ФТТ, 2009, том 51, выпуск 1

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Тонкая спектроскопия динамики излучения гетеролазеров в присутствии ультразвуковой деформации

Л.А.Кулакова

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук,
Санкт-Петербург, Россия
E-mail: L.Kulakova@mail.ioffe.ru

(Поступила в Редакцию 8 апреля 2008 г.)

Получены экспериментальные данные динамики (в реальном масштабе времени) спектра излучения InGaAsP/InmP гетеролазеров, в том числе в присутствии переменной деформации. Рассчитана модель тонкого динамического анализа спектра. Проведено сравнительное исследование методов тонкого анализа спектра излучения гетеролазеров и показаны преимущества динамического метода для исследования ультразвукового воздействия на спектр излучения лазерных гетероструктур.

Работа выполнена при поддержке РФФИ (гранты N 04-02-16205 и 07-02-00557), Президиума РАН и Программы НШ-2628.2008.2.

PACS: 42.55.Px, 42.60.Fc, 42.62.Fi, 73.50.Rb, 78.20.Hp

 PDF версия (376Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2009, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster