Вышедшие номера
Home » Оптика и спектроскопия » Год 2023, выпуск 6 » Статья стр. 888
<<<
Изотопический сдвиг ИК полос поглощения монокристаллов германия
DOI: 10.21883/OS.2023.06.55926.4334-22
Переводная версия: 10.61011/EOS.2023.06.56675.4334-22
Минобрнауки России, государственное задание, 0817-2023-006
Минобрнауки России, 75-03-2022-056
Минобрнауки России, 122031000234-2
Кропотов Г.И. 1, Рогалин В.Е. 2, Каплунов И.А. 3, Шахмин А.А. 4, Филин С.А. 5, Буланов А.Д. 6
1ООО «Тидекс», Санкт-Петербург, Россия
2Институт электрофизики и электроэнергетики РАН, Санкт-Петербург, Россия
3Тверской государственный университет, Тверь, Россия
4ООО "Тидекс", Санкт-Петербург, Россия
5Российский экономический университет им. Г.В. Плеханова, Москва, Россия
6Институт химии высокочистых веществ им. Г.Г. Девятых РАН, Нижний Новгород, Россия
Email: grigorykropotov@tydex.ru, v-rogalin@mail.ru, kaplunov.ia@tversu.ru, AlexeyShakhmin@tydex.ru, Filin.SA@rea.ru, bulanov@ihps-nnov.ru
Поступила в редакцию: 16 ноября 2022 г.
В окончательной редакции: 16 ноября 2022 г.
Принята к печати: 16 мая 2023 г.
Выставление онлайн: 19 июля 2023 г.
PDF версия
Обнаружено четкое соответствие между положением пика в ИК спектре поглощения изотопически чистых монокристаллов германия и массовым числом изотопа. Полученная зависимость может быть использована для экспресс-анализа массового состава изотопически чистых монокристаллов германия. Ключевые слова: монокристаллы германия, изотопы, спектр поглощения, полоса поглощения.
  1. О.И. Подкопаев, А.Ф. Шиманский. Выращивание монокристаллов германия с низким содержанием дислокаций и примесей (Сиб. федер. ун-т, Красноярск, 2013)
  2. L. Claeys, E. Simoen. Germanium-based technologies: from materials to devices (Berlin: Elsevier, 2007). www.sciencedirect.com/science/book/9780080449531
  3. M. Bosi, G. Atolini. Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials, 56, 146-174 (2010). DOI: 10.1016/j.pcrysgrow.2010.09.002
  4. И.А. Каплунов, В.Е. Рогалин. Фотоника, 13 (1), 88-106 (2019). DOI: 10.22184/FRos.2019.13.1.88.106
  5. В.В. Коротаев, Г.С. Мельников, С.В. Михеев, В.М. Самков, Ю.И. Солдатов. Основы тепловидения (ИТМО, СПб., 2012)
  6. Е.Е. Алексеев, С.Ю. Казанцев, И.Г. Кононов, В.Е. Рогалин, К.Н. Фирсов. Опт. и спектр., 124 (6), 790794 (2018). DOI: 10.21883/OS.2018.06.46082.180-17 [E.E. Alekseev, S.Yu. Kazantsev, I.G. Kononov, V.E. Rogalin, K.N. Firsov. Opt. Spectrosc., 124 (6), 821-825 (2018). DOI: 10.1134/S0030400X18060036]
  7. А.В. Гусев, А.М. Гибин, И.А. Андрющенко, В.А. Гавва, Е.А. Козырев. ФТТ, 57 (9), 1868-1870 (2015)
  8. И.Я. Померанчук. ЖЭТФ, 2, 245-254 (1942)
  9. В.И. Ожогин, А.В. Инюшин, А.Н. Талденков, А.В. Тихомиров, Г.Э. Попов, Ю. Халлер, К. Ито. Письма в ЖЭТФ, 63 (6), 463-467 (1996)
  10. И.Я. Померанчук. ЖЭТФ, 12, 419 (1942)
  11. К.М. Itoh, W.L. Hansen, E.E. Haller, J.W. Farmer, V.I. Ozhogin, A. Rudnev, A.V. Tikhomirov. J. Mater. Research., 8 (6), 1341-1347 (1993). DOI: 10.1557/JMR.1993.1341
  12. M. Cardona, M.L.W. Thewalt. Rew. Mod. Phys. 77 (4), 1173-1224 (2005). DOI: 10.1103/RevModPhys.77.1173
  13. Высокочистые вещества, под ред. М.Ф. Чурбанова, Ю.А. Карпова, П.В. Зломанова, В.А. Фёдорова (Научный мир, М., 2018)
  14. В.А. Гавва, О.Ю. Трошин, С.А. Адамчик, А.Ю. Лашков, Н.В. Абросимов, А.М. Гибин, П.А. Отопкова, А.Ю. Созин, А.Д. Буланов. Неорганические материалы, 58 (3), 258-263 (2022). DOI: 10.31857/S0002337X22030058
  15. Изотопы: свойства, получение, применение, под ред. В.Ю. Баранова (ИздАт, М., 2000)
  16. M. Sanati, S.K. Estreicher, M. Cardona. Solid State Commun., 131, 229-233 (2004). DOI: 10.1016/j.ssc.2004.04.043
  17. А.В. Инюшкин. Неорганические материалы, 38 (5), 527 (2002) [A.V. Inyushkin. Inorganic Materials, 38 (5), 427-433 (2002). DOI: 10.1002/pssc.200405341]
  18. А.А. Каминский, В.Г. Ральченко, А.П. Большаков, А.В. Инюшкин. ДАН, 464 (6), 676-678 (2015). DOI: 10.7868/S086956521530009X
  19. А.П. Жернов. ФТТ, 41 (7), 1185-1189 (1999)
  20. A.V. Inyushkin, A.N. Taldenkov, V.I. Ozhogin, K.M. Itoh, E.E. Haller. Phys. Rev. B., 68, 153203 (2003). DOI: 10.1103/PhysRevB.68.153203
  21. I.G. Kuleev, I.I. Kuleev, A.V. Inyushkin, V.I. Ozogin. J. Exp. Theor. Phys., 101 (2), 322-330 (2005). DOI: 10.1134/1.204779
  22. К.А. Валиев. Успехи физ. наук, 175 (1), 3-39 (2005) [K.A. Valiev. Physics-Uspekhi, 48 (1), 1-36 (2005). DOI: 10.1070/PU2005v048n01ABEH002024]
  23. B.E. Kane. Nature, 393, 33-137 (1998). DOI: 10.1038/30156
  24. R.M. Jock, A.M. Tyryshkin, J.W. Beeman, E.E. Haller, K.M. Itoh, S.A. Lyon. Phys. Rev. Lett., 115, 247601 (2015). DOI: 10.1103/PhysRevLett.115.247601
  25. S. Schoenert. Nucl. Phys. Proc. Suppl., 145 (1), 242-245 (2005). DOI: 10.1016/j.nuclphysbps.2005.04.014
  26. C. Aalseth, D. Anderson, R. Arthur et. al. Nucl. Phys. Proc. Suppl., 138 (1), 217-220 (2005). DOI: 10.1016/j.nuclphysbps.2004.11.052
  27. H. Simka, M. Hierlemann, M. Utz, K.F. Jensen. J. Electrochem. Soc., 143, 2646-2654 (1996). DOI: 10.1149/1.1837063
  28. М.Ф. Чурбанов, А.Д. Буланов, В.А. Гавва, Е.А. Козырев, И.А. Андрющенко, В.А. Липский, С.М. Зырянов. Способ получения изотопных разновидностей элементарного германия с высокой изотопной и химической чистотой. Патент RU 2641126 (2016)
  29. Ю. Пуранс, В.И. Ожогин, С.И. Тютюнников. Перспективные материалы, 8, 395-399 (2010)
  30. А.М. Потапов, П.А. Отопкова, А.Д. Буланов. В сб.: Тезисы докладов Третьего съезда аналитиков России (ГЕОХИ РАН, Москва, 2017), c. 97
  31. В.Е. Рогалин, И.С. Ценина, И.А. Каплунов. Научно-техн. ведомости СПб. Гос. политех. ун-та, 4-1 (183), 353-358 (2013)
  32. И.А. Каплунов, В.Е. Рогалин, М.Ю. Гавалян. Опт. и спектр., 118 (2), 254-260 (2015). DOI: 10.7868/S0030403415020087 [I.A. Kaplunov, V.E. Rogalin, M.Yu. Gavalyan. Opt. Spectrosc., 118 (2), 240-246 (2015). DOI: 10.1134/S0030400X15020083]
  33. А.В. Гусев, А.Д. Буланов, С.В. Филимонов, С.М. Зырянов, Д.Г. Арефьев, М.Ф. Чурбанов, И.А. Андрющенко, А.М. Потапов, В.А. Гавва, С.А. Адамчик. Перспективные материалы, 10, 17-20 (2011)
  34. M.F. Churbanov, V.A. Gavva, A.D. Bulanov, N.V. Abrosimov, E.A. Kozyrev, I.A. Andryushchenko, V.A. Lipskii, S.A. Adamchik, O.Yu. Troshin, A.Yu. Lashkov, A.V. Gusev. Cryst. Res. Technol., 52 (4), 1700026(6) (2017). DOI: 10.1002/crat.201700026
  35. ГОСТ 3520-92. Материалы оптические. Методы определения показателей ослабления. Введ. 1993-07-01 (Изд-во стандартов, М., 1992)
  36. Ю.М. Смирнов, И.А. Каплунов. Материаловедение, 5, 48-52 (2004)
  37. Ю.И. Уханов. Оптические свойства полупроводников (Наука, М., 1977)
  38. V.A. Lipskiy, V.O. Nazaryants, T.V. Kotereva, A.D. Bulanov, V.A. Gavva, V.V. Koltashev, M.F. Churbanov, V.G. Plotnichenko. Appl. Opt., 58, 7489-7496 (2019). DOI: 10.1364/AO.58.007489
  39. H.D. Fuchs, C.H. Grein, M. Bauer, M. Cardona. Phys. Rev. B., 45 (8), 4065 (1992). DOI: 10.1103/PhysRevB.45.4065
  40. K.М. Iton, W.L. Hansen, E.E. Haller, J.W. Farmer, V.I. Ozhogin, A. Rudnev, A. Tikhomirov. J. Mater. Res., 8, 1341-1347 (1993). DOI: 10.1557/JMR.1993.1341

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme