного эпитаксиального слоя использовалось начальное приближение, полученное экспрессными методами рентгенодифракционной диагностики. Проведены расчеты профиля деформаций, а также распределения концентрации и размеров дефектов по глубине градиентного эпитаксиального слоя.