ФТТ, 2009, том 51, выпуск 4

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Влияние точечных дефектов на температурную зависимость
ширины линии поверхностного электронного состояния
на поверхности Au(111)

С.В.Еремеев, Е.В.Чулков\kern1pt*,**

Институт физики прочности и материаловедения Сибирского отделения Российской академии наук,
Томск, Россия
* Donostia International Physics Center (DIPC),
San Sebastian/Donostia, Spain
** Depto. de F'sica de Materiales, Facultad de Ciencias Qu'micas,
Universidad del Pa's Vasco/Euskal Herriko Unibertsitatea,
San Sebastian/Donosita, Spa'n
[0.8mm] E-mail: eremeev@ispms.tsc.ru

(Поступила в Редакцию 24 марта 2008 г.
В окончательной редакции 2 сентября 2008 г.)

Представлены результаты теоретического исследования электрон-фононного взаимодействия на поверхности Au(111). Показано, что учет температурно-активируемых точечных дефектов на поверхности позволяет согласовать измеренную температурную зависимость ширины линии поверхностного состояния с теоретическими результатами.

PACS: 73.20.-r, 63.20.kd, 61.72.J-

 PDF версия (1.7Mb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2009, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster