"Оптика и спектроскопия"
Издателям
Вышедшие номера
Влияние рентгеновского и УФ лазерного облучения на оптические свойства щелочносодержащих силикатных стекол
Переводная версия: 10.1134/S0030400X19090248
Министерства образования и науки Российской Федерации , 16.1651.2017/4.6
Сидоров А.И.1, Игнатьев А.И.1, Дубровин В.Д.1, Никоноров Н.В.1
1Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики (Университет ИТМО), Санкт-Петербург, Россия
Email: sidorov@oi.ifmo.ru
Выставление онлайн: 20 августа 2019 г.

Представлены результаты комплексного воздействия рентгеновского и ультрафиолетового (УФ) наносекундного лазерного излучения на щелочносодержащие силикатные стекла. Показано, что под действием рентгеновского излучения в стеклах возникают центры окраски, обладающие люминесцентными свойствами, что связано с увеличением концентрации структурных дефектов сетки стекла. Под действием лазерного излучения происходит разрушение этих дефектов, что сопровождается обесцвечиванием стекла и исчезновением люминесценции в облученных зонах. Исследованы динамика обесцвечивания стекла под действием лазерного излучения и влияние ионов щелочных металлов (Li, Na, K) на данный процесс. Предложены механизмы разрушения центров окраски лазерным излучением. Ключевые слова: силикатное стекло, поглощение, люминесценция, рентгеновское излучение, лазерное излучение, центры окраски. -19
  • Schreurs J.W. // J. Chem. Phys. 1967. V. 47. P. 818
  • Sheng J., Kadono K., Yazawa T. // Phys. and Chem. of Glasses-Europ. J. Glass Sci. and Technol. B. 2002. V. 43. P. 2594
  • Sheng J., Kadono K., Yazawa T. // Appl. Radiation and Isotopes. 2002. V. 56. P. 621
  • Mackey J.H., Smith H.L., Halperin A. // J. Phys. Chem. Solids. 1966. V. 27. P. 1759
  • Wua Y.J., Yang X., Zhang J. // Intern. J. Hydrogen Energ. 2009. V. 34. P. 1123
  • Suszynska M., Macalik B. // Nucl. Instr. and Meth. in Phys. Res. B. 2001. V. 179. P. 383
  • Skuja L. // J. Non-Cryst. Sol. 1998. V. 239. P. 16
  • Tsai H.-S., Chao D.-S., Wu Y.-H., He Y.-T., Chueh Y.-L., Liang J.H. // J. Nucl. Mater. 2014. V. 453. P. 233
  • Xinjie F., Lixin S., Jiacheng L. // J. Rare Earths. 2014. V. 32. P. 1037
  • Natura U., Ehrtl D. // Glastech. Ber. Glass Sci. Technol. 2001. V. 74. P. 23
  • Dmitryuk A.V., Paramzina S.E., Perminov A.S., Solov'eva N.D., Timofeev N.T. // J. Non-Cryst. Sol. 1996. V. 201. P. 173
  • Zatsepin A.F., Guseva V.B., Zatsepin D.A. // Glass Phys. and Chem. 2008. V. 34. N 6. P. 709
  • Vaccaro L., Cannas M., Radzig V., Boscaino R. // Phys. Rev. B. 2008. V. 78. ID 075421
  • Rodriguez J.A., Vasquez-Agustin M., Morales-Sanchez A., Aceves-Mijare M. // J. Nanomater. 2014. V. 2014. ID 409482
  • Sheng J., Kadono K., Yazawa T. // Appl. Radiation and Isotopes. 2002. V. 56. P. 621
  • Hirao K., Qio J., Shimizugawa Y. // Jpn. J. Appl. Phys. 1998. V. 37. P. 2259
  • Poirier G., Nalin M., Cescato L, Messaddeq Y., Ribeiro S. // J. Chem. Phys. 2006. V. 125. ID 161101
  • Dubrovin V.D., Ignatiev A.I., Nikonorov N.V., Sidorov A.I., Shakhverdov T.A., Agafonova D.S. // Opt. Mater. 2014. V. 36. P. 753
  • Klyukin D.A., Sidorov A.I., Ignatiev A.I., Nikonorov N.V. // Opt. Mater. 2014. V. 38. P. 233
  • Royon A., Bourhis K., Bellec M., Papon G., Bousquet B., Deshayes Y., Cardinal Th., Canioni L. // Adv. Mater. 2010. V. 22. P. 5282
  • Игнатьев А.И., Игнатьев Д.А., Никоноров Н.В., Сидоров А.И. // Опт. и спектр. 2015. Т. 119. N 2. С. 249
  • Murashov A.A., Sidorov A.I., Stolyarchuk M.V., Boiko M.E. // J. Non-Cryst. Sol. 2017. V. 477. P. 1-6
  • Murashov A.A., Sidorov A.I., Shakhverdov T.A., Stolyarchuk M.V. // Opt. Eng. 2017. V. 56. ID 117106
  • Karna S.P., Kurtz H.A., Shedd W.M., Pugh R.D., Singaraju B. // IEEE Transact. Nucl. Sci. 1999. V. 46. P. 1544
  • Defects in SiO-=SUB=-2-=/SUB=- and Related Dielectrics: Science and Technology. (NATO Science Series II. V. 2) / Ed. by Pacchioni G., Skuja L., Griscom D.L. Dordrecht: Kluwer, 2000
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.