Вышедшие номера
Home » Оптика и спектроскопия » Год 2022, выпуск 8 » Статья стр. 1229
<<<>>>
Адаптивная и активная рентгеновская оптика
DOI: 10.21883/OS.2022.08.52910.65-21
Переводная версия: 10.21883/EOS.2022.08.54773.65-21
Лидер В.В.1
1Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, Москва, Россия
Email: vallider@yandex.ru
Поступила в редакцию: 11 января 2022 г.
В окончательной редакции: 3 июня 2022 г.
Принята к печати: 3 июня 2022 г.
Выставление онлайн: 6 июля 2022 г.
PDF версия
Описаны принципы работы и возможности рентгеновской адаптивной и активной оптики. Рассмотрены основные исполнительные механизмы изгиба зеркал полного внешнего отражения, используемых на источниках синхротронного излучения и в рентгеновских телескопах. Особое внимание уделено метрологии волнового фронта с использованием датчиков Шака-Гартмана, а также датчиков на основе решетчатых интерферометров, рентгеновских спеклов и птихографии. Ключевые слова: рентгеновские лучи, адаптивная оптика, активная оптика, биморфное зеркало, волновой фронт, метрология.
  1. H.W. Babcock. Pub. Astr. Soc. Pac., 65 (386), 229 (1953). DOI: 10.1086/126606
  2. В.П. Линник. Опт. и спектр., 25 (4), 401 (1957)
  3. N. Woolf. In: IAU Colloq. 79: Very Large Telescopes, their Instrumentation and Programs (1984), р. 221
  4. R.N. Wilson, F. Franza, L. Noethe. J. Mod. Opt., 34 (4), 485 (1987). DOI: 10.1080/09500348714550501
  5. E.L. Church, P.Z. Takacs. Opt. Eng., 34 (2), 353 (1995). DOI: 10.1117/12.196057
  6. G.E. Ice, J.D. Budai, J.W.L. Pang. Science., 334 (6060), 1234 (2011). DOI: 10.1126/science.1202366
  7. M. Idir, L. Huang, N. Bouet, K. Kaznatcheev, M. Vescovi, K. Lauer, R. Conley, K. Rennie, J. Kahn, R. Nethery, L. Zhou. Rev. Sci. Instrum., 86 (10), 105120 (2015). DOI: 10.1063/1.4934806
  8. Y. Takei, T. Kume, H. Motoyama, K. Hiraguri, H. Hashizume, H. Mimura. Proc. SPIE, 8848, 88480C (2013). DOI: 10.1117/12.2023940
  9. D.J. Bell, T.J. Lu, N.A. Fleck, S.M. Spearing. J. Micromech. Microeng., 15 (7), S153 (2005). DOI: 10.1088/0960-1317/15/7/022
  10. M.R. Howells, D. Camble, R.M. Duarte, S Irick., A.A. MacDowell, H.A. Padmore, T.R. Renner, S. Rah, R. Sandler. Opt. Eng., 39 (10), 2748 (2000). DOI: 10.1117/1.1289879
  11. R. Barrett, R. Baker, P. Cloetens, Y. Dabin, C. Morawe, H. Suhonen, R. Tucoulou, A. Vivo, L. Zhang. Proc. SPIE., 8139, 813904 (2011). DOI: 10.1117/12.894735
  12. O. Hignette, G. Rostaing, P. Cloetens, A. Rormneveaux, W. Ludwig, A. Freund. Proc. SPIE., 4499, 105 (2001). DOI: 10.1117/12.450227
  13. L. Zhang, R. Baker, R. Barrett, P. Cloetens, Y. Dabin. AIP Conf. Proc., 1234, 801 (2010). DOI: 10.1063/1.3463335
  14. P. Eng, M. Newville, M.L. Rivers, S.R. Sutton. Proc. SPIE., 3449, 145 (1998). DOI: 10.1117/12.330342
  15. S.J. Chen, C.K. Kuan, S.Y. Perng, D.J. Wang, H.C. Ho, T.C. Tseng, Y.C. Lo, C.T. Chen. Opt. Eng., 43 (12), 3077 (2004). DOI: 10.1117/1.1813438
  16. J. Nicolas, C. Colldelram, C. Ruget, L. Ribo, P. Pedreira, P. de la Rubia, C. Marti n-Nuno, D. Ubeda, A. Tomas. Proc. SPIE, 9965, 996503 (2016). DOI: 10.1117/12.2239533
  17. I.T. Nistea, S.G. Alcock, P. Kristiansen, A. Young. J. Synchrotron Rad., 24 (3), 615 (2017). DOI: 10.1107/S1600577517005422
  18. D. Shu, A. Li, S.P. Kearney, C. Mao, J. Anton, R. Harder, X. Shi, T. Mooney, L. Assoufid. AIP Conf. Proc., 2054, 060015 (2019). DOI: 10.1063/1.5084646
  19. W. Liu, G.E. Ice, J.Z. Tischler, A. Khounsary, C. Liu, L. Assoufid, A.T. Macrander. Rev. Sci. Instrum., 76 (11), 113701 (2005). DOI: 10.1063/1.2125730
  20. H. Mimura, H. Yumoto, S. Matsuyama, Y. Sano, K. Yamamura, Y. Mori, M. Yabashi. Appl. Phys. Lett., 90 (5), 051903 (2007). DOI: 10.1063/1.2436469
  21. B. Park. Development of a Low Voltage and Large Stroke MEMS-based Lorentz Force Continuous Deformable Polymer Mirror System. Thesis (University of Manitoba, Winnipeg, MB, 2018)
  22. X. Lv, W. Wei, X. Mao, Y. Chen, J. Yang, F. Yang. Sensors and Actuators A: Physical, 221, 22 (2015). DOI: 10.1016/j.sna.2014.10.028
  23. S.A. Cornelissen, A.L. Hartzell, J.B. Stewart, T.G. Bifano, P.A. Bierden. Proc. SPIE, 7736, 77362D (2010). DOI: 10.1117/12.857296
  24. S. Cornelissen, P. Bierden, T. Bifano, V. Charlie, J. Lam. Micro/Nanolith. MEMS MOEMS, 8 (3), 031308, (2009). DOI: 10.1117/1.3158067
  25. W.-M. Zhang, H. Yan, Z.-K. Peng, G. Meng. Sensors and Actuators A: Physical., 214, 187 (2014). DOI: 10.1016/j.sna.2014.04.025
  26. H. Liu, J. Zhong, C. Lee, S.-W. Lee, L. Lin. Appl. Phys. Rev., 5 (4), 041306 (2018). DOI: 10.1063/1.5074184
  27. C.T. DeRoo, R. Allured, V. Cotroneo, E. Hertz, V. Marquez, P.B. Reid, E.D. Schwartz, A.A. Vikhlinin, S. Trolier-McKinstry, J. Walker, T.N. Jackson, T. Liu, M. Tendulkar. Proc. SPIE, 10399, 103991M (2017). DOI: 10.1117/1.JATIS.4.1.019004
  28. V.D. Kugel, Sanjay Chandran, L.E. Cross. Appl. Phys. Lett., 69 (14), 2021 (1996). DOI: 10.1063/1.116866
  29. E. Hong, S.V. Krishnaswamy, C.B. Freidhoff, S. Trolier-McKinstry. Mat. Res. Soc. Symp. Proc., 687, 316 (2002). DOI: 10.1557/PROC-687-B5.16
  30. Q.Q. Zhang, S.J. Gross, S. Tadigadapa, T.N. Jackson, F.T. Djuth, S. Trolier-McKinstry. Sens. Actuators A., 105 (1), 91 (2003). DOI: 10.1016/S0924-4247(03)00068-2
  31. J. Susini, D. Labergerie, L. Zhang. Rev. Sci. Instrum., 66 (2), 2229 (1995). DOI: 10.1063/1.1145715
  32. R. Signorato, O. Hignette, J. Goulon. J. Synchrotron Radiat., 5 (3), 797 (1998). DOI: 10.1107/S0909049597012843
  33. Q.-M. Wang, X.-H. Du, B. Xu, L.E. Cross. J. Appl. Phys., 85 (3), 1702 (1999). DOI: 10.1063/1.369314
  34. S.G. Alcock, I. Nistea, J.P. Sutter, K. Sawhney, J.-J. Ferme, C. Thellier, L. Peverini. J. Synchrotron Rad., 22 (1), 10 (2015). DOI: 10.1107/S1600577514020025
  35. J.P. Sutter, S.G. Alcock, Y. Kashyap, I. Nistea, H. Wang, K. Sawhney. J. Synchrotron Rad., 23 (6), 1333 (2016). DOI: 10.1107/S1600577516013308
  36. Y. Zang, M. Li, S. Tang, J. Gao, W. Zhang, P. Zhu. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A., 860 (1) 13 (2017). DOI: 10.1016/j.nima.2017.03.053
  37. В.В. Грибко, А.С. Маркелов, В.Н. Трушин, Е.В. Чупрунов. ПТЭ, 62 (5), 119 (2019). DOI: 10.1134/S0032816219040256 [V.V. Gribko, A.S. Markelov, V.N. Trushin, E.V. Chuprunov. Instruments and Experimental Techniques, 62, 703 (2019). DOI: 10.1134/S0020441219040183]
  38. H.A.S. Mohd, Z.A.M. Ahmad. Evolutions Mech. Eng., 2 (3), 000538 (2019). DOI: 10.31031/EME.2019.02.000538
  39. H. Jung, D.-G. Gweon. Rev. Sci. Instrum., 71 (4), 1896 (2000). DOI: 10.1063/1.1150559
  40. С.Е. Александров, Е.А. Лямина, Н.М. Туан. Прикладная механика и техническая физика, 55 (4), 152 (2014). [S.E. Alexandrov, E.A. Lyamina, N.M. Tuan. J. Appl. Mech. Tech. Phy., 55 (4) 682 (2014). DOI: 10.1134/S0021894414040142]
  41. L. Prandtl. Zangew. Math. Mech., 3, 401 (1923)
  42. А.Ю. Ишлинский, Д.Д. Ивлев. Математическая теория пластичности (Физматлит, М., 2001)
  43. M. Rakotondrabe, C. Clevy, P. Lutz. IEEE Trans. Control Syst. Technol., 7 (3), 440 (2010). DOI: 10.1109/TASE.2009.2028617
  44. S.G. Alcock, I.-T. Nistea, V.G. Badami, R. Signorato, K. Sawhney. Rev. Sci. Instrum., 90 (2), 021712 (2019). DOI: 10.1063/1.5060737
  45. J.D. French, R.B. Cass. Am. Ceram. Soc. Bull., 77 (5), 61 (1998)
  46. L.J. Nelson, C.R. Bowen. Key. Eng. Mater., 206--213, 1509 (2002). DOI: 10.4028/www.scientific.net/KEM.206-213.1509
  47. C.R. Bowen, R. Stevens, L.J.N.A.C. Dent, G. Dolman, B. Su, T.W. Button, M.G. Cain, M. Stewart. Smart Mater. Struct., 15 (2), 295 (2006). DOI: 10.1088/0964-1726/15/2/008
  48. M.P. Ulmer, X. Wang, J. Cao, S. Vaynman. Proc. SPIE, 8861, 88611R (2013). DOI: 10.1117/12.2024217
  49. M.P. Ulmer, X. Wang, P. Knapp, J.-L. Cao, Y. Cao, T. Karian, S. Grogans, M. Graham, S. Vaynman, Y. Yao. Proc. SPIE, 9208, 920808 (2014). DOI: 10.1117/12.2062008
  50. X. Wang, Y. Yao, J. Cao, S. Vaynman, M.E. Graham, T. Liu, M.P. Ulmer. Proc. SPIE, 9603, 96031O (2015). DOI: 10.1117/12.2187070
  51. A.K. Bastola, M. Hossain. Materials \& Design, 211, 110172 (2021). DOI: 10.1016/j.matdes.2021.110172
  52. A. Khounsary, W. Yun. Rev. Sci. Instrum., 67 (9), 3354 (1996). DOI: 10.1063/1.1147402
  53. D. Cocco, C. Hardin, D. Morton, L. Lee, M.L. Ng, L. Zhang, L. Assoufid, W. Grizolli, X. Shi, D.A. Walko, G. Cutler, K.A. Goldberg, A. Wojdyla, M. Idir, L. Huang, G. Dovillaire. Opt. Express, 28 (13), 19242 (2020). DOI: 10.1364/OE.394310
  54. L. Zhang, D. Cocco, N. Kelez, D.S. Morton, V. Srinivasan, P.M. Stefan. J. Synchrotron Rad., 22 (5), 1170 (2015). DOI: 10.1107/S1600577515013090
  55. D. Laundy, V. Dhamgaye, T. Moxham, K. Sawhney. Optica, 6 (12), 1484 (2019). DOI: 10.1364/OPTICA.6.001484
  56. B. Jenichen, R. Kohler, W. Mohling. J. Phys. E: Sci. Instrum., 21 (11), l062 (1988). DOI: 10.1088/0022-3735/21/11/012
  57. B. Jenichen, T. Wroblewski, R. Kohler. J. Phys. D: Appl. Phys., 28 (4А), A266 (1995). DOI: 10.1088/0022-3727/28/4A/052
  58. M. Popovici, W.B. Yelon. J. Appl. Cryst., 25 (4), 471 (1992). DOI: 10.1107/S0021889892000359
  59. S. Stoupin, Z. Liu, S.M. Heald, D. Brewe, M. Meron. J. Appl. Cryst., 48 (6), 1734 (2015). DOI: 10.1107/S1600576715017446
  60. F. Seiboth, A. Schropp, M. Scholz, F. Wittwer, C. Rodel, M. Wunsche, T. Ullsperger, S. Nolte, J. Rahomaki, K. Parfeniukas, S. Giakoumidis, U. Vogt, U. Wagner, C. Rau, U. Boesenberg, J. Garrevoet, G. Falkenberg, E.C. Galtier, H. Ja Lee, B. Nagler, C.G. Schroer. Nat. Commun., 8 (1), 14623 (2017). DOI: 10.1038/ncomms14623
  61. K. Sawhney, D. Laundy, V. Dhamgaye, I. Pape. Appl. Phys. Lett., 109 (5), 051904 (2016). DOI: 10.1063/1.4960593
  62. D. Laundy, V. Dhamgaye, I. Pape, K.J. Sawhney. Proc. SPIE, 10386, 103860B (2017). DOI: 10.1117/12.2275134
  63. T. Kimura, S. Handa, H. Mimura, H. Yumoto, D. Yamakawa, S. Matsuyama, K. Inagaki, Y. Sano, K. Tamasaku, Y. Nishino, M. Yabashi, T. Ishikawa, K. Yamauchi. Jpn. J. Appl. Phys., 48 (7), 072503 (2009). DOI: 10.1143/JJAP.48.072503
  64. H. Mimura, S. Handa, T. Kimura, H. Yumoto, D. Yamakawa, H. Yokoyama, S. Matsuyama, K. Inagaki, K. Yamamura, Y. Sano, K. Tamasaku, Y. Nishino, M. Yabashi, T. Ishikawa, K. Yamauchi. Nat. Phys., 6 (2), 122 (2010). DOI: 10.1038/nphys1501
  65. K. Yamauchi, H. Mimura, T. Kimura, H. Yumoto, S. Handa, S. Matsuyama, K. Arima, Y. Sano, K. Yamamura, K. Inagaki, H. Nakamori, J. Kim, K. Tamasaku, Y. Nishino, M. Yabashi, T. Ishikawa. J. Phys.: Condens. Matter, 23 (39), 394206 (2011). DOI: 10.1088/0953-8984/23/39/394206
  66. H. Mimura, T. Kimura, H. Yokoyama, H. Yumoto, S. Matsuyama, K. Tamasaku, Y. Koumura, M. Yabashi, T. Ishikawa, K. Yamauchi. AIP Conf. Proc., 1365, 13 (2011). DOI: 10.1063/1.3625294
  67. C.L. Hardin, V.N. Srinivasan, L. Amores, N.M. Kelez, D.S. Morton, P.M. Stefan, J. Nicolas, L. Zhang, D. Cocco. Proc. SPIE, 9965, 996505 (2016). DOI: 10.1117/12.2235825
  68. W.N. Davis, P.B. Reid, D.A. Schwartz. Proc. SPIE, 7803, 78030P (2010). DOI: 10.1117/12.862522
  69. K.J.S. Sawhney, S.G. Alcock, R. Signorato. Proc. SPIE, 7803, 780303 (2010). DOI: 10.1117/12.861593
  70. P. Mercere, M. Idir, G. Dovillaire, X. Levecq, S. Bucourt, L. Escolano, P. Sauvageot. Proc. SPIE, 7803, 780302 (2010). DOI: 10.1117/12.860990
  71. C. Svetina, D. Cocco, A. Di Cicco, C. Fava, S. Gerusina, R. Gobessi, N. Mahne, C. Masciovecchio, E. Principi, L. Raimondi, L. Rumiz, R. Sergo, G. Sostero, D. Spiga, M. Zangrando. Proc. SPIE, 8503, 850302 (2012). DOI: 10.1117/12.929701
  72. L.A. Poyneer, N.F. Brejnholt, R. Hill, J. Jackson, L. Hagler, R. Celestre, J. Feng. Rev. Sci. Instrum., 87 (5), 052003 (2016). DOI: 10.1063/1.4950739
  73. J.P. Sutter, P.A. Chater, R. Signorato, D.S. Keeble, M.R. Hillman, M.G. Tucker, S.G. Alcock, I.-T. Nistea, H. Wilhelm. Opt. Express, 27 (11), 16121 (2019). DOI: 10.1364/OE.27.016121
  74. S.G. Alcock, J.P. Sutter, K.J.S. Sawhney, D.R. Hall, K. McAuley, T. Sorensen. Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. A, 710, 87 (2013). DOI: 10.1016/j.nima.2012.10.135
  75. T. Goto, S. Matsuyama, H. Hayashi, H. Yamaguchi, J. Sonoyama, K. Akiyama, H. Nakamori, Y. Sano, Y. Kohmura, M. Yabashi, T. Ishikawa, K. Yamauchi. Opt. Express, 26 (13), 17477 (2018). DOI: 10.1364/OE.26.017477
  76. S. Matsuyama, H. Yamaguchi, T. Inoue, Y. Nishioka, J. Yamada, Y. Sano, Y. Kohmura, M. Yabashi, T. Ishikawa, K. Yamauchi. Opt. Express, 29 (10), 15604 (2021). DOI: 10.1364/OE.422723
  77. P. Kirkpatric, A.V. Baez. J. Opt. Soc. Am. 38 (9), 766 (1948). DOI: 10.1364/JOSA.38.000766
  78. M. Cianci, G. Bourenkov, G. Pompidor, I. Karpics, J. Kallio, I. Bento, M. Roessle, F. Cipriani, S. Fiedler, T.R. Schneider. J. Synchrotron Rad., 24 (1), 323 (2017). DOI: 10.1107/S1600577516016465
  79. T. Kimura, S. Matsuyama, K. Yamauchi, Y. Nishino. Opt. Express, 21 (8), 9267 (2013). DOI: 10.1364/OE.21.009267
  80. K.P. Singh. J. Opt., 40 (3) 88 (2011). DOI: 10.1007/s12596-011-0040-2
  81. A.-C. Probst, T. Dohring, M. Stollenwerk, M. Wen, L. Proserpio. Proc. SPIE, 10562, 105621E (2016). DOI: 10.1117/12.2296167
  82. E. Wille, M. Bavdaz. Acta Astronautica, 116 (9), 50 (2015). DOI: 10.1016/j.actaastro.2015.06.011
  83. R. Petre. X-ray Opt. Instru., 2010 (8), ID 412323 (2010). DOI: 10.1155/2010/412323
  84. A. Winter, E. Breunig, P. Friedrich, L. Proserpio. Proc. SPIE, 10563, 1056321 (2017). DOI: 10.1117/12.2304243
  85. V. Cotroneo, R. Allured, C.T. DeRoo, K.L. Gurski, V. Marquez, P.B. Reid, E.D. Schwartz. Proc. SPIE, 10399, 10399 (2017). DOI: 10.1117/12.2275738
  86. V. Navalkar, K.P. Singh, M. J. Press. Astrophys. Astron., 40 (3), 24 (2019). DOI: 10.1007/s12036-019-9592-3
  87. S.L. O'Dell, T.L. Aldcroft, C. Atkins, T.W. Button, V. Cotroneo, W.N. Davis, P. Doel, C.H. Feldman, M.D. Freeman, M.V. Gubarev, R.L. Johnson-Wilke, J.J. Kolodziejczak, C.F. Lillie, A.G. Michette, B.D. Ramsey, P.B. Reid, D. Rodriguez Sanmartin, T.T. Saha, D.A. Schwartz, S.E. Trolier-McKinstry, M.P. Ulmer, R.H.T. Wilke, R. Willingale, W.W. Zhang. Proc. SPIE., 8503, 850307 (2012). DOI: 10.1117/12.930090
  88. P.B. Reid, S.S. Murray, S. Trolier-McKinstry, M. Freeman, M. Juda, W. Podgorski, B. Ramsey, D. Schwartz. Proc. SPIE, 7011, 70110V (2008). DOI: 10.1117/12.789371
  89. W.W. Craig, C.J. Hailey, M. Jimenez-Garate, D.L. Windt. Opt. Express, 7 (4), 178 (2000). DOI: 10.1364/OE.7.000178
  90. M. Elvis, R.J. Brissenden, G. Fabbiano, D.A. Schwartz, P. Reid, W. Podgorski, M. Eisenhower, M. Juda, J. Phillips, L. Cohen, S. Wolk. Proc. SPIE, 6266, 62661K (2006). DOI: 10.1117/12.672072
  91. C. Feldman, R. Willingale, C. Atkins, H. Wang, P. Doel, D. Brooks, S. Thompson, T. Button, D. Zhang, D. Rodriguez Sanmartin, A. James, C. Theobald. Proc. SPIE, 7011, 70110Y (2008). DOI: 10.1117/12.788759
  92. P.B. Reid, T.L. Aldcroft, V. Cotroneo, W. Davis, R. Johnson-Wilke, L. McMuldroch, B.D. Ramsey, D.A. Schwartz, S. Trolier-McKinstry, A. Vikhlinin, H. Rudeger S., R.H.T. Wilke. Proc. SPIE, 8443, 84430T (2012). DOI: 10.1117/12.926930
  93. D. Spiga, M. Barbera, A. Collura, S. Basso, R. Candia, M. Civitani, M.S. Di Bella, G. Di Cicca, U. Lo Cicero, G. Lullo, C. Pelliciari, M. Riva, B. Salmaso, L. Sciortino, S. Varisco. J. Synchrotron Rad., 23 (1), 59 (2016). DOI: 10.1107/S1600577515017142
  94. C.T. DeRoo, R. Allured, V. Cotroneo, E.N. Hertz, V. Marquez, P.B. Reid, E.D. Schwartz, A.A. Vikhlinin, S. Trolier-McKinstry, J. Walker, T.N. Jackson, T. Liu, M. Tendulkar. J. Astron. Telesc. Instrum. Syst., 4 (1), 019004 (2018). DOI: 10.1117/1.JATIS.4.1.019004
  95. J. Walker, T. Liu, M. Tendulkar, D.N. Burrows, C.T. DeRoo, R. Allured, E.N. Hertz, V. Cotroneo, P.B. Reid, E.D. Schwartz, T.N. Jackson, S. Trolier-McKinstry. Opt. Express, 26 (21), 27757 (2018). DOI: 10.1364/OE.26.027757
  96. W.W. Zhang, K.D. Allgood, M.P. Biskach, K.-W. Chan, M. Hlinka, J.D. Kearney, J.R. Mazzarella, R.S. McClelland, Ai Numata, R.E. Riveros, T.T. Saha, P.M. Solly. Proc. SPIE, 11119, 1111907 (2019). DOI: 10.1117/12.2530284
  97. M.C. Weisskopf, J. Gaskin, H. Tananbaum, A. Vikhlinin. Proc. SPIE, 9510, 951002 (2015). DOI: 10.1117/12.2185084
  98. J.M. Roche, R.F. Elsner, B.D. Ramsey, S.L. O'Dell, J.J. Kolodziejczak, M.C. Weisskopf, M.V. Gubarev. Proc. SPIE, 9965, 99650I (2016). DOI: 10.1117/12.2238171
  99. D.A. Schwartz, R. Allured, J.A. Bookbinder, V. Cotroneo, W.R. Forman, M.D. Freeman, S. McMuldroch, P.B. Reid, H. Tananbaum, A.A. Vikhlinin, R.L. Johnson-Wilke, S.E. Trolier-McKinstry, R.H.T. Wilke, T.N. Jackson, J. Israel Ramirez, M.V. Gubarev, J.J. Kolodziejczak, S.L. O'Dell, B.D. Ramsey. Proc. SPIE, 9208, 920806 (2014). DOI: 10.1117/12.2063469
  100. R.L. Johnson-Wilke, R.H.T. Wilke, M.L. Wallace, J.I. Ramirez, Z. Prieskorn, J. Nikoleyczik, V. Cotroneo, R. Allured, D.A. Schwartz, S. McMuldroch, P.B. Reid, D.N. Burrows, T.N. Jackson, S. Trolier-McKinstry. Proc. SPIE, 9208, 920809 (2014). DOI: 10.1117/12.2063369
  101. H. Wang, J. Sutter, K. Sawhney. Opt. Express, 23(2), 1605 (2015). DOI: 10.1364/OE.23.001605
  102. H. Wang, K. Sawhney, S. Berujon, J. Sutter, S.G. Alcock, U. Wagner, C. Rau. Opt. Lett., 39 (8), 2518 (2014). DOI: 10.1364/OL.39.002518
  103. H. Wang, S. Berujon, J. Sutter, S.G. Alcock, K. Sawhney. Proc. SPIE, 9206, 920608 (2014). DOI: 10.1117/12.2062828
  104. D. Cocco, M. Idir, D. Morton, L. Raimondi, M. Zangrando. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A, 907, 105 (2018). DOI: 10.1016/j.nima.2018.03.026
  105. O. Soloviev, G. Vdovin. Opt. Express, 13 (23), 9570 (2005). DOI: 10.1364/OPEX.13.009570
  106. A. Polo, V. Kutchoukov, F. Bociort, S.F. Pereira, H.P. Urbach. Opt. Express, 20 (7), 7822 (2012). DOI: 10.1364/OE.20.007822
  107. M. Rais, J.-M. Morel, C. Thiebaut, J.-M. Delvit, G. Facciolo. Appl. Оpt., 55 (28) 7836 (2016). DOI: 10.1364/AO.55.007836
  108. M. Aftab, H. Choi, R. Liang, D. Wook Kim. Opt. Express, 26 (26), 34428 (2018). DOI: 10.1364/OE.26.034428
  109. J. Susini, G. Marot, L. Zhang. Rev. Sci. Instrum., 63 (l), 489 (1992). DOI: 10.1063/1.1142740
  110. O. de La Rochefoucauld, G. Dovillaire, F. Harms, M. Idir, L. Huang, X. Levecq, M. Piponnier, P. Zeitoun. Sensors, 21 (3), 874 (2021). DOI: 10.3390/s21030874
  111. B.C. Platt, R. Shack. J. Refract. Surg., 17 (5), S573 (2001). DOI: 10.3928/1081-597X-20010901-13
  112. K.L. Baker, J. Brase, M. Kartz, S.S. Olivier, B. Sawvel, J. Tucker. Оpt. Lett., 28 (3), 149 (2003). DOI: 10.1364/ol.28.000149
  113. S.C. Mayo, B. Sexton. Opt. Lett., 29 (8), 866 (2004). DOI: 10.1364/ol.29.000866
  114. S. Reich, T. dos Santos Rolo, A. Letzel, T. Baumbach, A. Plech. Appl. Phys. Lett., 112, 151903 (2018). DOI: 10.1063/1.5022748
  115. H.F. Talbot. Phil. Mag. 9, 401 (1836)
  116. K. Banaszek, K. Wodkiewicz, W.P. Schleich. Opt. Express., 2 (5), 169 (1998). DOI: 10.1364/OE.2.000169
  117. T. Weitkamp, C. David, C. Kottler, O. Bunk, F. Pfeiffer. Proc. SPIE, 6318, 63180S (2006). DOI: 10.1117/12.683851
  118. Y. Kayser, C. David, U. Flechsig, J. Krempasky, V. Schlott, R. Abela. J. Synchrotron Rad., 24 (1), 150 (2017). DOI: 10.1107/S1600577516017562
  119. T. Weitkamp, B. Nohammer, A. Diaz, C. David, E. Ziegler. Appl. Phys. Lett., 86 (5), 054101 (2005). DOI: 10.1063/1.1857066
  120. A. Diaz, C. Mocuta, J. Stangl, M. Keplinger, T. Weitkamp, F. Pfeiffer, C. David, T.H. Metzger, G. Bauer. J. Synchrotron. Radiat., 17 (3), 299 (2010). DOI: 10.1107/S0909049510004644
  121. H. Wang, K. Sawhney, S. Berujon, E. Ziegler, S. Rutishauser, C. David. Opt. Express, 19 (17), 16550 (2011). DOI: 10.1364/OE.19.016550
  122. S. Rutishauser, L. Samoylova, J. Krzywinski, O. Bunk, J. Grunert, H. Sinn, M. Cammarata, D.M. Fritz, C. David. Nat. Commun., 3 (1), 947 (2012). DOI: 10.1038/ncomms1950
  123. W. Grizolli, X. Shi, L. Assoufid, L.G. Butler. AIP Conf. Proc., 2054 (1), 060017 (2019). DOI: 10.1063/1.5084648
  124. S. Zhao, Y. Yang, Y. Shen, G. Cheng, Y. Wang, Q. Wang, L. Zhang, K. Wang. Opt. Express, 29 (14), 22704 (2021). DOI: 10.1364/OE.430269
  125. M. Takeda, H. Ina, S Kobayashi. J. Opt. Soc. Am., 72 (1), 156 (1982). DOI: 10.1364/JOSA.72.000156
  126. T. Weitkamp, A. Diaz, B. Nohammer, F. Pfeiffer, M. Stampanoni, E. Ziegler, C. David. Proc. SPIE, 5533, 140 (2004). DOI: 10.1117/12.559695
  127. S. Yuan, K. Goldberg, V.V. Yashchuk, R. Celestre, W.R. McKinney, G. Morrison, J. Macdougall, I. Mochi, T. Warwick. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A, 635 (1), S58 (2011). DOI: 10.1016/J.NIMA.2010.09.120
  128. I. Zanette, T. Weitkamp, T. Donath, S. Rutishauser, Ch. David. Phys. Rev. Lett., 105 (24), 248102 (2010). DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.105.248102
  129. S. Rutishauser, I. Zanette, T. Weitkamp, T. Donath, C. David. Appl. Phys. Lett., 99 (22), 221104 (2011). DOI: 10.1063/1.3665063
  130. S. Berujon, E. Ziegler. Opt. Lett., 37 (21), 4464 (2012). DOI: 10.1364/OL.37.004464
  131. S. Matsuyama, H. Yokoyama, R. Fukui, Y. Kohmura, K. Tamasaku, M. Yabashi, W. Yashiro, A. Momose, T. Ishikawa, K. Yamauchi. Opt. Express, 20 (22), 24977 (2012). DOI: 10.1364/OE.20.024977
  132. D.J. Merthe, K.A. Goldberg, V.V. Yashchuk, W.R. McKinney, R. Celestre, I. Mochi, J. MacDougall, G.Y. Morrison, S.B. Rekawa, E. Anderson, B.V. Smith, E.E. Domning, H. Padmore. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A, 710, 82 (2013). DOI: 10.1016/j.nima.2012.10.105
  133. S. Marathe, X. Shi, A.M. Khounsary, M.J. Wojcik, N.G. Kujala, A.T. Macrander, L. Assoufid. Proc. SPIE, 9208, 92050D (2014). DOI: 10.1117/12.2062460
  134. K. Yamauchi, M. Yabashi, H. Ohashi, T. Koyamac, T. Ishikawa. J. Synchrotron Rad., 22 (3), 592 (2015). DOI: 10.1107/S1600577515005093
  135. M. Giglio, D. Brogioli, M.A.C. Potenza, A. Vailati. Phys. Chem. Chem. Phys., 6 (7), 1547 (2004). DOI: 10.1039/b314600f
  136. S. Berujon, E. Ziegler, R. Cerbino, L. Peverini. Phys. Rev. Lett., 108 (15), 158102 (2012). DOI: 10.1103/PhysRevLett.108.158102
  137. R. Cerbino, L. Peverini, M.A.C. Potenza, A. Robert, P. Bosecke, M. Giglio. Nat. Phys., 4 (3), 238 (2008). DOI: 10.1038/nphys837
  138. S. Berujon, H. Wang, K.J.S. Sawhney. J. Physics: Conf. Series, 425 (5), 052020 (2013). DOI: 10.1088/1742-6596/425/5/052020
  139. K. Sawhney, S. Alcock, J. Sutter, S. Berujon, H. Wang, R. Signorato. J. Physics: Conf. Series, 425 (5), 052026 (2013). DOI: 10.1088/1742-6596/425/5/052026
  140. S. Berujon, H. Wang, S. Alcock, K. Sawhney. Opt. Express, 22 (6), 6438 (2014). DOI: 10.1364/OE.22.006438
  141. H. Wang, Y. Kashyap, K. Sawhney. Opt. Express, 23 (18), 23310 (2015). DOI: 10.1364/OE.23.023310
  142. Y. Kashyap, H. Wang, K. Sawhney. Rev. Sci. Instrum., 87 (5), 052001 (2016). DOI: 10.1063/1.4949004
  143. H. Wang, T. Zhou, Y. Kashyap, K. Sawhney. Proc. SPIE, 10388, 103880I (2017). DOI: 10.1117/12.2274781
  144. L. Xue, H. Luo, Q. Diao, F. Yang, J. Wang, Z. Li. Sensors, 20 (22), 6660 (2020). DOI: 10.3390/s20226660
  145. S. Berujon, R. Cojocaru, P. Piault, R. Celestre, T. Roth, R. Barrett, E. Ziegler. J. Synchrotron Rad., 27 (2), 284 (2020). DOI: 10.1107/S1600577520000491
  146. B. Pan, K. Qian, H. Xie, A. Asundi. Meas. Sci. Technol., 20 (6), 062001 (2009). DOI: 10.1088/0957-0233/20/6/062001
  147. S. Berujon, H. Wang, I. Pape, K. Sawhney. Appl. Phys. Lett., 102 (15), 154105 (2013). DOI: 10.1063/1.4802729
  148. C. Kottler, C. David, F. Pfeiffer, O. Bunk. Opt. Express, 15 (3), 1175 (2007). DOI: 10.1364/oe.15.001175
  149. Y. Kashyap, Wang H., K. Sawhney. J. Synchrotron Rad., 23 (5), 1131 (2016). DOI: 10.1107/S1600577516012509
  150. T. Zhou, H. Wang, O. Fox, K. Sawhney. Opt. Express, 26 (21), 26961 (2018). DOI: 10.1364/OE.26.026961
  151. W.H. Southwell. J. Opt. Soc. Am., 70 (8), 998 (1980). DOI: 10.1364/JOSA.70.000998
  152. R.T. Frankot, R. Chellappa. IEEE Trans. Pattern Anal. Machine Intell. 10 (4), 439 (1988). DOI: 10.1109/34.3909
  153. S. Berujon, R. Cojocaru, P. Piault, R. Celestre, T. Roth, R. Barrett, E. Ziegler. J. Synchrotron Rad., 27 (2), 293 (2020). DOI: 10.1107/S1600577520000508
  154. F. Pfeiffer. Nat. Photonics, 12 (1), 9 (2018). DOI: 10.1038/s41566-017-0072-5
  155. A. Schropp, P. Boye, J.M. Feldkamp, R. Hoppe, J. Patommel, D. Samberg, S. Stephan, K. Giewekemeyer, R.N. Wilke, T. Salditt, J. Gulden, A.P. Mancuso, I.A. Vartanyants, E. Weckert, S. Schoder, M. Burghammer, C.G. Schroer. Appl. Phys. Lett., 96 (9), 091102 (2010). DOI: 10.1063/1.3332591
  156. C.M. Kewish, P. Thibault, M. Dierolf, O. Bunk, A. Menzel, J. Vila-Comamala, K. Jefimovs, F. Pfeiffer. Ultramicroscopy, 110 (4), 325 (2010). DOI: 10.1016/j.ultramic.2010.01.004
  157. S. Hoеnig, R. Hoppe, J. Patommel, A. Schropp, S. Stephan, S. Schoder, M. Burghammer, C.G. Schroer. Opt. Express, 19 (17), 16324 (2011). DOI: 10.1364/OE.19.016324
  158. P. Thibault, M. Dierolf, A. Menzel, O Bunk., C. David, F. Pfeiffer. Science, 321 (5887), 379 (2008). DOI: 10.1126/science.1158573
  159. P. Thibault, M. Dierolf, O. Bunk, A. Menzel, F. Pfeiffer. Ultramicroscopy, 109 (4), 338 (2009). DOI: 10.1016/j.ultramic.2008.12.011
  160. A.M. Maiden, J.M. Rodenburg. Ultramicroscopy, 109 (10), 1256 (2009). DOI: 10.1016/j.ultramic.2009.05.012
  161. E.T.B. Skj nsfjell, Y. Chushkin, F. Zontone, N. Patil, A. Gibaud, D.W. Breiby. Opt. Express, 24 (10), 10710 (2016). DOI: 10.1364/OE.24.010710
  162. K. Sawhney, H. Wang, J. Sutter, S. Alcock, S. Berujon. Synchrotron Rad. News, 26 (5), 17 (2013). DOI: 10.1080/08940886.2013.832586
  163. M. Idir, P. Mercere, M.H. Modi, G. Dovillaire, X. Levecq, S. Bucourt, L. Escolano, P. Sauvageot. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A, 616 (2--3), 162 (2010). DOI: 10.1016/j.nima.2009.10.168
  164. J. Susini, R. Baker, M. Krumrey, W. Schwegle, A. Kvick. Rev. Sci. Instrum., 66 (2), 2048 (1995). DOI: 10.1063/1.1145725
  165. E. Abruna, V.G. Badami, L. Huang, M. Idir. Proc. SPIE, 10761, 107610H (2018). DOI: 10.1117/12.2323698
  166. V.G. Badami, E. Abruna, L. Huang, M. Idir. Rev. Sci. Instrum., 90 (2), 021703 (2019). DOI: 10.1063/1.5060954
  167. А.Г. Полещук, В.Н. Хомутов, А.Е. Маточкин, Р.К. Насыров, В.В. Черкашин. Фотоника, (4), 38 (2016). [A.G. Poleshchuk, V.N. Khomutov, A.E. Matochkin, R.K. Nasyrov, V.V. Cherkashin. Photonics, (4), 38 (2016)]. DOI: 10.22184/1993-7296.2016.58.4.38.50
  168. F. Zamkotsian, P. Lanzoni, R. Barette, M. Helmbrecht, F. Marchis, A. Teichman. Micromachines, 8 (8), 233 (2017). DOI: 10.3390/mi8080233
  169. W. Grizolli, X. Shi, T. Kolodziej, Y. Shvyd'ko, L. Assoufid. Proc. SPIE, 10385, 1038502 (2017). DOI: 10.1117/12.2274023
  170. S.P. Kearney, L. Assoufid, W. Grizolli, T. Kolodziej, K. Lang, A. Macrander. Proc. MEDSI 2018 Conference, 394 (2018). DOI: 10.18429/JACoW-MEDSI2018-THPH27
  171. K.A. Goldberg, A. Wojdyla, D. Bryant, W. Chao, D. Cocco, C. Hardin, D. Morton, M.L. Ng, L. Lee, L. Assoufid, W. Grizolli, X. Shi, S.P. Kearney, M. Wojcik, Y. Shvyd'ko, D. Shu, M. Idir, L. Huang. Proc. SPIE, 11109, 111090C (2019). DOI: 10.1117/12.2530817
  172. S. Duan, J. Wu, J. Xia, W. Lei. Sensors, 20 (10), 2820 (2020). DOI: 10.3390/s20102820О65-22

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme