Для интерпретации спектров отражения слоев Ag на подложке кремния использован подход с применением расчета спектров отражения R_calc тонкой пленки при варьировании толщины, в результате которого отслеживается влияние критических точек подложки с-Si в зоне Бриллюэна и формирование характеристик объемного Ag вблизи края межзонных переходов. Проведено сопоставление R_calc с экспериментальными спектрами R_exp слоев наночастиц Ag различной морфологии, измеренных при нормальном и наклонном (45^o) углах падения света. Для слоя с более крупными наночастицами наблюдается формирование резкого провала на спектре R_exp, практически совпадающего с краем межзонных переходов объемного Ag в УФ диапазоне, а также широкого провала в спектре R_exp с минимумом при λ = 382 nm, демонстрирующим максимум поглощения локализованного плазмонного резонанса наночастиц Ag. Для образцов с меньшими размерами частиц провал межзонных переходов на спектрах R_exp для обоих углов падения отсутствует, так как осажденные наночастицы Ag не сформировались в структуру с оптическими свойствами объемного Ag, но проявился объемный плазмонный резонанс при λ~ 335 nm в продольной моде при наклонном угле падения. Ключевые слова: кремний, наночастицы серебра, спектры отражения.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.