| Содержание | Предыдущая статья | Следующая статья | Поиск |
|---|
Электронно-микроскопическое изучение микротрещин в монокристаллическом TiAl
Л.Е.Карькина, О.А.Елкина, Л.И.Яковенкова
Институт физики металлов Уральского отделения Российской академии наук,
620219 Екатеринбург, Россия
E-mail: yakovenkova@imp.uran.ru
(Поступила в Редакцию 6 декабря 2006 г.)
|
Проведен электронно-микроскопический анализ микротрещин в сплаве TiAl, подвергнутом индентированию при комнатной температуре. Установлено, что микротрещины распространяются по плоскостям пирамиды и в полосах скольжения сверхдислокаций в плоскостях пирамиды и . Обнаружено, что формирование полосы скольжения в плоскости базиса в вершине микротрещины приводит к изменению характера ее распространения от прямолинейной к ступенчатой. Показана возможность зарождения микротрещины на линии пересечения плоскостей пирамиды и призмы . Работа поддержана грантом РФФИ N 04-02-17311. PACS: 61.72.Ff, 62.20.Mk |
| PDF версия (234Kb) | Другие выпуски | Другие журналы | Помощь |
|---|
| Copyright (C) 2007, Коллектив авторов Разработано... webmaster |