Вышедшие номера
Поляризационные измерения комбинационного рассеяния света в слоях кремния на сапфире
Переводная версия: 10.1134/S0030400X18070135
Иго А.В.1
1Ульяновский государственный университет, Ульяновск, Россия
Email: igoalexander@mail.ru
Выставление онлайн: 19 июня 2018 г.

Проведены измерения интенсивности поляризованных компонент комбинационного рассеяния света для различных кристаллографических направлений в эпитаксиальных слоях кремния на сапфире. Эксперимент показывает, что рассеянное излучение имеет значительную деполяризованную составляющую, которая напрямую связана с дефектностью эпитаксиального слоя. Для описания дефектного кристаллического слоя кремния на сапфире предложена модель ансамбля кристаллитов. Показано, что по отношению интенсивностей поляризованной и деполяризованной компонент можно определить характерную величину разупорядочения кристаллических доменов в эпитаксиальном слое. По измерениям интенсивности комбинационного рассеяния света в зависимости от кристаллографического направления определена анизотропия тензора комбинационного рассеяния света. Получены численные значения для двух образцов. -17