ФТТ, 2006, том 48, выпуск 5

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Спектры отражения и оптические постоянные тонких квазикристаллических пленок Al--Cu--Fe в инфракрасной области

В.А.Яковлев, Н.Н.Новикова, Дж.Матеи\kern1pt*, А.А.Теплов\kern1pt**, Д.С.Шайтура\kern1pt**,
В.Г.Назин\kern1pt**, Г.В.Ласкова\kern1pt**, Е.Д.Ольшанский\kern1pt**, Д.И.Долгий\kern1pt**

Институт спектроскопии Российской академии наук,
142190 Троицк, Московская обл., Россия
* Istituto dei Sistemi Complessi ISC,
CNR, C.P. 10, I-00016 Monterotondo Sc. (RM), Italy
** Российский научный центр \glqq Курчатовский институт\grqq,
123182 Москва, Россия
E-mail: teplov@isssph.kiae.ru

(Поступила в Редакцию 10 марта 2005 г.
В окончательной редакции 31 августа 2005 г.)

Методом ИК-отражения в средней и дальней ИК-областях исследованы оптические свойства близких по составу квазикристаллических и для сравнения кристаллических пленок системы Al--Cu--Fe. Исследовались пленки толщиной 0.1-0.3 mum на сапфировых подложках. По экспериментальным данным рассчитана комплексная диэлектрическая проницаемость пленок. Обнаружено, что если для кристаллических пленок действительная часть диэлектрической проницаемости отрицательна, то для квазикристаллических пленок она положительна и слабо зависит от частоты, за исключением области вблизи 245 cm-1. Оптическая проводимость квазикристаллических пленок характеризуется отсутствием пика Друде, имеющегося в кристаллических пленках, и наличием пика при 245 cm-1, связанного, по-видимому, с возбуждением оптических фононов и отсутствующего в кристаллических пленках.

Работа выполнена в рамках государственного контракта N 02.434.11.2011.

PACS: 78.20.Ci, 78.66.Bz

 PDF версия (228Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2006, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster