Вышедшие номера
Локальная динамика решетки кристаллов типа флюорита с примесями замещения в рамках оболочечной модели
Игнатьев И.В.1
1Санкт-Петербургский государственный университет
Поступила в редакцию: 11 марта 1993 г.
Выставление онлайн: 19 июня 1993 г.

В рамках оболочечной модели динамики решетки разработан метод расчета плотности различных типов колебаний, возмущенных внедрением примесного иона. Получены выражения для расчета плотности возмущенных (дефектных) колебаний остовов и оболочек ионов. Для кристаллов со структурой флюорита построена модель дефекта, учитывающая изменение статических и динамических свойств решетки в пределах комплекса AB8 при замещении основного иона решетки (катиона A) на примесный ион. Для кристалла BaF2 проведены расчеты спектров дефектных колебаний симметрии Gamma4u комплекса AB8. Исследована зависимость степени локализации колебаний от параметров дефекта. Показано, что для достаточно сильно локализованных колебаний спектр абсолютных смещений оболочек ионов сильно отличается от спектра смещений остовов ионов.