| Содержание | Предыдущая статья | Следующая статья | Поиск |
|---|
Изучение особенностей кристаллов ниобата лития вблизи доменных границ
Д.В.Иржак, Л.С.Коханчик, Д.В.Пунегов, Д.В.Рощупкин
Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской академии наук,
Черноголовка, Московская обл., Россия
E-mail: irzhak@ipmt-hpm.ac.ru
|
Представлены результаты исследования доменных границ в LiNbO методами рентгеновской топографии и дифрактометрии и растровой электронной микроскопии. Обнаружено, что область искажений кристаллической решетки вблизи доменных границ разного типа различна и достигает латеральных размеров от 100 до m. Характер и величина искажений существенным образом зависят от метода формирования доменной структуры. При облучении в растровом микроскопе область кристаллов шириной до m вблизи границ \glqq хвост-к-хвосту\grqq заряжается медленнее и в отличие от границ \glqq голова-к-голове\grqq в режиме вторичных электронов имеет динамическое зарядовое изображение. Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ (гранты N 07-02-00318-а и 06-02-16104-а). PACS: 61.72.up, 61.05.cp, 77.84.Dy |
| PDF версия (2.8Mb) | Другие выпуски | Другие журналы | Помощь |
|---|
| Copyright (C) 2009, Коллектив авторов Разработано... webmaster |