Оптика и спектроскопия
Авторам
Адаптивная и активная рентгеновская оптика
Переводная версия: 10.21883/EOS.2022.08.54773.65-21 
Лидер В.В.1
1Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, Москва, Россия 
Email: vallider@yandex.ru
Поступила в редакцию: 11 января 2022 г.
В окончательной редакции: 3 июня 2022 г.
Принята к печати: 3 июня 2022 г.
Выставление онлайн: 6 июля 2022 г.
Описаны принципы работы и возможности рентгеновской адаптивной и активной оптики. Рассмотрены основные исполнительные механизмы изгиба зеркал полного внешнего отражения, используемых на источниках синхротронного излучения и в рентгеновских телескопах. Особое внимание уделено метрологии волнового фронта с использованием датчиков Шака-Гартмана, а также датчиков на основе решетчатых интерферометров, рентгеновских спеклов и птихографии. Ключевые слова: рентгеновские лучи, адаптивная оптика, активная оптика, биморфное зеркало, волновой фронт, метрология.
- H.W. Babcock. Pub. Astr. Soc. Pac., 65 (386), 229 (1953). DOI: 10.1086/126606
- В.П. Линник. Опт. и спектр., 25 (4), 401 (1957)
- N. Woolf. In: IAU Colloq. 79: Very Large Telescopes, their Instrumentation and Programs (1984), р. 221
- R.N. Wilson, F. Franza, L. Noethe. J. Mod. Opt., 34 (4), 485 (1987). DOI: 10.1080/09500348714550501
- E.L. Church, P.Z. Takacs. Opt. Eng., 34 (2), 353 (1995). DOI: 10.1117/12.196057
- G.E. Ice, J.D. Budai, J.W.L. Pang. Science., 334 (6060), 1234 (2011). DOI: 10.1126/science.1202366
- M. Idir, L. Huang, N. Bouet, K. Kaznatcheev, M. Vescovi, K. Lauer, R. Conley, K. Rennie, J. Kahn, R. Nethery, L. Zhou. Rev. Sci. Instrum., 86 (10), 105120 (2015). DOI: 10.1063/1.4934806
- Y. Takei, T. Kume, H. Motoyama, K. Hiraguri, H. Hashizume, H. Mimura. Proc. SPIE, 8848, 88480C (2013). DOI: 10.1117/12.2023940
- D.J. Bell, T.J. Lu, N.A. Fleck, S.M. Spearing. J. Micromech. Microeng., 15 (7), S153 (2005). DOI: 10.1088/0960-1317/15/7/022
- M.R. Howells, D. Camble, R.M. Duarte, S Irick., A.A. MacDowell, H.A. Padmore, T.R. Renner, S. Rah, R. Sandler. Opt. Eng., 39 (10), 2748 (2000). DOI: 10.1117/1.1289879
- R. Barrett, R. Baker, P. Cloetens, Y. Dabin, C. Morawe, H. Suhonen, R. Tucoulou, A. Vivo, L. Zhang. Proc. SPIE., 8139, 813904 (2011). DOI: 10.1117/12.894735
- O. Hignette, G. Rostaing, P. Cloetens, A. Rormneveaux, W. Ludwig, A. Freund. Proc. SPIE., 4499, 105 (2001). DOI: 10.1117/12.450227
- L. Zhang, R. Baker, R. Barrett, P. Cloetens, Y. Dabin. AIP Conf. Proc., 1234, 801 (2010). DOI: 10.1063/1.3463335
- P. Eng, M. Newville, M.L. Rivers, S.R. Sutton. Proc. SPIE., 3449, 145 (1998). DOI: 10.1117/12.330342
- S.J. Chen, C.K. Kuan, S.Y. Perng, D.J. Wang, H.C. Ho, T.C. Tseng, Y.C. Lo, C.T. Chen. Opt. Eng., 43 (12), 3077 (2004). DOI: 10.1117/1.1813438
- J. Nicolas, C. Colldelram, C. Ruget, L. Ribo, P. Pedreira, P. de la Rubia, C. Marti n-Nuno, D. Ubeda, A. Tomas. Proc. SPIE, 9965, 996503 (2016). DOI: 10.1117/12.2239533
- I.T. Nistea, S.G. Alcock, P. Kristiansen, A. Young. J. Synchrotron Rad., 24 (3), 615 (2017). DOI: 10.1107/S1600577517005422
- D. Shu, A. Li, S.P. Kearney, C. Mao, J. Anton, R. Harder, X. Shi, T. Mooney, L. Assoufid. AIP Conf. Proc., 2054, 060015 (2019). DOI: 10.1063/1.5084646
- W. Liu, G.E. Ice, J.Z. Tischler, A. Khounsary, C. Liu, L. Assoufid, A.T. Macrander. Rev. Sci. Instrum., 76 (11), 113701 (2005). DOI: 10.1063/1.2125730
- H. Mimura, H. Yumoto, S. Matsuyama, Y. Sano, K. Yamamura, Y. Mori, M. Yabashi. Appl. Phys. Lett., 90 (5), 051903 (2007). DOI: 10.1063/1.2436469
- B. Park. Development of a Low Voltage and Large Stroke MEMS-based Lorentz Force Continuous Deformable Polymer Mirror System. Thesis (University of Manitoba, Winnipeg, MB, 2018)
- X. Lv, W. Wei, X. Mao, Y. Chen, J. Yang, F. Yang. Sensors and Actuators A: Physical, 221, 22 (2015). DOI: 10.1016/j.sna.2014.10.028
- S.A. Cornelissen, A.L. Hartzell, J.B. Stewart, T.G. Bifano, P.A. Bierden. Proc. SPIE, 7736, 77362D (2010). DOI: 10.1117/12.857296
- S. Cornelissen, P. Bierden, T. Bifano, V. Charlie, J. Lam. Micro/Nanolith. MEMS MOEMS, 8 (3), 031308, (2009). DOI: 10.1117/1.3158067
- W.-M. Zhang, H. Yan, Z.-K. Peng, G. Meng. Sensors and Actuators A: Physical., 214, 187 (2014). DOI: 10.1016/j.sna.2014.04.025
- H. Liu, J. Zhong, C. Lee, S.-W. Lee, L. Lin. Appl. Phys. Rev., 5 (4), 041306 (2018). DOI: 10.1063/1.5074184
- C.T. DeRoo, R. Allured, V. Cotroneo, E. Hertz, V. Marquez, P.B. Reid, E.D. Schwartz, A.A. Vikhlinin, S. Trolier-McKinstry, J. Walker, T.N. Jackson, T. Liu, M. Tendulkar. Proc. SPIE, 10399, 103991M (2017). DOI: 10.1117/1.JATIS.4.1.019004
- V.D. Kugel, Sanjay Chandran, L.E. Cross. Appl. Phys. Lett., 69 (14), 2021 (1996). DOI: 10.1063/1.116866
- E. Hong, S.V. Krishnaswamy, C.B. Freidhoff, S. Trolier-McKinstry. Mat. Res. Soc. Symp. Proc., 687, 316 (2002). DOI: 10.1557/PROC-687-B5.16
- Q.Q. Zhang, S.J. Gross, S. Tadigadapa, T.N. Jackson, F.T. Djuth, S. Trolier-McKinstry. Sens. Actuators A., 105 (1), 91 (2003). DOI: 10.1016/S0924-4247(03)00068-2
- J. Susini, D. Labergerie, L. Zhang. Rev. Sci. Instrum., 66 (2), 2229 (1995). DOI: 10.1063/1.1145715
- R. Signorato, O. Hignette, J. Goulon. J. Synchrotron Radiat., 5 (3), 797 (1998). DOI: 10.1107/S0909049597012843
- Q.-M. Wang, X.-H. Du, B. Xu, L.E. Cross. J. Appl. Phys., 85 (3), 1702 (1999). DOI: 10.1063/1.369314
- S.G. Alcock, I. Nistea, J.P. Sutter, K. Sawhney, J.-J. Ferme, C. Thellier, L. Peverini. J. Synchrotron Rad., 22 (1), 10 (2015). DOI: 10.1107/S1600577514020025
- J.P. Sutter, S.G. Alcock, Y. Kashyap, I. Nistea, H. Wang, K. Sawhney. J. Synchrotron Rad., 23 (6), 1333 (2016). DOI: 10.1107/S1600577516013308
- Y. Zang, M. Li, S. Tang, J. Gao, W. Zhang, P. Zhu. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A., 860 (1) 13 (2017). DOI: 10.1016/j.nima.2017.03.053
- В.В. Грибко, А.С. Маркелов, В.Н. Трушин, Е.В. Чупрунов. ПТЭ, 62 (5), 119 (2019). DOI: 10.1134/S0032816219040256 [V.V. Gribko, A.S. Markelov, V.N. Trushin, E.V. Chuprunov. Instruments and Experimental Techniques, 62, 703 (2019). DOI: 10.1134/S0020441219040183]
- H.A.S. Mohd, Z.A.M. Ahmad. Evolutions Mech. Eng., 2 (3), 000538 (2019). DOI: 10.31031/EME.2019.02.000538
- H. Jung, D.-G. Gweon. Rev. Sci. Instrum., 71 (4), 1896 (2000). DOI: 10.1063/1.1150559
- С.Е. Александров, Е.А. Лямина, Н.М. Туан. Прикладная механика и техническая физика, 55 (4), 152 (2014). [S.E. Alexandrov, E.A. Lyamina, N.M. Tuan. J. Appl. Mech. Tech. Phy., 55 (4) 682 (2014). DOI: 10.1134/S0021894414040142]
- L. Prandtl. Zangew. Math. Mech., 3, 401 (1923)
- А.Ю. Ишлинский, Д.Д. Ивлев. Математическая теория пластичности (Физматлит, М., 2001)
- M. Rakotondrabe, C. Clevy, P. Lutz. IEEE Trans. Control Syst. Technol., 7 (3), 440 (2010). DOI: 10.1109/TASE.2009.2028617
- S.G. Alcock, I.-T. Nistea, V.G. Badami, R. Signorato, K. Sawhney. Rev. Sci. Instrum., 90 (2), 021712 (2019). DOI: 10.1063/1.5060737
- J.D. French, R.B. Cass. Am. Ceram. Soc. Bull., 77 (5), 61 (1998)
- L.J. Nelson, C.R. Bowen. Key. Eng. Mater., 206--213, 1509 (2002). DOI: 10.4028/www.scientific.net/KEM.206-213.1509
- C.R. Bowen, R. Stevens, L.J.N.A.C. Dent, G. Dolman, B. Su, T.W. Button, M.G. Cain, M. Stewart. Smart Mater. Struct., 15 (2), 295 (2006). DOI: 10.1088/0964-1726/15/2/008
- M.P. Ulmer, X. Wang, J. Cao, S. Vaynman. Proc. SPIE, 8861, 88611R (2013). DOI: 10.1117/12.2024217
- M.P. Ulmer, X. Wang, P. Knapp, J.-L. Cao, Y. Cao, T. Karian, S. Grogans, M. Graham, S. Vaynman, Y. Yao. Proc. SPIE, 9208, 920808 (2014). DOI: 10.1117/12.2062008
- X. Wang, Y. Yao, J. Cao, S. Vaynman, M.E. Graham, T. Liu, M.P. Ulmer. Proc. SPIE, 9603, 96031O (2015). DOI: 10.1117/12.2187070
- A.K. Bastola, M. Hossain. Materials \& Design, 211, 110172 (2021). DOI: 10.1016/j.matdes.2021.110172
- A. Khounsary, W. Yun. Rev. Sci. Instrum., 67 (9), 3354 (1996). DOI: 10.1063/1.1147402
- D. Cocco, C. Hardin, D. Morton, L. Lee, M.L. Ng, L. Zhang, L. Assoufid, W. Grizolli, X. Shi, D.A. Walko, G. Cutler, K.A. Goldberg, A. Wojdyla, M. Idir, L. Huang, G. Dovillaire. Opt. Express, 28 (13), 19242 (2020). DOI: 10.1364/OE.394310
- L. Zhang, D. Cocco, N. Kelez, D.S. Morton, V. Srinivasan, P.M. Stefan. J. Synchrotron Rad., 22 (5), 1170 (2015). DOI: 10.1107/S1600577515013090
- D. Laundy, V. Dhamgaye, T. Moxham, K. Sawhney. Optica, 6 (12), 1484 (2019). DOI: 10.1364/OPTICA.6.001484
- B. Jenichen, R. Kohler, W. Mohling. J. Phys. E: Sci. Instrum., 21 (11), l062 (1988). DOI: 10.1088/0022-3735/21/11/012
- B. Jenichen, T. Wroblewski, R. Kohler. J. Phys. D: Appl. Phys., 28 (4А), A266 (1995). DOI: 10.1088/0022-3727/28/4A/052
- M. Popovici, W.B. Yelon. J. Appl. Cryst., 25 (4), 471 (1992). DOI: 10.1107/S0021889892000359
- S. Stoupin, Z. Liu, S.M. Heald, D. Brewe, M. Meron. J. Appl. Cryst., 48 (6), 1734 (2015). DOI: 10.1107/S1600576715017446
- F. Seiboth, A. Schropp, M. Scholz, F. Wittwer, C. Rodel, M. Wunsche, T. Ullsperger, S. Nolte, J. Rahomaki, K. Parfeniukas, S. Giakoumidis, U. Vogt, U. Wagner, C. Rau, U. Boesenberg, J. Garrevoet, G. Falkenberg, E.C. Galtier, H. Ja Lee, B. Nagler, C.G. Schroer. Nat. Commun., 8 (1), 14623 (2017). DOI: 10.1038/ncomms14623
- K. Sawhney, D. Laundy, V. Dhamgaye, I. Pape. Appl. Phys. Lett., 109 (5), 051904 (2016). DOI: 10.1063/1.4960593
- D. Laundy, V. Dhamgaye, I. Pape, K.J. Sawhney. Proc. SPIE, 10386, 103860B (2017). DOI: 10.1117/12.2275134
- T. Kimura, S. Handa, H. Mimura, H. Yumoto, D. Yamakawa, S. Matsuyama, K. Inagaki, Y. Sano, K. Tamasaku, Y. Nishino, M. Yabashi, T. Ishikawa, K. Yamauchi. Jpn. J. Appl. Phys., 48 (7), 072503 (2009). DOI: 10.1143/JJAP.48.072503
- H. Mimura, S. Handa, T. Kimura, H. Yumoto, D. Yamakawa, H. Yokoyama, S. Matsuyama, K. Inagaki, K. Yamamura, Y. Sano, K. Tamasaku, Y. Nishino, M. Yabashi, T. Ishikawa, K. Yamauchi. Nat. Phys., 6 (2), 122 (2010). DOI: 10.1038/nphys1501
- K. Yamauchi, H. Mimura, T. Kimura, H. Yumoto, S. Handa, S. Matsuyama, K. Arima, Y. Sano, K. Yamamura, K. Inagaki, H. Nakamori, J. Kim, K. Tamasaku, Y. Nishino, M. Yabashi, T. Ishikawa. J. Phys.: Condens. Matter, 23 (39), 394206 (2011). DOI: 10.1088/0953-8984/23/39/394206
- H. Mimura, T. Kimura, H. Yokoyama, H. Yumoto, S. Matsuyama, K. Tamasaku, Y. Koumura, M. Yabashi, T. Ishikawa, K. Yamauchi. AIP Conf. Proc., 1365, 13 (2011). DOI: 10.1063/1.3625294
- C.L. Hardin, V.N. Srinivasan, L. Amores, N.M. Kelez, D.S. Morton, P.M. Stefan, J. Nicolas, L. Zhang, D. Cocco. Proc. SPIE, 9965, 996505 (2016). DOI: 10.1117/12.2235825
- W.N. Davis, P.B. Reid, D.A. Schwartz. Proc. SPIE, 7803, 78030P (2010). DOI: 10.1117/12.862522
- K.J.S. Sawhney, S.G. Alcock, R. Signorato. Proc. SPIE, 7803, 780303 (2010). DOI: 10.1117/12.861593
- P. Mercere, M. Idir, G. Dovillaire, X. Levecq, S. Bucourt, L. Escolano, P. Sauvageot. Proc. SPIE, 7803, 780302 (2010). DOI: 10.1117/12.860990
- C. Svetina, D. Cocco, A. Di Cicco, C. Fava, S. Gerusina, R. Gobessi, N. Mahne, C. Masciovecchio, E. Principi, L. Raimondi, L. Rumiz, R. Sergo, G. Sostero, D. Spiga, M. Zangrando. Proc. SPIE, 8503, 850302 (2012). DOI: 10.1117/12.929701
- L.A. Poyneer, N.F. Brejnholt, R. Hill, J. Jackson, L. Hagler, R. Celestre, J. Feng. Rev. Sci. Instrum., 87 (5), 052003 (2016). DOI: 10.1063/1.4950739
- J.P. Sutter, P.A. Chater, R. Signorato, D.S. Keeble, M.R. Hillman, M.G. Tucker, S.G. Alcock, I.-T. Nistea, H. Wilhelm. Opt. Express, 27 (11), 16121 (2019). DOI: 10.1364/OE.27.016121
- S.G. Alcock, J.P. Sutter, K.J.S. Sawhney, D.R. Hall, K. McAuley, T. Sorensen. Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. A, 710, 87 (2013). DOI: 10.1016/j.nima.2012.10.135
- T. Goto, S. Matsuyama, H. Hayashi, H. Yamaguchi, J. Sonoyama, K. Akiyama, H. Nakamori, Y. Sano, Y. Kohmura, M. Yabashi, T. Ishikawa, K. Yamauchi. Opt. Express, 26 (13), 17477 (2018). DOI: 10.1364/OE.26.017477
- S. Matsuyama, H. Yamaguchi, T. Inoue, Y. Nishioka, J. Yamada, Y. Sano, Y. Kohmura, M. Yabashi, T. Ishikawa, K. Yamauchi. Opt. Express, 29 (10), 15604 (2021). DOI: 10.1364/OE.422723
- P. Kirkpatric, A.V. Baez. J. Opt. Soc. Am. 38 (9), 766 (1948). DOI: 10.1364/JOSA.38.000766
- M. Cianci, G. Bourenkov, G. Pompidor, I. Karpics, J. Kallio, I. Bento, M. Roessle, F. Cipriani, S. Fiedler, T.R. Schneider. J. Synchrotron Rad., 24 (1), 323 (2017). DOI: 10.1107/S1600577516016465
- T. Kimura, S. Matsuyama, K. Yamauchi, Y. Nishino. Opt. Express, 21 (8), 9267 (2013). DOI: 10.1364/OE.21.009267
- K.P. Singh. J. Opt., 40 (3) 88 (2011). DOI: 10.1007/s12596-011-0040-2
- A.-C. Probst, T. Dohring, M. Stollenwerk, M. Wen, L. Proserpio. Proc. SPIE, 10562, 105621E (2016). DOI: 10.1117/12.2296167
- E. Wille, M. Bavdaz. Acta Astronautica, 116 (9), 50 (2015). DOI: 10.1016/j.actaastro.2015.06.011
- R. Petre. X-ray Opt. Instru., 2010 (8), ID 412323 (2010). DOI: 10.1155/2010/412323
- A. Winter, E. Breunig, P. Friedrich, L. Proserpio. Proc. SPIE, 10563, 1056321 (2017). DOI: 10.1117/12.2304243
- V. Cotroneo, R. Allured, C.T. DeRoo, K.L. Gurski, V. Marquez, P.B. Reid, E.D. Schwartz. Proc. SPIE, 10399, 10399 (2017). DOI: 10.1117/12.2275738
- V. Navalkar, K.P. Singh, M. J. Press. Astrophys. Astron., 40 (3), 24 (2019). DOI: 10.1007/s12036-019-9592-3
- S.L. O'Dell, T.L. Aldcroft, C. Atkins, T.W. Button, V. Cotroneo, W.N. Davis, P. Doel, C.H. Feldman, M.D. Freeman, M.V. Gubarev, R.L. Johnson-Wilke, J.J. Kolodziejczak, C.F. Lillie, A.G. Michette, B.D. Ramsey, P.B. Reid, D. Rodriguez Sanmartin, T.T. Saha, D.A. Schwartz, S.E. Trolier-McKinstry, M.P. Ulmer, R.H.T. Wilke, R. Willingale, W.W. Zhang. Proc. SPIE., 8503, 850307 (2012). DOI: 10.1117/12.930090
- P.B. Reid, S.S. Murray, S. Trolier-McKinstry, M. Freeman, M. Juda, W. Podgorski, B. Ramsey, D. Schwartz. Proc. SPIE, 7011, 70110V (2008). DOI: 10.1117/12.789371
- W.W. Craig, C.J. Hailey, M. Jimenez-Garate, D.L. Windt. Opt. Express, 7 (4), 178 (2000). DOI: 10.1364/OE.7.000178
- M. Elvis, R.J. Brissenden, G. Fabbiano, D.A. Schwartz, P. Reid, W. Podgorski, M. Eisenhower, M. Juda, J. Phillips, L. Cohen, S. Wolk. Proc. SPIE, 6266, 62661K (2006). DOI: 10.1117/12.672072
- C. Feldman, R. Willingale, C. Atkins, H. Wang, P. Doel, D. Brooks, S. Thompson, T. Button, D. Zhang, D. Rodriguez Sanmartin, A. James, C. Theobald. Proc. SPIE, 7011, 70110Y (2008). DOI: 10.1117/12.788759
- P.B. Reid, T.L. Aldcroft, V. Cotroneo, W. Davis, R. Johnson-Wilke, L. McMuldroch, B.D. Ramsey, D.A. Schwartz, S. Trolier-McKinstry, A. Vikhlinin, H. Rudeger S., R.H.T. Wilke. Proc. SPIE, 8443, 84430T (2012). DOI: 10.1117/12.926930
- D. Spiga, M. Barbera, A. Collura, S. Basso, R. Candia, M. Civitani, M.S. Di Bella, G. Di Cicca, U. Lo Cicero, G. Lullo, C. Pelliciari, M. Riva, B. Salmaso, L. Sciortino, S. Varisco. J. Synchrotron Rad., 23 (1), 59 (2016). DOI: 10.1107/S1600577515017142
- C.T. DeRoo, R. Allured, V. Cotroneo, E.N. Hertz, V. Marquez, P.B. Reid, E.D. Schwartz, A.A. Vikhlinin, S. Trolier-McKinstry, J. Walker, T.N. Jackson, T. Liu, M. Tendulkar. J. Astron. Telesc. Instrum. Syst., 4 (1), 019004 (2018). DOI: 10.1117/1.JATIS.4.1.019004
- J. Walker, T. Liu, M. Tendulkar, D.N. Burrows, C.T. DeRoo, R. Allured, E.N. Hertz, V. Cotroneo, P.B. Reid, E.D. Schwartz, T.N. Jackson, S. Trolier-McKinstry. Opt. Express, 26 (21), 27757 (2018). DOI: 10.1364/OE.26.027757
- W.W. Zhang, K.D. Allgood, M.P. Biskach, K.-W. Chan, M. Hlinka, J.D. Kearney, J.R. Mazzarella, R.S. McClelland, Ai Numata, R.E. Riveros, T.T. Saha, P.M. Solly. Proc. SPIE, 11119, 1111907 (2019). DOI: 10.1117/12.2530284
- M.C. Weisskopf, J. Gaskin, H. Tananbaum, A. Vikhlinin. Proc. SPIE, 9510, 951002 (2015). DOI: 10.1117/12.2185084
- J.M. Roche, R.F. Elsner, B.D. Ramsey, S.L. O'Dell, J.J. Kolodziejczak, M.C. Weisskopf, M.V. Gubarev. Proc. SPIE, 9965, 99650I (2016). DOI: 10.1117/12.2238171
- D.A. Schwartz, R. Allured, J.A. Bookbinder, V. Cotroneo, W.R. Forman, M.D. Freeman, S. McMuldroch, P.B. Reid, H. Tananbaum, A.A. Vikhlinin, R.L. Johnson-Wilke, S.E. Trolier-McKinstry, R.H.T. Wilke, T.N. Jackson, J. Israel Ramirez, M.V. Gubarev, J.J. Kolodziejczak, S.L. O'Dell, B.D. Ramsey. Proc. SPIE, 9208, 920806 (2014). DOI: 10.1117/12.2063469
- R.L. Johnson-Wilke, R.H.T. Wilke, M.L. Wallace, J.I. Ramirez, Z. Prieskorn, J. Nikoleyczik, V. Cotroneo, R. Allured, D.A. Schwartz, S. McMuldroch, P.B. Reid, D.N. Burrows, T.N. Jackson, S. Trolier-McKinstry. Proc. SPIE, 9208, 920809 (2014). DOI: 10.1117/12.2063369
- H. Wang, J. Sutter, K. Sawhney. Opt. Express, 23(2), 1605 (2015). DOI: 10.1364/OE.23.001605
- H. Wang, K. Sawhney, S. Berujon, J. Sutter, S.G. Alcock, U. Wagner, C. Rau. Opt. Lett., 39 (8), 2518 (2014). DOI: 10.1364/OL.39.002518
- H. Wang, S. Berujon, J. Sutter, S.G. Alcock, K. Sawhney. Proc. SPIE, 9206, 920608 (2014). DOI: 10.1117/12.2062828
- D. Cocco, M. Idir, D. Morton, L. Raimondi, M. Zangrando. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A, 907, 105 (2018). DOI: 10.1016/j.nima.2018.03.026
- O. Soloviev, G. Vdovin. Opt. Express, 13 (23), 9570 (2005). DOI: 10.1364/OPEX.13.009570
- A. Polo, V. Kutchoukov, F. Bociort, S.F. Pereira, H.P. Urbach. Opt. Express, 20 (7), 7822 (2012). DOI: 10.1364/OE.20.007822
- M. Rais, J.-M. Morel, C. Thiebaut, J.-M. Delvit, G. Facciolo. Appl. Оpt., 55 (28) 7836 (2016). DOI: 10.1364/AO.55.007836
- M. Aftab, H. Choi, R. Liang, D. Wook Kim. Opt. Express, 26 (26), 34428 (2018). DOI: 10.1364/OE.26.034428
- J. Susini, G. Marot, L. Zhang. Rev. Sci. Instrum., 63 (l), 489 (1992). DOI: 10.1063/1.1142740
- O. de La Rochefoucauld, G. Dovillaire, F. Harms, M. Idir, L. Huang, X. Levecq, M. Piponnier, P. Zeitoun. Sensors, 21 (3), 874 (2021). DOI: 10.3390/s21030874
- B.C. Platt, R. Shack. J. Refract. Surg., 17 (5), S573 (2001). DOI: 10.3928/1081-597X-20010901-13
- K.L. Baker, J. Brase, M. Kartz, S.S. Olivier, B. Sawvel, J. Tucker. Оpt. Lett., 28 (3), 149 (2003). DOI: 10.1364/ol.28.000149
- S.C. Mayo, B. Sexton. Opt. Lett., 29 (8), 866 (2004). DOI: 10.1364/ol.29.000866
- S. Reich, T. dos Santos Rolo, A. Letzel, T. Baumbach, A. Plech. Appl. Phys. Lett., 112, 151903 (2018). DOI: 10.1063/1.5022748
- H.F. Talbot. Phil. Mag. 9, 401 (1836)
- K. Banaszek, K. Wodkiewicz, W.P. Schleich. Opt. Express., 2 (5), 169 (1998). DOI: 10.1364/OE.2.000169
- T. Weitkamp, C. David, C. Kottler, O. Bunk, F. Pfeiffer. Proc. SPIE, 6318, 63180S (2006). DOI: 10.1117/12.683851
- Y. Kayser, C. David, U. Flechsig, J. Krempasky, V. Schlott, R. Abela. J. Synchrotron Rad., 24 (1), 150 (2017). DOI: 10.1107/S1600577516017562
- T. Weitkamp, B. Nohammer, A. Diaz, C. David, E. Ziegler. Appl. Phys. Lett., 86 (5), 054101 (2005). DOI: 10.1063/1.1857066
- A. Diaz, C. Mocuta, J. Stangl, M. Keplinger, T. Weitkamp, F. Pfeiffer, C. David, T.H. Metzger, G. Bauer. J. Synchrotron. Radiat., 17 (3), 299 (2010). DOI: 10.1107/S0909049510004644
- H. Wang, K. Sawhney, S. Berujon, E. Ziegler, S. Rutishauser, C. David. Opt. Express, 19 (17), 16550 (2011). DOI: 10.1364/OE.19.016550
- S. Rutishauser, L. Samoylova, J. Krzywinski, O. Bunk, J. Grunert, H. Sinn, M. Cammarata, D.M. Fritz, C. David. Nat. Commun., 3 (1), 947 (2012). DOI: 10.1038/ncomms1950
- W. Grizolli, X. Shi, L. Assoufid, L.G. Butler. AIP Conf. Proc., 2054 (1), 060017 (2019). DOI: 10.1063/1.5084648
- S. Zhao, Y. Yang, Y. Shen, G. Cheng, Y. Wang, Q. Wang, L. Zhang, K. Wang. Opt. Express, 29 (14), 22704 (2021). DOI: 10.1364/OE.430269
- M. Takeda, H. Ina, S Kobayashi. J. Opt. Soc. Am., 72 (1), 156 (1982). DOI: 10.1364/JOSA.72.000156
- T. Weitkamp, A. Diaz, B. Nohammer, F. Pfeiffer, M. Stampanoni, E. Ziegler, C. David. Proc. SPIE, 5533, 140 (2004). DOI: 10.1117/12.559695
- S. Yuan, K. Goldberg, V.V. Yashchuk, R. Celestre, W.R. McKinney, G. Morrison, J. Macdougall, I. Mochi, T. Warwick. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A, 635 (1), S58 (2011). DOI: 10.1016/J.NIMA.2010.09.120
- I. Zanette, T. Weitkamp, T. Donath, S. Rutishauser, Ch. David. Phys. Rev. Lett., 105 (24), 248102 (2010). DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.105.248102
- S. Rutishauser, I. Zanette, T. Weitkamp, T. Donath, C. David. Appl. Phys. Lett., 99 (22), 221104 (2011). DOI: 10.1063/1.3665063
- S. Berujon, E. Ziegler. Opt. Lett., 37 (21), 4464 (2012). DOI: 10.1364/OL.37.004464
- S. Matsuyama, H. Yokoyama, R. Fukui, Y. Kohmura, K. Tamasaku, M. Yabashi, W. Yashiro, A. Momose, T. Ishikawa, K. Yamauchi. Opt. Express, 20 (22), 24977 (2012). DOI: 10.1364/OE.20.024977
- D.J. Merthe, K.A. Goldberg, V.V. Yashchuk, W.R. McKinney, R. Celestre, I. Mochi, J. MacDougall, G.Y. Morrison, S.B. Rekawa, E. Anderson, B.V. Smith, E.E. Domning, H. Padmore. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A, 710, 82 (2013). DOI: 10.1016/j.nima.2012.10.105
- S. Marathe, X. Shi, A.M. Khounsary, M.J. Wojcik, N.G. Kujala, A.T. Macrander, L. Assoufid. Proc. SPIE, 9208, 92050D (2014). DOI: 10.1117/12.2062460
- K. Yamauchi, M. Yabashi, H. Ohashi, T. Koyamac, T. Ishikawa. J. Synchrotron Rad., 22 (3), 592 (2015). DOI: 10.1107/S1600577515005093
- M. Giglio, D. Brogioli, M.A.C. Potenza, A. Vailati. Phys. Chem. Chem. Phys., 6 (7), 1547 (2004). DOI: 10.1039/b314600f
- S. Berujon, E. Ziegler, R. Cerbino, L. Peverini. Phys. Rev. Lett., 108 (15), 158102 (2012). DOI: 10.1103/PhysRevLett.108.158102
- R. Cerbino, L. Peverini, M.A.C. Potenza, A. Robert, P. Bosecke, M. Giglio. Nat. Phys., 4 (3), 238 (2008). DOI: 10.1038/nphys837
- S. Berujon, H. Wang, K.J.S. Sawhney. J. Physics: Conf. Series, 425 (5), 052020 (2013). DOI: 10.1088/1742-6596/425/5/052020
- K. Sawhney, S. Alcock, J. Sutter, S. Berujon, H. Wang, R. Signorato. J. Physics: Conf. Series, 425 (5), 052026 (2013). DOI: 10.1088/1742-6596/425/5/052026
- S. Berujon, H. Wang, S. Alcock, K. Sawhney. Opt. Express, 22 (6), 6438 (2014). DOI: 10.1364/OE.22.006438
- H. Wang, Y. Kashyap, K. Sawhney. Opt. Express, 23 (18), 23310 (2015). DOI: 10.1364/OE.23.023310
- Y. Kashyap, H. Wang, K. Sawhney. Rev. Sci. Instrum., 87 (5), 052001 (2016). DOI: 10.1063/1.4949004
- H. Wang, T. Zhou, Y. Kashyap, K. Sawhney. Proc. SPIE, 10388, 103880I (2017). DOI: 10.1117/12.2274781
- L. Xue, H. Luo, Q. Diao, F. Yang, J. Wang, Z. Li. Sensors, 20 (22), 6660 (2020). DOI: 10.3390/s20226660
- S. Berujon, R. Cojocaru, P. Piault, R. Celestre, T. Roth, R. Barrett, E. Ziegler. J. Synchrotron Rad., 27 (2), 284 (2020). DOI: 10.1107/S1600577520000491
- B. Pan, K. Qian, H. Xie, A. Asundi. Meas. Sci. Technol., 20 (6), 062001 (2009). DOI: 10.1088/0957-0233/20/6/062001
- S. Berujon, H. Wang, I. Pape, K. Sawhney. Appl. Phys. Lett., 102 (15), 154105 (2013). DOI: 10.1063/1.4802729
- C. Kottler, C. David, F. Pfeiffer, O. Bunk. Opt. Express, 15 (3), 1175 (2007). DOI: 10.1364/oe.15.001175
- Y. Kashyap, Wang H., K. Sawhney. J. Synchrotron Rad., 23 (5), 1131 (2016). DOI: 10.1107/S1600577516012509
- T. Zhou, H. Wang, O. Fox, K. Sawhney. Opt. Express, 26 (21), 26961 (2018). DOI: 10.1364/OE.26.026961
- W.H. Southwell. J. Opt. Soc. Am., 70 (8), 998 (1980). DOI: 10.1364/JOSA.70.000998
- R.T. Frankot, R. Chellappa. IEEE Trans. Pattern Anal. Machine Intell. 10 (4), 439 (1988). DOI: 10.1109/34.3909
- S. Berujon, R. Cojocaru, P. Piault, R. Celestre, T. Roth, R. Barrett, E. Ziegler. J. Synchrotron Rad., 27 (2), 293 (2020). DOI: 10.1107/S1600577520000508
- F. Pfeiffer. Nat. Photonics, 12 (1), 9 (2018). DOI: 10.1038/s41566-017-0072-5
- A. Schropp, P. Boye, J.M. Feldkamp, R. Hoppe, J. Patommel, D. Samberg, S. Stephan, K. Giewekemeyer, R.N. Wilke, T. Salditt, J. Gulden, A.P. Mancuso, I.A. Vartanyants, E. Weckert, S. Schoder, M. Burghammer, C.G. Schroer. Appl. Phys. Lett., 96 (9), 091102 (2010). DOI: 10.1063/1.3332591
- C.M. Kewish, P. Thibault, M. Dierolf, O. Bunk, A. Menzel, J. Vila-Comamala, K. Jefimovs, F. Pfeiffer. Ultramicroscopy, 110 (4), 325 (2010). DOI: 10.1016/j.ultramic.2010.01.004
- S. Hoеnig, R. Hoppe, J. Patommel, A. Schropp, S. Stephan, S. Schoder, M. Burghammer, C.G. Schroer. Opt. Express, 19 (17), 16324 (2011). DOI: 10.1364/OE.19.016324
- P. Thibault, M. Dierolf, A. Menzel, O Bunk., C. David, F. Pfeiffer. Science, 321 (5887), 379 (2008). DOI: 10.1126/science.1158573
- P. Thibault, M. Dierolf, O. Bunk, A. Menzel, F. Pfeiffer. Ultramicroscopy, 109 (4), 338 (2009). DOI: 10.1016/j.ultramic.2008.12.011
- A.M. Maiden, J.M. Rodenburg. Ultramicroscopy, 109 (10), 1256 (2009). DOI: 10.1016/j.ultramic.2009.05.012
- E.T.B. Skj nsfjell, Y. Chushkin, F. Zontone, N. Patil, A. Gibaud, D.W. Breiby. Opt. Express, 24 (10), 10710 (2016). DOI: 10.1364/OE.24.010710
- K. Sawhney, H. Wang, J. Sutter, S. Alcock, S. Berujon. Synchrotron Rad. News, 26 (5), 17 (2013). DOI: 10.1080/08940886.2013.832586
- M. Idir, P. Mercere, M.H. Modi, G. Dovillaire, X. Levecq, S. Bucourt, L. Escolano, P. Sauvageot. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A, 616 (2--3), 162 (2010). DOI: 10.1016/j.nima.2009.10.168
- J. Susini, R. Baker, M. Krumrey, W. Schwegle, A. Kvick. Rev. Sci. Instrum., 66 (2), 2048 (1995). DOI: 10.1063/1.1145725
- E. Abruna, V.G. Badami, L. Huang, M. Idir. Proc. SPIE, 10761, 107610H (2018). DOI: 10.1117/12.2323698
- V.G. Badami, E. Abruna, L. Huang, M. Idir. Rev. Sci. Instrum., 90 (2), 021703 (2019). DOI: 10.1063/1.5060954
- А.Г. Полещук, В.Н. Хомутов, А.Е. Маточкин, Р.К. Насыров, В.В. Черкашин. Фотоника, (4), 38 (2016). [A.G. Poleshchuk, V.N. Khomutov, A.E. Matochkin, R.K. Nasyrov, V.V. Cherkashin. Photonics, (4), 38 (2016)]. DOI: 10.22184/1993-7296.2016.58.4.38.50
- F. Zamkotsian, P. Lanzoni, R. Barette, M. Helmbrecht, F. Marchis, A. Teichman. Micromachines, 8 (8), 233 (2017). DOI: 10.3390/mi8080233
- W. Grizolli, X. Shi, T. Kolodziej, Y. Shvyd'ko, L. Assoufid. Proc. SPIE, 10385, 1038502 (2017). DOI: 10.1117/12.2274023
- S.P. Kearney, L. Assoufid, W. Grizolli, T. Kolodziej, K. Lang, A. Macrander. Proc. MEDSI 2018 Conference, 394 (2018). DOI: 10.18429/JACoW-MEDSI2018-THPH27
- K.A. Goldberg, A. Wojdyla, D. Bryant, W. Chao, D. Cocco, C. Hardin, D. Morton, M.L. Ng, L. Lee, L. Assoufid, W. Grizolli, X. Shi, S.P. Kearney, M. Wojcik, Y. Shvyd'ko, D. Shu, M. Idir, L. Huang. Proc. SPIE, 11109, 111090C (2019). DOI: 10.1117/12.2530817
- S. Duan, J. Wu, J. Xia, W. Lei. Sensors, 20 (10), 2820 (2020). DOI: 10.3390/s20102820О65-22
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
