ФТТ, 2008, том 50, выпуск 7

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Структурные параметры синтетических опалов:
статистический анализ данных электронной микроскопии

К.Б.Самусев, Г.Н.Юшин\kern1pt*, М.В.Рыбин, М.Ф.Лимонов

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук,
194021 Санкт-Петербург, Россия
* Georgia Institute of Technology, School of Materials Science and Engineering,
GA 30332-0245 Atlanta, USA
E-mail: M.Rybin@mail.ioffe.ru

(Поступила в Редакцию 22 ноября 2007 г.)

Выполнено детальное исследование статистических характеристик ансамбля частиц a-SiO2 в синтетических опалах. Приводятся результаты обработки изображений, полученных с помощью электронной микроскопии при изучении ростового слоя (111). Для вычисления статистических параметров разработан алгоритм, позволяющий определять диаметры частиц a-SiO2 и координаты их центров. Основу алгоритма составляет процедура распознавания объектов, границы которых обладают радиальной симметрией, с помощью преобразования исходного изображения, аналогичного преобразованию Хо (Hough). В результате проведенной обработки изображений определены структурные параметры ростового слоя (111): средний диаметр частиц ~316 nm, полуширина контура распределения ~7%, среднее расстояние между центрами соседних частиц ~315 nm. Результаты обработки изображений опалов сравниваются с данными оптических экспериментов.

Работа выполнена при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант N 08-02-00642).

PACS: 42.70.Qs, 42.25.Fx, 42.79.Fm

 PDF версия (765Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2008, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster