Вышедшие номера
Home » Оптика и спектроскопия » Год 2020, выпуск 5 » Статья стр. 597
<<<>>>
Влияние электрон-фононного взаимодействия на фотолюминесценцию оксида титана в ближней инфракрасной области
DOI: 10.21883/OS.2020.05.49315.239-19
Переводная версия: 10.1134/S0030400X20050057
Ministry of Science and Higher Education of the Russian Federation , 0004-2019-0002
Булярский С.В.1, Горелик В.С.2, Гусаров Г.Г.1, Коива Д.А.1, Лакалин А.В.1
1Институт нанотехнологий микроэлектроники Российской академии наук, Москва, Россия
2Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук, Москва, Россия
Email: bulyar2954@mail.ru, gorelik@sci.lebedev.ru, gusarov.g@inme-ras.ru, dkoiva616@gmail.com, a.v.lakalin@mail.ru
Выставление онлайн: 3 апреля 2020 г.
PDF версия
Исследован рекомбинационный центр Ti+3 - вакансия кислорода, который играет важную роль в процессах фотокатализа. При возбуждении оксида титана лазером с длиной волны 785 nm наблюдалась полоса фотолюминесценции с максимумом 1.236 eV. Данная полоса появляется после кристаллизации аморфной пленки диоксида титана в вакууме при температуре 650oC в течение 30 min. Форма полосы исследована методом моментов и определены параметры ее электрон-фононного взаимодействия: энергия чисто электронного перехода - 1.28 eV, фактор Хуанга и Риса - 2, величина тепловыделения 0.04 eV. Эти значения можно использовать для вычисления параметров кинетических коэффициентов электронных переходов в сильных электрических полях. Ключевые слова: диоксид титана, фотолюминесценция, вакансия кислорода, электрон-фононное взаимодействие.
  1. Tang H., Prasad K., Sanjin\`es R., Schmid P.E., Levy F. // J. Appl. Phys. 1994. V. 75. N 4. P. 2042--2047. doi 10.1063/1.356306
  2. Chao S., Wang W.H., Lee C.C. // Appl. Opt. 2001. V. 40. N 13. P. 2177--2182. doi 10.1364/AO.40.002177
  3. Yokogawa T., Yoshii S., Tsujimura A., Sasai Y., Merz J. // Jpn. J. Appl. Phys. 1995. V. 34. Part 2. N 6B. P. L751--L753. doi 10.1143/jjap.34.l751
  4. Fukuda H., Namioka S., Miura M., Ishikawa Y., Yoshino M., Nomura S. // Jpn. J. Appl. Phys. 1999. V. 38. Part 1. N 10. P. 6034--6038. doi 10.1143/JJAP.38.6034
  5. Campbell S.A., Gilmer D.C., Wang X.C., Hsieh M.T., Kim H.S., Gladfelter W.L., Yan J.H. // IEEE Trans. Electron Devices. 1997. V. 44. N 1. P. 104--109. doi 10.1109/16.554800
  6. Fujishima A., Honda K. // Nature. 1972. V. 238. P. 37--38. doi 10.1038/238037a0
  7. Mills A., Davies R.H., Worsley D. // Chem. Soc. Rev. 1993. V. 22. N 6. P. 417-25. doi 10.1039/CS9932200417
  8. Maness P.C., Smolinski S., Blake D.M., Huang Z., Wolfrum E.J., Jacoby W.A. // Appl. Environ. Microbiol. 1999. V. 65. N 9. P. 4094--4098. [Электронный ресурс] Режим доступа: https://aem.asm.org/content/aem/65/9/4094.full.pdf
  9. Paz Y., Luo Z., Rabenberg L., Heller A. // J. Mater. Res. 1995. V. 10. N 11. P. 2842--2848. doi 10.1557/JMR.1995.2842
  10. Poulios I., Spathis P., Grigoriadou A., Delidou K., Tsoumparis P. // J. Environ. Sci. Health Part A. 1999. V. 34. N 7. P. 1455--1471. doi 10.1080/10934529909376905
  11. O'Regan B., Gratzel M. // Nature. 1991. V. 353 P. 737--740. doi 10.1038/353737a0
  12. Xu Y., Yao K., Zhou X., Cao Q. // Sens. Actuators B: Chem. 1993. V. 14. N 1-3. P. 492--494. doi 10.1016/0925-4005(93)85061-E
  13. Phillips L.G., Barbano D.M. // J. Dairy Sci. 1997. V. 80. N 11. P. 2726--2731. doi 10.3168/jds.S0022-0302(97)76234-9
  14. Tryk D.A., Fujishima A., Honda K. // Electrochimica Acta. 2000. V. 45. N 15-16. P. 2363--2376. doi 10.1016/S0013-4686(00)00337-6
  15. Zhang D., Ma X., Zhang H., Liao Y., Xiang Q. // Materials Today Energy. 2018. V. 10. P. 132--140. doi 10.1016/j.mtener.2018.08.018
  16. Булярский С.В., Грушко Н.С., Жуков А.В. // ЖЭТФ. 1999. Т. 116. N 3 (9). С. 1027--1034. [Электронный ресурс]. Режим доступа: http://www.jetp.ac.ru/cgi-bin/dn/r\_116\_1027.pdf; Bulyarskii S.V., Grushko N.S., Zhukov A.V. // JETP. 1999. V. 89. N 3. P. 547--551. doi 10.1134/1.559013
  17. Булярский С.В., Грушко Н.С., Жуков А.В. // Опт. и спектр. 2000. Т. 88. N 3. С. 415--418; Bulyarskii S.V., Grushko N.S., Zhukov A.V. // Optics and Spectrosc. 2000. V. 88. N 3. P. 368--371. doi 10.1134/1.626822
  18. Swamy V. // Phys. Rev. B. 2008. V. 77. N 19. P. 195414--4. doi 10.1103/PhysRevB.77.195414
  19. Lax M. // J. Chem. Phys. 1952. V. 20. N 11. P. 1752--1760. doi 10.1063/1.1700283
  20. Ребане К.К., Пурга А.П., Сильд О.И., Хижняков В.В. // Труды ИФА АН ЭССР. 1961. Т. 14. С. 31--47
  21. Ребане К.К., Пурга А.П., Сильд О.И., Хижняков В.В. // Труды ИФА АН ЭССР. 1961. Т. 14. С. 48--75
  22. Булярский С.В., Радауцан C.И. // Докл. АН СССР. 1976. Т. 231. N 3. С. 372--376
  23. Булярский С.В. // Письма в  ЖТФ. 1976. Т. 2. N 4. С. 102--105
  24. Tang H., Berger H., Schmid P.E., Levy F., Burri G. // Sol. Status Commun. 1993. V. 87. N 9. P. 847--850. doi 10.1016/0038-1098(93)90427-O
  25. Гнеденко Б.В. Курс теории вероятностей. М.: Наука, 1988. 448 с.; Gnedenko B.V. Theory of Probability. Mir Publishers, 1988. 392 p
  26. Powell M.J.D. // Computer J. 1964. V. 7. N 2. P. 155--162. doi 10.1093/comjnl/7.2.155
  27. Химмельблау Д. Прикладное нелинейное программирование. М.: Мир, 1975. 534 с.; Himmelblau D.M. Applied Nonlinear Programming. McGraw-Hill, 1972. 498 p.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme