Вышедшие номера
Исследование вольт-амперных характеристик оптических материалов системы AgBr-AgI
Тураби А.1, Акифьева Н.Н.1, Корсаков А.С.1, Жукова Л.В.1, Южакова А.А.1, Салимгареев Д.Д.1, Зеленкова Ю.О.1
1Уральский федеральный университет им. первого Президента России Б.Н. Ельцина, Екатеринбург, Россия
Email: l.v.zhukova@urfu.ru
Поступила в редакцию: 22 февраля 2022 г.
В окончательной редакции: 22 июня 2022 г.
Принята к печати: 15 июля 2022 г.
Выставление онлайн: 26 сентября 2022 г.

Инфракрасные (ИК) световоды на основе кристаллов и керамики системы AgBr-AgI прозрачны в среднем ИК диапазоне от 3 до 26 μm, что востребовано для тепловизионной, лазерной техники и спектроскопии. Высокая фото- и радиационная стойкость делает эти материалы особенно привлекательными для решения задач по передаче оптического излучения в агрессивных внешних условиях. Для проектирования оптического оборудования необходима информация об электрических свойствах материала, наиболее полно характеризующихся вольт-амперной характеристикой (ВАХ). В работе рассмотрены изменения ВАХ оптических материалов, полученных в виде пластин толщиной от 0.1 до 1.7 mm, составов от 4 до 76 mol.% AgI в системе AgBr-AgI в зависимости от состава и температуры в диапазоне 298-453 K. Установлено, что увеличение содержания AgI в кристаллических материалах систем AgBr-AgI приводит к снижению электропроводности. Значения удельной проводимости для керамики системы AgBr-AgI на 2-3 порядка выше, чем для кристаллов при аналогичных температурах и приложенных напряжениях. Значения удельной проводимости для керамики находятся на уровне проводимости твердых электролитов. При температуре 463 K фазового перехода β-AgI-α-AgI в керамике системы AgBr-AgI наблюдается скачок проводимости, что объясняется фазовым переходом β-AgI-α-AgI. Для исследуемого материала до и после электрического пробоя измерены характеристики пропускания ИК излучения. Было установлено, что электрический пробой приводит к ухудшению пропускания более чем на 20% во всем исследуемом спектральном диапазоне от 1.3 до 25 μm. Информация о значениях напряжения пробоя для материалов различного состава важна для проектирования оптических приборов с использованием материалов системы AgBr-AgI, предназначенных для применения в электротехническом оборудовании, в целях обеспечения надежности и безопасности этих приборов. В работе регистрируется факт ухудшения оптических свойств кристаллических материалов системы AgBr-AgI при применении определенной разности потенциалов, а также величина разрушающей разности потенциалов. Следует также отметить, что значение разрушающей разности потенциалов исследуется путем приложения постоянного напряжения, но это значение также является разрушающим и при приложении переменного напряжения аналогичной амплитуды. Ключевые слова: твердые растворы системы AgBr-AgI, вольт-амперная характеристика, удельная проводимость, пропускание, электрический пробой, ИК кристаллы, ИК керамика.
  1. D. Salimgareev, A. Lvov, L. Zhukova, D. Belousov, A. Yuzhakova, D. Shatunova, A. Korsakov, A. Ishchenko. Optics and Laser Technology, 149, 107825 (2022). DOI: 10.1016/j.optlastec.2021.107825
  2. D. Salimgareev, A. Lvov, A. Yuzhakova, D. Shatunova, D. Belousov, A. Korsakov, L. Zhukova. Optical Materials, 125, 112124 (2022)
  3. Д.Д. Салимгареев, А.А. Южакова, А.Е. Львов, Л.В. Жукова, А.С. Корсаков. Фотон-экспресс, 6 (174), 80-81 (2021). DOI: 10.24412/2308-6920-2021-6-80-81
  4. А.А. Южакова, Д.Д. Салимгареев, А.Е. Львов, А.С. Корсаков, Л.В. Жукова. Лазерно-информационные технологии: труды XXIX Международной научной конференции (БГТУ, Новороссийск, 2021), с. 126-127
  5. L.V. Zhukova, A.E. Lvov, D.D. Salimgareev, V.S. Korsakov. Opt. Spectrosc. 125 (6), 933-943 (2018). DOI: 10.1134/S0030400X18120238
  6. M.P. Kharain, V.S. Kostarev, N.N. Akif'eva, A.A. Yuzhakova, L.V. Zhukova, A.S. Korsakov. Containment. 2021. In: IOP Conf. Ser.: Mater. Sci. Eng., 1089, 012048 (2021). DOI: 10.1088/1757-899X/1089/1/012048
  7. A. Turabi, A.S. Korsakov, L.V. Zhukova, B.P Zhilkin. Optical Materials, 109 (4), 110215 (2020). DOI: 10.1016/j.optmat.2020.110215
  8. E. Korsakova, A. Lvov, D. Salimgareev, A. Korsakov, S. Markham, A. Mani, C. Silien, T.A.M. Syed, L. Zhukova. Infrared Physics and Technology, 93, 171-177 (2018). DOI: 10.1016/j.infrared.2018.07.031".2018.07.031
  9. Национальный стандарт Российской Федерации "Комплексы для измерений параметров побочных электромагнитных излучений и наводок", ГОСТ Р 53112-2008. [Электронный ресурс]. URL: https://docs.cntd.ru/document/1200075567
  10. Стандарт организации ОАО "ФСК ЕЭС", "Методические указания по определению наведенного напряжения на отключенных воздушных линиях, находящихся вблизи действующих ВЛ", СТО 56947007-29.240.55.018-2009 [Электронный ресурс]. URL: https://www.fsk-ees.ru/upload/docs/STO-56947007- 29.240.55.018-2009.pdf
  11. J. Wang, S. Wang, L. Cai, D. Lu, Q. Li, M. Zhou, Y. Fan. IEEE transactions on power delivery, 35 (4), 1968-1976 (2020). DOI: 10.1109/TPWRD.2019.2958182
  12. А.К. Иванов-Шиц, И.В. Мурин. Ионика твердого тела. Т. 1 (СПбГУ, Санкт-Петербург, 2000)
  13. V.V. Tomaev, Y.S. Tver'yanovich, M.D. Bal'makov. Crystallography Rep., 57 (7), 948-954 (2012)
  14. L.S. Cain, L.M. Slifkin. J. Phys. Chem. Solids, 41, 173-178 (1978)
  15. A. Yuzhakova, D. Salimgareev, A. Turabi, A. Korsakov, L. Zhukova. Optics and Laser Technology, 139, 106995 (2021). DOI: 10.1016/j.optlastec.2021.106995
  16. Элементарный учебник физики. Под ред. Г.С. Ландсберга. Т. II. Электричество и магнетизм. (Наука, Москва, 1985) 479 с
  17. А.К. Иванов-Шиц, И.В. Мурин. Ионика твердого тела. Т2 (СПбГУ, Санкт-Петербург, 2000)
  18. S. Ono, R. Tomizawa, T. Nagai. Phase Transitions, 93 (9), 856-864 (2020). DOI: 10.1080/01411594.2020.1798956
  19. T. Tani, H. Mifune, S. Yamashita, S. Aiba, T. Ohzeki, K. Yamane, J. Imaging Sci. Technol., 51 (3), 202-206 (2007) DOI: 10.2352/J.ImagingSci.Technol.(2007)51:3(202)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.