Исследование оптических и плазмонных особенностей в спектрах отражения слоев наночастиц серебра, осажденных из раствора AgNO3 на поверхности кремния
Толмачев В.А.
1, Жарова Ю.А.
1, Грудинкин С.A.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: tva@mail.ioffe.ru, piliouguina@mail.ioffe.ru, grudink.gvg@mail.ioffe.ru
Выставление онлайн: 21 сентября 2020 г.
Для интерпретации спектров отражения слоев Ag на подложке кремния использован подход с применением расчета спектров отражения Rcalc тонкой пленки при варьировании толщины, в результате которого отслеживается влияние критических точек подложки с-Si в зоне Бриллюэна и формирование характеристик объемного Ag вблизи края межзонных переходов. Проведено сопоставление Rcalc с экспериментальными спектрами Rexp слоев наночастиц Ag различной морфологии, измеренных при нормальном и наклонном (45o) углах падения света. Для слоя с более крупными наночастицами наблюдается формирование резкого провала на спектре Rexp, практически совпадающего с краем межзонных переходов объемного Ag в УФ диапазоне, а также широкого провала в спектре Rexp с минимумом при λ = 382 nm, демонстрирующим максимум поглощения локализованного плазмонного резонанса наночастиц Ag. Для образцов с меньшими размерами частиц провал межзонных переходов на спектрах Rexp для обоих углов падения отсутствует, так как осажденные наночастицы Ag не сформировались в структуру с оптическими свойствами объемного Ag, но проявился объемный плазмонный резонанс при λ~ 335 nm в продольной моде при наклонном угле падения. Ключевые слова: кремний, наночастицы серебра, спектры отражения.
- Kreibig U., Vollmer M. Optical Properties of Metal Clusters. Berlin: Springer, 1995. 576 p
- Stefan A. Maier. Plasmonics: Fundamentals and Applications. N Y.: Springer Science+Business Media LLC, 2007. 223 p
- Климов В.В. Наноплазмоника. М.: Физматлит, 2009. 480 с
- Балыкин В.И // УФН. 2018. Т. 188. N 9. С. 935. doi 10.3367/UFNr.2017.09.038206
- Hilgerm A., Tenfeldeu M., Kreibig U. // App. Phys. B. 2001. V. 73. P. 361. doi 10.1007/s003400100712
- Кособукин В.А. // ФТТ. 2012. Т. 54. N 12. С. 2340
- Gladskikh P.V., Gladskikh I.A., Toropov N.A., Vartanyan T.A. // Proc. of SPIE. 2016. V. 9884. P. 98842Y. doi org/10.1117/12.2227597
- Jo de Vries A., Kooij E.S., Wormeester H., Mewe A.A., Poelsema B. // J. Appl. Phys. 2007. V. 101. P. 053703. doi 10.1063/1.2654234
- Marsillac S., Little S.A., Collins R.W. // Thin Solid Films. 2011. V. 519. P. 2936. doi 10.1016/j.tsf.2010.11.065
- Oates T.W.H., Wormeester H., Arwin H. // Progress in Surface Science. 2011. V. 86. P. 328. doi 10.1016/j.progsurf.2011.08.004
- Жарова Ю.А., Толмачев В.А., Бедная А.И., Павлов С.И. // ФТП. 2018. T. 52. N 3. P. 576
- Handbook of Optical Constants of Solids / Ed. by Palik E.D. N Y.: Academic Press, 1985. P. 804
- Aspnes D.E. // Thin Solid Films. 1982. V. 89. P. 249
- Doremus R. // Thin Solid Films. 1998. V. 326. P. 205
- MacAlister A.J., Stern E.A. // Phys. Rev. 1963. V. 132. N 4. P. 1599
- Yang H.U., D'rchangel J., Sundheimer M.L., Tucker E., Boreman Glenn D., Raschke M.B. // Phys. Rev. B. 2015. V. 91. P. 235137
- Leveque G., Olson C.G., Lynch D.W. // Phys. Rev. B. 1983. V. 24. P. 4654
- Winsemius P., van Kampen F.F., Lengkeek H.P., van Went C.G. // J. Phys. F: Met. Phys. 1976. V. 6. P. 1583
- Wang Y., Plummer E. W., Kempa K. // Advances in Physics. 2011. V. 60. P. 799
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
