Вышедшие номера
Home » Оптика и спектроскопия » Год 2019, выпуск 7 » Статья стр. 66
<<<>>>
Изотопно-селективное управление кластеризацией молекул SF6 и диссоциация ван-дер-ваальсовых кластеров (SF6)mArn ИК лазерным излучением
DOI: 10.21883/OS.2019.07.47932.85-19
Переводная версия: 10.1134/S0030400X19070026
Апатин В.М.1, Лохман В.Н.1, Макаров Г.Н.1, Малиновский А.Л.1, Петин А.Н.1,2, Огурок Н.-Д.Д.1, Пойдашев Д.Г.1, Рябов Е.А.1
1Институт спектроскопии РАН, Троицк, Москва, Россия
2Троицкий институт инновационных и термоядерных исследований, Троицк, Москва, Россия
Email: apatin@isan.troitsk.ru, gmakarov@isan.troitsk.ru
Выставление онлайн: 19 июня 2019 г.
PDF версия
Представлены результаты исследования взаимодействия молекул и кластеров SF6 в молекулярно-кластерном пучке с резонансным ИК лазерным излучением на различных этапах эволюции пучка вдоль оси его распространения. Пучок формировался в результате газодинамического расширении смеси SF6 с газом-носителем аргоном при истечении из импульсного сопла. Описываются экспериментальная установка и метод исследования. Показано, что селективное колебательное возбуждение молекул SF6 с выбранным изотопом серы СО2-лазером вблизи среза сопла приводит к подавлению кластеризации этих изотопных молекул. Селективное ИК возбуждение кластеров в условиях сформировавшегося кластерного пучка приводит к изотопно-селективной диссоциации кластеров. Приведены результаты измерения эффективности и селективности подавления кластеризации молекул, а также диссоциации кластеров в зависимости от условий эксперимента, в том числе при различных расстояниях зоны облучения частиц от среза сопла. Показано, что оба этих процесса позволяют достичь высоких значений селективности по изотопам серы 32S и 34S. В случае селективного предотвращения кластеризации молекул SF6 были получены значения селективности alpha≥ 25-30. При селективной диссоциации димеров (SF6)2 в аналогичных условиях истечения смеси были получены значения селективности alpha ≥ 20-25 для димеров 32SF632SF6 по отношению к димерам 34SF632SF6. Особое внимание уделено измерениям при сильном разбавлении SF6 в аргоне в условиях преимущественного образования смешанных кластеров типа (SF6)mArn. Обсуждены возможности использования исследуемых процессов в качестве основы технологии лазерного разделения изотопов. Ключевые слова: атомы, молекулы, кластеры, молекулярные и кластерные пучки, лазерная спектроскопия, индуцированные лазером селективные процессы в молекулах и кластерах, лазерное разделение изотопов. -19
  1. Макаров Г.Н. // УФН. 2015. T. 185. C. 717
  2. Eerkens J.W. // Nucl. Sci. Eng. 2005. V. 150. P. 1
  3. Eerkens J.W. // Laser and Particle Beams. 2005. V. 23(2). P. 225
  4. Макаров Г.Н., Петин А.Н. // ЖЭТФ. 2006. T. 130. C. 804
  5. Макаров Г.Н. // УФН. 2006. Т. 176. С. 1155
  6. Kim J., Eerkens J.W., Miller W.H. // Nucl. Sci. Eng. 2007. V. 156. P. 219
  7. Kim J. et al. // Transactions of the Korean Nuclear Society. Spring Meeting. Jeju, Korea, 2009
  8. Eerkens J.W., Kim J. // AIChE J. 2010. V. 56(9). P. 2331
  9. Макаров Г.Н., Петин А.Н. // Письма в ЖЭТФ. 2011. Т. 93. С. 123
  10. Lyakhov K.A., Lee H.J. // Appl. Phys. B. 2013. V. 111. P. 261
  11. Макаров Г.Н., Петин А.Н. // ЖЭТФ. 2014. Т. 146. С. 455
  12. Lyakhov K.A., Lee H.J. // J. Laser Appl. 2015. V. 27. 022008
  13. Lyakhov K.A., Lee H.J., Pechen A.N. // Separation and Purification Technology. 2017. V. 176. P. 402
  14. Bagratashvili V.N. et al. Multiple Photon Infrared Laser Photophysics and Photochemistry. Chur: Harwood Acad. Publ., 1985
  15. Multiple-Photon Excitation and Dissociation of Polyatomic Molecules. Topics in Current Physics. V. 35 / Ed. by Cantrell C.D. Berlin: Springer-Verlag, 1986
  16. Lyman J.L. // Laser Spectroscopy and its Applications. Optical Engineering, V. 11 / Ed. by Radziemski L.J., Solarz R.W., Raisner J.A. NY.: Marcel Dekker, 1987. P. 417
  17. Макаров Г.Н. // УФН. 2005. Т. 175. С. 41
  18. Баранов В.Ю. и др. // Сборник докладов 2-й Всероссийской науч. конф. "Физико-химические процессы при селекции атомов и молекул" / Под ред. Баранова В.Ю., Колесникова Ю.А. М.: ЦНИИатоминформ, 1997. С. 21
  19. Летохов В.С., Рябов Е.А. // Изотопы: свойства, получение, применение / Под ред. Баранова В.Ю. М., 2000. С. 329
  20. Баранов В.Ю., Дядькин А.П. // Изотопы: свойства, получение, применение / Под ред. Баранова В.Ю. М., 2000. С. 343
  21. Letokhov V.S., Ryabov E.A. // The Optics Encyclopedia. Basic Faundations and Practical Applications. V. 2 (G-L) / Ed. by Brown Th.G., Kreath K., Kogelnik H., Kriss M.A., Schmith J., Weber M.J. Wiley-VCH VerlagGmbH and Co. KGaA, 2004. P. 1015-1028
  22. Zellweger J.-M., Philippoz J.M., Melinon P., Monot R., van den Bergh H. // Phys. Rev. Lett. 1984. V. 52. P. 522
  23. Апатин В.М., Макаров Г.Н., Огурок Н.-Д.Д., Петин А.Н., Рябов Е.А. // ЖЭТФ. 2018. Т. 154. С. 287
  24. Макаров Г.Н., Огурок Н.-Д.Д., Петин А.Н. // КЭ. 2018. Т. 48. N 7. С. 667
  25. Апатин В.М., Лохман В.Н., Макаров Г.Н., Огурок Н.-Д.Д., Рябов Е.А. // ЖЭТФ. 2017. Т. 152. С. 627
  26. Апатин В.М., Лохман В.Н., Макаров Г.Н., Огурок Н.-Д.Д., Рябов Е.А. // КЭ. 2018. Т. 48. N 2. С. 157
  27. McDowell R.S., Krohn B.J., Flicker H., Vasquez M.C. // Spectrochim. Acta. A. 1986. V. 42. P. 351
  28. Geraedts J., Setiadi S., Stolte S., Reuss J. // Chem. Phys. Lett. 1981. V. 78. P. 277
  29. Geraedts J., Stolte S., Reuss J. // Z. Phys. A. 1982. V. 304. P. 167
  30. Geraedts J., Waayer M., Stolte S., Reuss J. // Faraday Discuss. Chem. Soc. 1982. V. 73. P. 375
  31. Melinon P., Monot R., Zellweger J.-M., van den Bergh H. // Chem. Phys. 1984. V. 84. P. 345
  32. Baldacchini G., Marchetti S., Montelatici V. // J. Mol. Spectrosc. 1982. V. 91. P. 80
  33. Jensen R.J., Marinuzzi J.G., Robinson C.P., Rockwood S.D. // Laser Focus. 1976. V. 12. P. 51
  34. Philippoz J.M., Calpini B., Monot R., van den Bergh H. // Ber. Bunsenges. Phys. Chem. 1985. V. 89. P. 281

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme