| Содержание | Предыдущая статья | Следующая статья | Поиск |
|---|
Эффект больших доз в рентгеновских Si -эмиссионных спектрах при имплантации кремния ионами железа в стационарном режиме
Д.А.Зацепин, Э.З.Курмаев, И.Р.Шеин, В.М.Черкашенко, С.Н.Шамин, С.О.Чолах
Институт физики металлов Уральского отделения Российской академии наук,
620219 Екатеринбург, Россия
Институт химии твердого тела Уральского отделения Российской академии наук,
620219 Екатеринбург, Россия
Уральский государственный технический университет,
620002 Екатеринбург, Россия
E-mail: d
(Поступила в Редакцию 7 апреля 2006 г.)
|
Методом рентгеновской -эмиссионной спектроскопии (электронный переход ) исследован эффект больших доз (ЭБД) в образцах кремния с проводимостью - и -типа, имплантированных ионами в стационарном сканирующем режиме (энергия имплантации 100 keV, плотность ионного тока , дозы облучения от до ). Выполнен анализ -спектров посредством их сравнения со спектрами эталонов, проведено сопоставление с рентгеновскими спектральными данными по импульсной имплантации ионами , а также их моделирование методом молекулярной динамики и полнопотенциальным методом присоединенных плоских волн (FLAPW). В результате установлены особенности проявления ЭБД при стационарном режиме внедрения ионов в полупроводниковую кристаллическую матрицу, которые заключаются в более сильном разупорядочении структуры и частичной аморфизации образца от поверхности в объем по сравнению с импульсным ионным воздействием, однако рекристаллизация образца при достижении пороговой дозы облучения практически отсутствует. Обсуждаются наиболее вероятные причины и механизмы такого проявления ЭБД в исследованных образцах. Работа выполнена при поддержке проектов РФФИ (гранты N 05-02-16438 и 05-02-16448), гранта Минобразования --- CRDF: Annex BF4M05, EK-005-X2 [REC-005], BRHE 2004 post-doctoral fellowship award Y2-EP-05-11, а также Совета по грантам Президента РФ для ведущих научных школ (грант НШ-4192.2006.2). PACS: 71.20.Nr, 71.20.--b |
| PDF версия (411Kb) | Другие выпуски | Другие журналы | Помощь |
|---|
| Copyright (C) 2007, Коллектив авторов Разработано... webmaster |