ФТТ, 2007, том 49, выпуск 6

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Влияние разогрева электронной подсистемы на термическую устойчивость фуллеренов C60, C20 и кластерной молекулы (C20)2

И.В.Давыдов

Московский инженерно-физический институт (Государственный университет),
115409 Москва, Россия
E-mail: div69@yandex.ru

(Поступила в Редакцию 28 июня 2006 г.
В окончательной редакции 22 ноября 2006 г.)

Теоретически изучено влияние разогрева электронной подсистемы на термическую устойчивость фуллеренов C60 и C20, а также кластерной молекулы (C20)2. Показано, что возбуждение электронов на верхние энергетические уровни в соответствии с функцией распределения Ферми--Дирака не приводит к существенному изменению величины энергии активации распада Ea фуллерена C20. Устойчивость фуллерена C60 и кластерной молекулы (C20)2 также принципиально не изменяется. В то же время учет поправок, связанных с конечными размерами теплового резервуара, приводит к значению Ea, которое лучше согласуется с результатами расчета высоты потенциального барьера, препятствующего распаду кластера.

Работа выполнена в рамках гранта CRDF \glqq НОЦ фундаментальных исследований материи в экстремальных состояниях\grqq.

PACS: 36.40.Qv, 61.48.+c, 71.15.Pd

 PDF версия (186Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2007, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster