Оптика и спектроскопия

Авторам

Правила оформления публикаций

Вышедшие номера

2025
- 1 2 3
2024
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2023
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2022
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2021
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2020
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2019
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2018
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Тонкие пленки гексаферрита BaM (BaFe₁₂O₁₉) на подложках Al₂O₃(01-12): кристаллическая структура и магнитные свойства

Russian Science Foundation, No. 22-22-00768, https://rscf.ru/en/project/22-22-00768/ (accessed on 13 January 2022)

Ministry of Education and Science of the Russian Federation, Spin, No. 122021000036-3

Кричевцов Б.Б.¹, Коровин А.М.¹, Сутурин С.М.¹, Левин А.А.¹, Соколов Н.С.¹, Федоров В.В.², Телегин А.В.³, Шишкин Д.А.³

¹Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия Ioffe Institute, St. Petersburg, Russia

²Санкт-Петербургский национальный исследовательский Академический университет имени Ж.И. Алфёрова Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия Alferov Federal State Budgetary Institution of Higher Education and Science Saint Petersburg National Research Academic University of the Russian Academy of Sciences, St. Petersburg, Russia

Alferov Federal State Budgetary Institution of Higher Education and Science Saint Petersburg National Research Academic University of the Russian Academy of Sciences, St. Petersburg, Russia

³Институт физики металлов им. М.Н. Михеева Уральского отделения Российской академии наук, Екатеринбург, Россия M.N. Mikheev Institute of Metal Physics, Ural Branch, Russian Academy of Sciences, Yekaterinburg, Russia

M.N. Mikheev Institute of Metal Physics, Ural Branch, Russian Academy of Sciences, Yekaterinburg, Russia

Email: boris@mail.ioffe.ru

Поступила в редакцию: 28 апреля 2024 г.

В окончательной редакции: 21 июля 2024 г.

Принята к печати: 30 октября 2024 г.

Выставление онлайн: 9 января 2025 г.

PDF версия

Абстракт
Литература
Статистика просмотров

Эпитаксиальные пленки гексаферрита BaM (BaFe₁₂O₁₉) толщиной 50 nm выращены на подложках R-среза сапфира α-Al₂O₃ (01-12) методом лазерной молекулярно-лучевой эпитаксии (LMBE). Исследованы их кристаллическая структура, магнитные свойства до и после проведения послеростового отжига. Обнаружено, что в отожженных пленках, полученных методом LMBE, легкая ось магнитной анизотропии отклонена от нормали к поверхности, что дает возможность переключать намагниченность как нормальным, так и тангенциальным магнитными полями, и приводит к зависимости формы петель гистерезиса от ориентации поля в плоскости пленки. Ключевые слова: гексаферриты, тонкие пленки, процессы намагничивания, лазерная молекулярно-лучевая эпитаксия.

V.V. Kruglyak, S.O. Demokritov, D. Grundler. J. Phys. D., 43, 264001 (2010)
D.J. Grundler. J. Phys. D., 49, 391002 (2016)
V.G. Harris, Zh. Chen, Y. Chen et al. J. Appl. Phys., 99, 08M911 (2006)
V.G. Harris. IEEE Transactions on magnetics, 48, 1075 (2012)
B. Krichevtsov, A. Korovin, S. Suturin et al. Materials, 16, 4417 (2023)
B.B. Krichevtsov, A.M. Korovin, A.A. Levin et al. Phys. Sol. St., 65, 2012 (2023)
X. Zhang, S. Mengl, D. Song et al. Sci. Rep., 7, 44193 (2017). DOI: 10.1038/srep44193
T.L. Hylton, M.A. Parker, K.R. Coffey, J.K. Howard. J. Appl. Phys., 73, 6257 (1993). DOI: 10.1063/1.354065

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель