ФТТ, 2004, том 46, выпуск 9

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Оже-спектроскопическое проявление корреляции электронов поверхности Ферми графита

С.С.Моливер

Ульяновский государственный университет,
432700 Ульяновск, Россия
E-mail: moliver@sv.uven.ru

(Поступила в Редакцию в окончательном виде 8 октября 2003 г.)

Показано, что в Оже-электронных спектрах трехмерного полуметаллического графита и двумерного графита (полупроводника с нулевой запрещенной зоной) должна наблюдаться энергетическая щель между порогами (краями) прямого и обратного процессов. В одноэлектронном приближении щель равна нулю, поскольку порог прямого Оже-спектра --- минимальная энергия дырок в валентной зоне, а порог обратного спектра --- минимальная энергия электронов проводимости. Учет электронной корреляции на поверхности Ферми в квантово-химическом приближении одной открытой оболочки для мультиплетных структур ограниченного метода Хартри-Фока позволил получить величину искомой щели 1.5 eV для 48-атомной циклической модели трехмерного графита и 2.0 eV для 24-атомной модели двумерного. Она не содержит значения энергии Ферми в отличие от дающих ее в сумме порогов Оже-спектров (1)/(2)(4.0 eV-varepsilonF) для прямого Оже-спектра (дырки) и (1)/(2)(-1.1 eV+varepsilonF) для обратного (электроны проводимости). Проведено сравнение с полученными экспериментально данными для прямых Оже-спектров трехмерного графита и показано, что модель и расчет согласуются с ними, в том числе и в выводе о малой величине электронной корреляции дырок верхних валентных зон при Оже-процессе.

Работа выполнена при поддержке Государственной научно-технической программы \glqq Управляемый синтез фуллеренов и других атомных кластеров\grqq.

 PDF версия (209Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2004, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster